最終更新日：2012/03/09
じぇいえふいーしょうじえれくとろにくすかぶしきがいしゃ かんきょうけいそくききえいぎょうぶ けいそくききえいぎょうしつ
JFE商事エレクトロニクス株式会社環境・計測機器営業部 計測機器営業室
業種：試験・分析・測定 所在地：東京都 千代田区 大手町2-7-1JFE商事ビル
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最終更新日：2011/09/22
半導体製造装置等の定期的な清掃作業後、チャンバーや構成部品などの迅速な清浄度管理に！
QIII Maxは真空装置のチャンバーなどの表面にある粒子（パーティクル）を手軽に測定する為の計測器です。ダミーウェーハ等を利用した従来のパーティクル管理方法と比較して、真空引きが不要な為、装置メンテ…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/01/05
近赤外波長レーザーダイオード及び近赤外用光学系の透過波面収差測定・品質検査に
近赤外領域（900nm～1700nm)波長用Shack-Hartmann方式波面センサーOMI-NIR
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最終更新日：2011/03/31
コンパクトかつ高性能
小径レンズ（〜25mm）の透過波面測定装置であり、非常にコンパクトで場所を取りません。また、チルト補正機能を備えたX-Y軸ステージ、エンコーダー付ステップモータ（最小移動距離 0.002mm）を搭載す…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/05/09
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最終更新日：2011/06/17
VOCの総量を現場で簡易迅速測定。ガスクロマトグラフィとの高相関。ワイドレンジ：数ｐｐｍから数千ｐｐｍ又はそれ以上。
大気中、水中、土壌中、シート・フイルム中のVOC測定が可能。【特長】簡単操作・スピード測定 1. 原理：干渉増幅反射法（IER 法） 2. 環境：大気中、土壌中、水中（*）、シート・フィルム中のVOC…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/06/17
ゴム製品、シート・フイルム、プラスチック樹脂中のVOC測定が可能。簡単迅速測定、スキル不要。
ゴム製品、シート・フイルム、プラスチック樹脂中のVOC測定が可能。【特長】簡単操作・スピード測定 1. 原理：干渉増幅反射法（IER 法） 2. 任意形状のVOC 測定が可能 3. 被測定物質：ほとん…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/06/17
ハンディタイプの主要な機能をそのまま受け継いだベーシックタイプのVOC簡易測定器。常時監視モニター。
大気中のVOC測定が可能。【特長】簡単操作・スピード測定 1. 原理：干渉増幅反射法（IER 法） 2. 環境：大気中の測定 3. 被測定物質：ほとんど全てのVOC を測定可能 4. 広い測定レンジ：…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/07/11
ハンドヘルド型の気中パーティクルカウンター
HHPC-2およびHHPC-6は、発売開始以来日本国内で多くのユーザー様にご愛用頂いているモデルとなります。医薬品・半導体 製造工程・クリーンルームの清浄度管理、また飲料・食品工場の工程環境管理、病院…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/07/09
半導体デバイスから実装機器、産業用洗浄装置、各種分析機器の販売等を行っている、JFE商事エレクトロニクス社の製品カタログです。
【掲載内容 ※詳しくはカタログをご覧ください。】 30年以上も前から導入実績のあるオイル清浄度分析の世界標準システム「液中微粒子計数器 HIAC System 8011」
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最終更新日：2011/07/09
半導体デバイスから実装機器、産業用洗浄装置、各種分析機器の販売等を行っている、JFE商事エレクトロニクス社の製品カタログです。
【掲載内容 ※詳しくはカタログをご覧ください。】 難しいスキル不要、 簡単操作でスピード測定が特徴のオー・エス・ピー ハンドヘルドVOCセンサー
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最終更新日：2012/03/21
-50℃から3,500℃までの広範囲をカバーし、豊富なアクセサリー群で厳しい環境下での温度測定を可能にします！
-50℃から3,500℃までの広範囲をカバーし、豊富なアクセサリー群で厳しい環境下での温度測定を可能にします！ Irconは、極度に過酷な環境下で高精度かつ信頼性の高い性能が出るように…（つづきを見る）
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最終更新日：2012/03/21
極度に過酷な環境でも高精度かつ高信頼性を保持する製品群。あらゆる範囲の品質管理と工程監視に対する広範なアプリケーションをご提供
Irconの製品群は、極度に過酷な環境でも高精度かつ高信頼性を保持する放射温度計、スキャナー、温度解析ソフトウェアから構成されています。全世界にある販売店とサービスセンターのネットワークを通じて、あら…（つづきを見る）
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最終更新日：2012/03/05
【小型軽量＆高精度】ウエハライク形状とワイヤレス技術で半導体プロセス装置調整の労力とコスト削減！
CyberOptics Semiconductor社のウエハセンス製品はウエハライク形状とワイヤレス技術によって高精度で再現性のある測定結果を数分で提供することが出来ます。 全ての製品はウエハライク…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/01/05
膜厚分布150万点を同時に測定・可視化！新膜厚分布測定装置
最大150万点の膜厚分布を短時間で測定できる膜厚分布測定装置です。イメージング分光器 ＩｍＳｐｅｃｔｏｒ（インスペクター）を用いて、測定対象表面の薄膜の分光スペクトルを「面」として一度に測定し、画素ご…（つづきを見る）
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最終更新日：2010/12/27
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