解析サービスの製品一覧

  • 資料『電磁界解析技術サービス』※無料進呈中 製品画像

    資料『電磁界解析技術サービス』※無料進呈中

    電磁界解析のスペシャリストが課題を解決 ~ソルバー開発から受託解析までサポート~

    サイエンスソリューションズでは,開発や製品化,製品トラブル時におけるお客様の課題を,電磁界解析技術サービスを通じでサポートします。 【お客様の課題例】  ・手持ちのソフトウェアでは解析できない…

    メーカー・取扱い企業: サイエンスソリューションズ株式会社

  • ヒートシンクの『熱設計/解析サービス』 ※ご利用の手引きを進呈中 製品画像

    ヒートシンクの『熱設計/解析サービス』 ※ご利用の手引きを進呈中

    業歴25年以上のザワードが、放熱問題の伴走者に!熱以外の項目にリソースが割ける!と技術者に好評の『熱設計/解析サービス』

    ザワードの『熱設計/解析サービス』は、熱問題に関するご相談から 熱解析、放熱器の設計までワンストップで行うサービスです。 ダウンロードデータは、当社が提供する『熱設計/熱解析サービス』について…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社ザワード

  • 液晶パネルの不良解析 製品画像

    液晶パネルの不良解析

    点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます!

    不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD解析 製品画像

    EBSD解析

    結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)法をご紹介いたします

    EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 超微⼩硬度計による材料評価 製品画像

    超微⼩硬度計による材料評価

    経年の品質管理にも役⽴つ!⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬度測定

    当社の「超微⼩硬度計による材料評価」では、⾦属・⾼分⼦・ プラスチック・セラミックス等の材料の超微⼩硬度測定を行えます。 また、硬さを数値化できるため、経年の品質管理にも役⽴ちます。 圧…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス 製品画像

    透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス

    ガラス、ITOなどの透明素材に!各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も可能

    当社では、透明素材(透明フィルム/シート、ガラス、ITOなど)の 『曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス』を行っております。 曇り度合いや光の拡散度合いを測定するヘーズメーター装置…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • EPMAによる状態分析 製品画像

    EPMAによる状態分析

    標準スペクトルと比較することで結合状態を推定!EPMAによる状態分析をご紹介

    EPMAによる状態分析では、酸化物やケイ酸塩の化学結合状態(イオン価、 結晶構造、配位数)の異なりから、特性X線ピーク波長に変化(シフトや波形)が 生じることを利用し、標準スペクトルと比較すること…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析 製品画像

    反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析

    試料に特殊な試薬を添加し、加熱することで通常では検出困難な物質の検出が可能になります!

    通常の熱分解GCMSでは試料を加熱し揮発した成分を検出しますが、加熱では 揮発しない成分や検出感度の低い成分の分析は困難です。そこで試料に特殊な 試薬を添加し、加熱することで通常では検出困難な物質…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • ICの不良解析 製品画像

    ICの不良解析

    不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応

    株式会社アイテスの『ICの不良解析』についてご紹介します。 当社では、ICに対して、不良モードに適した手法を組み合わせることで、 不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応致します。 …

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • EPMA分析 製品画像

    EPMA分析

    100×100mmサイズも対応!ステージ可動により広範囲のマッピングが可能

    『EPMA分析』は、エネルギー分解能や検出感度が良く、特に 微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています。 100×100mmサイズも対応でき、広範囲のマップが取得可能。 酸化インジウ…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 分析と化学反応機構で研究開発をアシストします! 製品画像

    分析と化学反応機構で研究開発をアシストします!

    開発の方向性の決定とスピードアップに繋がる!豊富な技術、知見、装置でご対応いたします

    研究開発において、分析や評価はチェックポイントとして欠かせない プロセスであり、その注目すべき対象には製品の構成材料が候補となる ことが多々あります。 アイテスは、保有する多種多様な機器分析…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワー半導体の解析サービス 製品画像

    パワー半導体の解析サービス

    故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします!

    株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 S…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • LCDパネル良品解析 製品画像

    LCDパネル良品解析

    LCD部品、製品の品質状態を確認!液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手法と知見で解析致します!

    アイテスでは、LCD部品/製品の良品解析を行っており、当社の持つLCDの 知見から製品の品質状態を確認いたします。 対象パネルは、SEG-LCD,AM-LCD(a-Si TFT/LTPS TF…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 静電破壊した橙色LEDの不良解析 製品画像

    静電破壊した橙色LEDの不良解析

    良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光解析事例をご紹介します!

    当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにするこ…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 海外製 液晶ディスプレイの良品解析 製品画像

    海外製 液晶ディスプレイの良品解析

    不具合が出れば詳細解析も!海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

    株式会社アイテスの液晶ディスプレイの良品解析についてご紹介します。 まず、外観観察としてセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶中の微量金属元素分析 製品画像

    液晶中の微量金属元素分析

    パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です!

    信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD法によるCu結晶解析 製品画像

    EBSD法によるCu結晶解析

    Cu板における圧縮前後での変化を観察!圧縮前後の結晶粒径の半化を比較できます

    EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみなら…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【SEMによる破断面観察】カニカン 製品画像

    【SEMによる破断面観察】カニカン

    長期の使用により破損したカニカンの破断面について観察を行いました!

    長期の使用により破損したカニカンの破断面について、SEMによる観察を 行いましたので紹介致します。 破断面端では、塑性変形の跡(ディンプル)が見られ、引っ張られて 破断したことが推測されまし…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 発光解析のための半導体の裏面研磨 製品画像

    発光解析のための半導体の裏面研磨

    様々な形態の半導体で裏面研磨が可能!素子、不具合の様子の観察が出来ます

    裏面OBIRCH/発光解析や裏面発光解析の前処理として各種形態のサンプルの 裏面研磨を行います。 これは、裏面から解析を行うため不可欠な前処理です。 裏面から解析することで、不良を保持したま…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • フレキシブル基板(FPC)のEBSD解析 製品画像

    フレキシブル基板(FPC)のEBSD解析

    屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介します!

    フレキシブル基板(FPC)のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • ウィスカ評価 製品画像

    ウィスカ評価

    検査員が逃さず観察!信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です

    鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生 する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • イオンクロマト分析 製品画像

    イオンクロマト分析

    固体試料は、イオン性成分を純水に溶出!水溶液中の微量なイオン性成分を高感度に検出可能です

    『イオンクロマト分析』は、水溶液中の微量なイオン性成分の 定性分析・定量分析が可能です。 イオン交換樹脂を充填したカラムを用いて分離を行い、電気伝導度を 測定することで、水溶液中の微量なイオ…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • LEDの故障解析 製品画像

    LEDの故障解析

    高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用!不点灯や輝度劣化の原因を調査

    当社の「LEDの故障解析」では、高度な試料作製技術と半導体用の 故障解析装置を応用し、LEDの故障解析を行い不点灯や輝度劣化の 原因を調査します。 「LED不良モードの切り分け」では、レンズ…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • SiCデバイスの裏面発光解析 製品画像

    SiCデバイスの裏面発光解析

    SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対応!

    当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるた…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 樹脂材料(半導体 LED用途)の分析 製品画像

    樹脂材料(半導体 LED用途)の分析

    樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能!

    株式会社アイテスでは、樹脂材料(半導体 LED用途)の分析を行っております。 MOSFET、ICといった半導体製品、LEDパッケージには、エポキシ樹脂や シリコーン樹脂といった 樹脂材料が多く…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 顕微ラマンによる金属腐食の分析 製品画像

    顕微ラマンによる金属腐食の分析

    金属酸化物などの無機化合物の分析も可能です!

    鉄の腐食過程は腐食の進み具合により種々の化合物が混在しており、同じ鉄の酸化物、水酸化物でも、価数や結晶構造の差異によってスペクトルが異なります。 ラマン分析により、ミクロンオーダーの微細な範囲で…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス 製品画像

    断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス

    さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します

    アイテスでは電子部品、実装基板、半導体、化合物半導体、パワーデバイス、 フィルム、樹脂成形品、太陽パネル、液晶ガラスなど さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します。 また作製した断面の…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 化学反応機構研究所材料劣化解析(PETの分解・劣化) 製品画像

    化学反応機構研究所材料劣化解析(PETの分解・劣化)

    ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案!

    株式会社アイテスでは、材料劣化解析を行っております。 ポリマー材料やサンプルの状態などに応じて適切な分析方法をご提案。 材料がどのような劣化過程を辿ったかを解析し、ポリマー材料や使用環境を…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • EELS分析手法による膜質評価 製品画像

    EELS分析手法による膜質評価

    元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

    当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 EELS分析とEDS分析は、TEM試料に加速した電子を照射することで 元素同定を行う分析手法です。 「異なるカーボン膜」の事…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD法による解析例 製品画像

    EBSD法による解析例

    EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹介します

    EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折 パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに 定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみなら…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始 製品画像

    Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

    最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応えいたします!

    こののたび当社では、MEMS加工サービス/MEMS ファウンドリサービスを開始いたしました。国内最大規模の8インチMEMSラインを有するオムロン 野洲事業所(滋賀県野洲市)にてウェハ工程の試作から量産…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • デジタルマイクロスコープによる外観観察 製品画像

    デジタルマイクロスコープによる外観観察

    不具合を的確に把握!広範囲の一括観察や部分拡大も可能で、様々な観察に対応します

    検査員の目視だけでは、見逃す形状を鮮明に観察することによって、 不具合を的確に把握することができます。 広範囲の一括観察や部分拡大も可能、様々な観察に対応いたします。 また、IPC-A-…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】液晶材料とその分析技術 製品画像

    【資料】液晶材料とその分析技術

    分子構造から解析する、アイテスの技術力を図や表とともにわかりやすく解説!

    当資料では、分子構造解析のための分析手法として一例をご紹介しています。 液晶高分子(LCP)をはじめ、IRによる構造解析やラマンによる構造解析、 GC-MS分析による低分子液晶(for LCD…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】熱脱着GC-MSによるポリマー中の添加剤不具合解析 製品画像

    【資料】熱脱着GC-MSによるポリマー中の添加剤不具合解析

    熱脱着GC-MS分析により感度良く分析する事が可能!不具合症状や目的に合わせた手法をご提案

    ポリマーには安定性や加工性を向上させる為に様々な添加剤が使用されていますが、 環境負荷や長期保管により添加剤成分がポリマー表面に析出したり、 添加剤そのものが化学変化を起こし変色や劣化の原因となる…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】ウィスカ観察 製品画像

    【資料】ウィスカ観察

    信頼性試験から観察、3次元測長まで支援!輸送リスクを排除したウィスカ評価の実施が可能

    鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する 金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウ…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 試料包埋時のエポキシ樹脂硬化温度について 製品画像

    試料包埋時のエポキシ樹脂硬化温度について

    大きめの実装基板でも、埋める前の切断なしで樹脂包埋が可能!発熱防止処理あり/なしの場合をご紹介

    エポキシ樹脂は透明度があり、収縮率も低く断面作製等を行う際に よく使われる樹脂ですが、熱硬化型の樹脂であるため、硬化の際には 発熱が伴います。 発熱温度は使用量や主剤と硬化剤の混合比率等によ…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 断面加工・観察方法の紹介 製品画像

    断面加工・観察方法の紹介

    機械研磨では広範囲の加工及び観察が可能!適切な加工、観察手法や組み合わせをご提案致します

    機械研磨及び機械研磨+イオンミリング処理による試料加工について紹介致します。 機械研磨は一般的で歴史の長い断面作製手法であり、広範囲で断面を 作製することが可能。また、イオンミリング処理と組み…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【観察事例】トグルスイッチのX線観察 製品画像

    【観察事例】トグルスイッチのX線観察

    内部の⾦属板がズレている様⼦を観察!X線透視観察・直交CT観察によるトグルスイッチの観察事例です

    実装前のトグルスイッチ部品において、操作レバーが切り換わらない 不具合品が見つかりました。 X線で透視観察を行った結果、内部の金属板がズレている様子が 観察され、不具合の原因が判明しました。…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • FIB-SEMによる半導体の拡散層観察 製品画像

    FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

    他手法より短納期!FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施できます!

    当社では、『FIB-SEMによる半導体の拡散層観察』を行っております。 FIB法による断面作製とSEM観察によって半導体の拡散層を可視化、 形状評価を行いました。 SEMのInlens …

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します! 製品画像

    電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します!

    過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装置で、熟練の技術集団がパワーデバイスを徹底評価・解析!

    アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察 製品画像

    LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

    SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です!

    当社では、LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察を 行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の 形状観察、さらにTEM…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】化学反応機構研究所 材料変色原因解明事例 製品画像

    【資料】化学反応機構研究所 材料変色原因解明事例

    素材ポリアミドイミドやIR装置による分析結果、データ解析などをを分かりやすく掲載!

    当資料は、コーティング剤、複合膜構成素材、各種成形品等に使用される スーパーエンプラポリアミドイミド(PAI)膜の変色原因を機器分析、 および反応機構により解明した事例をご紹介します。 素材…

    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【不良解析事例】ACアダプターのX線観察 製品画像

    【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

    非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効!不良解析事例をご紹介します

    ACアダプターのX線観察による不良解析事例をご紹介します。 出力が安定しないACアダプターをX線観察装置(YXLON社製Cheetah EVO) により観察したところ、断線部位が発見されました…

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    メーカー・取扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み 製品画像

    EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み

    「SEM像」や「吸収電流像(電流センス)」など!配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します

    当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 『EBAC(吸収電流)法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、…

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    【EBSDによる結晶解析】 アルミ溶接部(スポット溶接)

    溶接部は大きな結晶粒が多く分布していることが確認できた解析例をご紹介!

    EBSDの事例として、アルミの溶接断面を断面方向から分析を 行いましたので、ご紹介いたします。 アルミケースにアルミ板をスポット溶接したサンプルについて、 溶接部の断面を作製し、EBSD分析…

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