イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）【パンフレット】

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基本情報イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）【パンフレット】

イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）

・落下衝撃試験等、一定周期で発生する機械的ストレスに対し、プリント基板等の導通経路で電気抵抗が高くなる、もしくはOPENとなる瞬間をモニタリングできるシステム。
・落下衝撃試験機等と組み合わせて使用されることを想定。

イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）

・落下衝撃試験等、一定周期で機械ストレスを印加するような試験において、ストレス周期毎に10msec間抵抗値データ集録（1μsec間隔で10000point）
・標準構成において最大16ch同時に集録・判定・保存が可能。
・瞬断検知と波形情報の取得を同時に実行。
・集録済みのリストデータ及び波形データについても、付属のViewerソフトにより分析可能。
・応力シミュレーションサービスのご提案も可能。（詳細を見る）

取扱会社イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）【パンフレット】

株式会社Wave Technology

半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計

公式サイト

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