静電破壊試験器をはじめ、静電気放電の監視から対策まで、ESD・CDM・ラッチアップはLED・液晶・半導体の信頼性を支えます
弊社は1977年に設立以来、多くの有力企業の半導体、電子部品の開発に貢献してきました。高速・高圧技術を始めとした静電気に関するノウハウをベースに、アナログ信号を高精度に計測・解析する各種製品およびシステムの製造、販売を行なっています。
事業内容・ESD試験器
・CDM試験器
・LATCH-UP試験器
・TLP試験器
・DCテスタ
・ゲートリック(GL)テスタ
・超高速ACパラメータテスタ
・エレクトロ・マイグレーション試験装置
・dv/dtテスタ
・半導体メモリ・ソフトエラー評価装置
・オープン/ショートテスタ
・TLPテストシステム Model 4002/4012
・ウェーハ・プローブ Model 45001WP
・高速・高電圧パルス発生器 Model 632 (50ps/2.5kV)
・大電力用同軸機器
・GP-IB, RS-232, イーサネット制御スイッチ・モジュール
・PXIスイッチ・モジュール
・PXI計測モジュール
・VXIスイッチ・モジュール
・PCIスイッチ・モジュール
詳細情報
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