X線検査装置の製品一覧

特別ご奉仕品！1台限り！RoHS,ELV,など有害物質規制支援機器

X線照射とCCDカメラの連動により、光学顕微鏡による観察とX線分析装置による元素分析を融合。光学像を見ながら簡単に位置決めし、狙った箇所を正確に分析。有害元素検出に力を発揮する1.2mmと微小部分析用…（つづきを見る）

• ネクスレント株式会社

信頼性の高い『インライン全数検査』を実現！

BGA実装基板のはんだ接合検査を、自動で行うX線検査装置です。 インローダーから取り込まれた基板は、予め登録された検査ポイントへ移動し、 エリアごとに専用ソフト（当社オリジナル）で、BGAボイド、…（つづきを見る）

• ポニー工業株式会社

金属成分、RoHS、土砂中有害物質分析に最適なX線分析装置

現場での迅速な金属成分分析による裁量受入検査用途に導入が進んでいます。

• JFE商事エレクトロニクス株式会社 環境・計測機器営業部　計測機器営業室

手軽に洗浄液中の異物を分析！エネルギー分散型蛍光X線分析システム

XEPOS「ゼポス」はスペクトロ社のX線分析技術を駆使し開発された最新のエネルギー分散型蛍光X線分析装置です

• JFE商事エレクトロニクス株式会社 環境・計測機器営業部　計測機器営業室

小型設計で現場での使用用途に最適

現場での使用に最適な小型軽量設計。操作も簡単ですぐにお使い頂けます。

• JFE商事エレクトロニクス株式会社 環境・計測機器営業部　計測機器営業室

CIS/CIGS太陽電池の生産現場に特化した全自動インライン測定に他社に先行し実質的に世界で唯一対応！

CIS/CIGS系化合物半導体太陽電池を対象とした、オフライン・インラインとも対応可能な蛍光X線型膜厚測定装置

• アルテック株式会社

X線検査装置のマーケットリーダードイツ国phoenix|x-ray社製X線検査装置及びX線CT検査装置。

独自開発による焦点サイズ0.9μmの高出力（180kV）nanofocusR管を搭載し欠陥ゼロの検査を可能にします。

• アルテック株式会社

LabVIEW＋IMAQvision　画像処理例【X線画像解析】

LabVIEWを使用したテスター開発・開発効率を向上させる テスターのご提案はペリテック社にお任せ下さい！

• 株式会社ペリテック

めっき皮膜の厚さ、合金層における元素割合及び厚さ、材料分析を非接触且つ非常に狭いエリアを測定することができます。

DIN 50987及びISO 3497、ASTM B568に準ずる蛍光X線分析法に従って、あらゆるめっき皮膜の厚さ、合金層における元素割合及び厚さ、材料分析を非接触且つ非常に狭いエリアを測定することが…（つづきを見る）

• 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

0.2nm〜150nmまでのナノ構造研究が一台で可能なX線散乱装置

ナノ構造分析ツール！高輝度小角広角X線散乱装置　SAXSess ■□■特徴■□■ ■コンパクトデザインで高輝度、迅速・高効率なナノ構造評価を実現 ■0.2nm〜150nmの広大な空間ス…（つづきを見る）

• 株式会社アントンパール・ジャパン

材料分析と膜厚測定のための蛍光X線分析装置

FISCHER SCOPE XRAY XDALは、一体化された測定システムで定量元素分析と膜厚測定の両方を行える初めてのエネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 XDALは固体・粉末・ペースト状物…（つづきを見る）

• 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

銅上のニッケル膜厚測定に最適！　蛍光X線膜厚測定器

●銅上のニッケル膜厚測定に優れた蛍光X線膜厚測定器 ●半導体検出器を装備し、測定値再現性が向上！！ ●薄膜で微小部分の測定に優れております ●従来の比例計数管と同じレベルの時間で測定して…（つづきを見る）

• 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

膜厚測定と材料分析を行う測定機！　一般メッキからハイテク・エレクトロニクスにまで測定可能

◆測定方向は、上から下からです。これにより、検体の形状が複雑な場合でもX線の下で 　測定部位を簡単に位置決めできます。 ◆測定ヘッドに基準操作エレメントの付いた盤があります。 ◆50KVまで…（つづきを見る）

• 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

〜定評ある測定方法を組み込んだ新しい測定器〜

あらゆる電気めっき皮膜の膜厚のほか、合金皮膜と組成も測定します。このシステムはASTM B568、DIN 60 987、ISO 3497に従った蛍光X線分析法により、材料・流体分析も行います。

• 株式会社フィッシャー・インストルメンツ