分析機器・装置のカタログ一覧
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最終更新日：2011/07/09
半導体デバイスから実装機器、産業用洗浄装置、各種分析機器の販売等を行っている、JFE商事エレクトロニクス社の製品カタログです。
【掲載内容 ※詳しくはカタログをご覧ください。】 30年以上も前から導入実績のあるオイル清浄度分析の世界標準システム「液中微粒子計数器 HIAC System 8011」
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最終更新日：2011/07/11
ハンドヘルド型の気中パーティクルカウンター
HHPC-2およびHHPC-6は、発売開始以来日本国内で多くのユーザー様にご愛用頂いているモデルとなります。医薬品・半導体 製造工程・クリーンルームの清浄度管理、また飲料・食品工場の工程環境管理、病院…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/01/05
膜厚分布150万点を同時に測定・可視化！新膜厚分布測定装置
最大150万点の膜厚分布を短時間で測定できる膜厚分布測定装置です。イメージング分光器 ＩｍＳｐｅｃｔｏｒ（インスペクター）を用いて、測定対象表面の薄膜の分光スペクトルを「面」として一度に測定し、画素ご…（つづきを見る）
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最終更新日：2010/12/27
ポータブル型液中パーティクルカウンタ PODS
プラント潤滑油、タービン油、油圧作動油の清浄度測定に最適！ ポータブル式オイルパーティクルカウンターの決定版です。 【特 長】 ■バッチ式とオンライン式に対応 ■清浄度コード規格NAS16…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/12/20
液中パーティクルカウンターHIAC総合カタログ
HIAC液中微粒子計は光散乱・光遮断（遮へい）の原理を用いたセンサーを使用し、液中の粒子の大きさと個数を測定する装置です。 HIACは世界で初めて液体用微粒子計を製品化し、業界の牽引役として新しい用…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/03/31
コンパクトかつ高性能
小径レンズ（〜25mm）の透過波面測定装置であり、非常にコンパクトで場所を取りません。また、チルト補正機能を備えたX-Y軸ステージ、エンコーダー付ステップモータ（最小移動距離 0.002mm）を搭載す…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/01/05
近赤外波長レーザーダイオード及び近赤外用光学系の透過波面収差測定・品質検査に
近赤外領域（900nm～1700nm)波長用Shack-Hartmann方式波面センサーOMI-NIR
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最終更新日：2010/12/27
SH波面センサー OPAL300
小径レンズ（〜25mm）透過波面測定装置LENTINOの各種機能にチルト補正機能を備えた3個のX-Y軸ステージ、エンコーダー付ステップモータ（最小移動距離 0.002mm）、ダブルパス測定機能を追加す…（つづきを見る）
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最終更新日：2010/12/27
金属分析装置
SPECTROTESTはデジタル化プラズマ光源と高品質光学系、更に独自の解析プログラムで製造現場からラボまで幅広い用途に対応した直流アーク/スパーク放電励起金属発光分光分析システムです。 金属分析に…（つづきを見る）
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最終更新日：2010/12/27
XSORTカタログ
XSORTは最新ハンドヘルド式蛍光X線によるメタル分析装置です。 充電バッテリ式のプローブ本体にX線光源とSDD検出器をコンパクトに内蔵、どこにでも手軽に持ち運びできる小型設計です。 ■プロー…（つづきを見る）
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最終更新日：2010/12/27
エネルギー分散型分析装置カタログ
XEPOS「ゼポス」はスペクトロ社のX線分析技術を駆使し開発された最新のエネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 2次ターゲットにはモノクロ偏光光学系を採用、更にチッソ冷却不要の高性能SDD検出器を標…（つづきを見る）
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最終更新日：2010/12/27
液中パーティクルカウンター HIAC ChemShield
半導体やFPD製造においてウエットベンチや洗浄槽等の循環洗浄液の汚染コントロールは品質管理と歩留り向上に不可欠です。 Hach Ultra Analytics社が開発したChemShieldシステム…（つづきを見る）
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最終更新日：2006/04/13
デスクトップ型超音波探傷映像化装置
Ｄ-viewは研究所やオフィスのデスクで簡単にセットアップができる省スペース設計の超音波探傷映像化装置です。 高性能超音波探傷器「ＨＩＳ3」を搭載し、様々な分野の材料検査に適用可能です。
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最終更新日：2011/09/20
軽量・コンパクト！
本流量計は実量式です。 高分子ポリマー油にあります体積１ｍリットルのセルに計測しようとする気体が集まり、ちょうど１ｍリットルの体積まで満たされますと反転しもうひとつのセルに気体が集められます。 少…（つづきを見る）
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