- 干渉計システム／干渉計分析ソフトウェア
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- 最終更新日：2011/08/17
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- 干渉計システム／干渉計分析ソフトウェア
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- 高速計測の干渉計システム 信頼性の高い干渉計分析ソフトウェア
- 株式会社日本レーザー
- 米国ＥＳＤＩ社では、フィゾー干渉計において独自の同時フェーズ・シフト技術を開発し、計測の飛躍的な高速化に成功しました。これによって、光学パーツの表面形状（球面、非球面）や透過波面、また機械加工部品などの表面形状を、マイクロ秒〜秒オーダーの速さで計測することを実現し、さらに設置環境の振動の影響を受けずに計測する技術を確立しました。
- この製品 を
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干渉計システム／干渉計分析ソフトウェア 基本情報
米国ＥＳＤＩ社のシアリング干渉計は、１〜８ｍｍの小径ビームの波面とコリメーションのリアルタイムでの可視化を特徴としていて、点回折干渉計でも、リアルタイムでの波面計測を可能にする同時フェーズ・シフト技術を採用しています。
なお、フィゾー干渉計に付属する干渉分析ソフトウェア“Ｉｎｔｅｌｌｉｗａｖｅ”は、高速のデータ収集を特徴とし、インタフェログラム解析、波面解析に対して高度かつ豊富な機能を用意しています。中でも非球面レンズの解析では、サブナイキスト干渉方式を採用し、従来の大きな波面スロープの計測に対する限界を解消しています。
このソフトウェアは、他社製の従来のフェーズ・シフト方式の干渉計に対応させることも可能で、ソフトウェアのみの販売も行います。
| 価格 |
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|---|---|
| 価格帯 | その他 |
| 納期 |
※お問い合わせください |
| 発売日 | 取扱い中 |
| 型番・ブランド名 | Intelliumシリーズ |
| 用途／実績例 | 従来のフィゾー干渉計では困難であった大口径パーツの計測、プロセス装置への組み込みによるＩｎ−ｓｉｔｕ計測が実現できるようになり、光学分野だけでなく半導体ウェハの表面形状計測にも応用できます。 Ｉｎｔｅｌｌｉｕｍシリーズの代表的なラインナップは以下の通りです。 ●Ｉｎｔｅｌｌｉｕｍ Ｈ２０００ 同時フェーズ・シフト技術を搭載し、高速かつ振動に影響を受けないフィゾー干渉計 ●Ｉｎｔｅｌｌｉｕｍ Ａｓｐｈｅｒｅ 最速の非球面対応フィゾー干渉計 ●Ｉｎｔｅｌｌｉｕｍ ＳＢＳＩ シアリング干渉計、小径ビーム用波面アナライザー ●Ｉｎｔｅｌｌｉｕｍ ＰＤＩ 点回折干渉計、振動に強い自己参照型 |
| よく使用される業種 | 電子部品・半導体、試験・分析・測定、ソフトウェア、教育・研究機関 |
干渉計システム／干渉計分析ソフトウェア 取扱い会社
主として海外製品の輸入販売を行っています。取扱製品を大きく分類すると、次のような製品・技術に分類することができます【レーザー】 海外から、多種類の最先端レーザー製品を輸入し、あらゆる業種・用途に適応できるように多彩な製品群を用意し、お客様の目的や希望内容に沿えるように対応しています。 【アクセサリー】 レーザー周辺の機器も充実させています。光学部品や変調素子、ビームプロファイラー、パワーメーター、保護メガネをはじめ、多岐にわたるアクセサリーを提供しています。 【計測応用装置】 レーザー光を中心に、光を利用した工業計測・解析装置です。粒子径分布測定、流体のベクトル測定など、非接触測定による各種の最先端機器を用意しています。また、赤外カメラを始めとして、画像処理関連の機器・装置も扱っています。 【加工応用装置】 描画装置、切断、穴開け、抵抗体のトリミングから、溶接、半田付けなど、一般加工から半導体製造まであらゆるニーズに対応しています。
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