X線検査装置の製品一覧
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最終更新日:2011/05/23
特別ご奉仕品!1台限り!RoHS,ELV,など有害物質規制支援機器
X線照射とCCDカメラの連動により、光学顕微鏡による観察とX線分析装置による元素分析を融合。光学像を見ながら簡単に位置決めし、狙った箇所を正確に分析。有害元素検出に力を発揮する1.2mmと微小部分析用…(つづきを見る)
価格帯 500万円以上 1000万円未満 納期 その他
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最終更新日:2010/03/04
金属成分、RoHS、土砂中有害物質分析に最適なX線分析装置
現場での迅速な金属成分分析による裁量受入検査用途に導入が進んでいます。
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最終更新日:2010/12/24
手軽に洗浄液中の異物を分析!エネルギー分散型蛍光X線分析システム
XEPOS「ゼポス」はスペクトロ社のX線分析技術を駆使し開発された最新のエネルギー分散型蛍光X線分析装置です
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最終更新日:2010/12/24
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最終更新日:2010/12/10
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最終更新日:2011/02/01
めっき皮膜の厚さ、合金層における元素割合及び厚さ、材料分析を非接触且つ非常に狭いエリアを測定することができます。
DIN 50987及びISO 3497、ASTM B568に準ずる蛍光X線分析法に従って、あらゆるめっき皮膜の厚さ、合金層における元素割合及び厚さ、材料分析を非接触且つ非常に狭いエリアを測定することが…(つづきを見る)
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最終更新日:2010/05/11
0.2nm〜150nmまでのナノ構造研究が一台で可能なX線散乱装置
ナノ構造分析ツール!高輝度小角広角X線散乱装置 SAXSess ■□■特徴■□■ ■コンパクトデザインで高輝度、迅速・高効率なナノ構造評価を実現 ■0.2nm〜150nmの広大な空間ス…(つづきを見る)
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最終更新日:2011/02/01
材料分析と膜厚測定のための蛍光X線分析装置
FISCHER SCOPE XRAY XDALは、一体化された測定システムで定量元素分析と膜厚測定の両方を行える初めてのエネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 XDALは固体・粉末・ペースト状物…(つづきを見る)
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最終更新日:2011/02/01
銅上のニッケル膜厚測定に最適! 蛍光X線膜厚測定器
●銅上のニッケル膜厚測定に優れた蛍光X線膜厚測定器 ●半導体検出器を装備し、測定値再現性が向上!! ●薄膜で微小部分の測定に優れております ●従来の比例計数管と同じレベルの時間で測定して…(つづきを見る)
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最終更新日:2010/10/01
膜厚測定と材料分析を行う測定機! 一般メッキからハイテク・エレクトロニクスにまで測定可能
◆測定方向は、上から下からです。これにより、検体の形状が複雑な場合でもX線の下で 測定部位を簡単に位置決めできます。 ◆測定ヘッドに基準操作エレメントの付いた盤があります。 ◆50KVまで…(つづきを見る)
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最終更新日:2011/02/01
〜定評ある測定方法を組み込んだ新しい測定器〜
あらゆる電気めっき皮膜の膜厚のほか、合金皮膜と組成も測定します。このシステムはASTM B568、DIN 60 987、ISO 3497に従った蛍光X線分析法により、材料・流体分析も行います。
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最終更新日:2009/10/07
合金鋼種検査専用 ハンディ型蛍光X線分析器
このα2000は、合金鋼種判定専用の蛍光X線分析器です。 大型部材なども非破壊で検査でき、熟練技術もいりません。 携帯型で小型軽量のため、どこへでも簡単に運んで検査できます。 測定時間も約10秒…(つづきを見る)
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