電子顕微鏡の製品一覧電子顕微鏡の製品一覧

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  • 最終更新日:2012/01/26

    先着500名さまに【QDJオリジナルグッズ】を配布!その他にも?!

    2012年2月15日(水)~17日(金)開催の『nano tech 2012 第11回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議』に出展決定!ナノバブル測定に欠かせないナノ粒子解析装置「NS500-Z」と…(つづきを見る

    価格帯その他 納期その他
    用途/実績例
    【ただいま無料招待上配布中!】 【詳しくはカタログダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください】
    業種
    飲食料品、繊維、紙・パルプ、化学、石油・石炭製品、ゴム製品、ガラス・土石製品、樹脂・プラスチック、産業用機械、機械要素・部品、産業用電気機器、電子部品・半導体、試験・分析・測定、エネルギー、医療機器、…(つづきを見る
  • 最終更新日:2012/01/25

    高価なCCD素子を用いたUSBマイクロスコープがナント20万円を切る価格で手に入る!

    超大特価!高性能CCDマイクロスコープを20万円を切る超低価格で販売開始!従来のCMOSを高価なCCD素子に変えたマイクロスコープを低価格でお届けします!CCDを採用することで、動いている対象物にひず…(つづきを見る

    価格帯10万円以上 50万円未満 納期その他
  • 最終更新日:2009/02/17

    SEM用 極高真空装置の製品画像です

    SEM用 極高真空装置

    ●特徴 本装置は細く絞った電子プローブで試料上を走査し、試料内部から発生する二次電子で結像させることにより表面形状観察をCRTで観察を行う電子検出形表面分析装置です。半導体の側長、検査装置、マスク描…(つづきを見る

  • 最終更新日:2010/09/24

    デバイス欠陥マーカーの製品画像です

    最小線幅1μmでデバイス欠陥位置にマーキング。 トリミングや微細電子回路のダイレクト加工が可能

    本機ではデバイス欠陥位置を最小線幅1μmでマーキングしFIBで正確な試料位置を切出す 事が可能です。専用のデバイス欠陥マーキングソフトを用意しオートプローバー等の検査装置 から得られるデバイス欠陥…(つづきを見る

  • 最終更新日:2010/11/18

    SEMの性能を回復しようの製品画像です

    SEMの性能が落ちる理由と回復方法を豊富なイラストで解説

    SEMをご自身でお使いになる方だけではなく、依頼写真の画質がもう少し良くなればとお感じになられている方も、ぜひご一読ください。

  • 最終更新日:2010/11/18

    超小型電子顕微鏡 VE-9800の製品画像です

    あらゆる試料の最表面を非蒸着で観察できる持ち運び可能なSEM

    リアル3Dシステム…高精度な3D像が観察工数の大幅削減と詳細な解析を実現 視差のある2枚の画像から数万ポイントの対応点を自動抽出。 拡大観察像の3D像構築に最適化された独自パラメータにより高速・高…(つづきを見る

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