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精度の高い定電流パルス駆動での信頼性試験を実現！様々な形状のデバイスに対応可能
『高輝度LEDパルスエージング装置』は、スレイブユニットの 増設によりCH拡張が容易なエージング電源ユニットです。 駆動電流1～1000mAまでのダイナミックレンジを実現。 フルスケールを2…
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各社分光計測器の制御インターフェイスを標準装備
LEDの電気的・光学特性を測定し、任意のパラメーターで選別あるいは合否判定をする目的のテスター
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計測と制御をテーマに当社オリジナル商品から、システム装置及び構成までお受します
TFT 素子電流、電圧特性を測定する装置です
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計測と制御をテーマに当社オリジナル商品から、システム装置及び構成までお受します
光通信業界において発光レーザー素子及び受光素子の評価用電源や、試験検査装置の開発・設計を得意技術として確立してきております
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オプションを加える事で、反射型ディスプレイも測定可能
バタフライモジュールLDの電気、光学特性を自動計測
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オプションを加える事で、反射型ディスプレイも測定可能
フーリエ変換光学系、カラーフィルタと冷却CCDを組み合わせた視野角測定装 置
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フォトダイオードで輝度の相対的な減衰値をサンプリング
標準ユニットの組合せにより、4CH単位で増設可能なエージングシステム
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素子、材料評価の現場での高い評価のスタンダードモデル
有機EL素子の耐久寿命の自動計測を目的とした装置です
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お客様の目的に併せ、自動計測系をカスタムで構築いたします
有機ELデバイスの電気発光特性(IVL特性）を自動計測する装置です
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CCDカメラを搭載！
面発光レーザーVCSEL-LDのウェハ～チップをヒーターステージ上でプローブコンタクトし、I-L特性を計測する半自動装置
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ハイパワーLD I.V.L.λ.FFP自動計測装置/寿命評価装置
積分球とカロリーメーターを採用
寿命評価装置はハイパワーの長期通電を行い、耐久寿命を評価する装置です
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高速パルスI-Lテストシステム SEC-PL4000-800
高再現安定性
レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L 及びI-Vf 特性を測定する装置です
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両極性に対応する万能タイプのシステム
LDをCW～Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です
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卓上 CW I-LテスターSEC-4000BGPIB/USB
製品デバイスの出荷検査に最適
ペルチェステージの採用により、高い安定性の冷熱プレート上で、DFB-LD,FP-LD,ポンプレーザー等のバタフライモジュールLDの電気、光学特性を自動計測致します
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独自の冷熱システムを採用することにより高いスループットを実現
-40～90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います
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レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定！
本装置は、レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定するものです。 CWでは得る事のできないパルス変調でのI-Lのキンク特性を短パルス幅の領域まで測定可能としました。得られ…
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パソコンによる自動制御が可能！ペルチェ式温度制御装置
本装置は、ペルチェ式温度制御装置であり、ペルチェ素子を実装した治具と組み合わせ、プレート面を任意の温度に制御精度0.1℃にて制御し、温度試験等を行う装置です。 また、GP-IBの通信機能を有し、パ…
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