SHACK-HARTMANN方式透過波面センサー「LENTINO」

SHACK-HARTMANN方式透過波面センサー「LENTINO」の製品画像です
透過波面センサーシステム！！　あらゆる波長の光源が使用可能で、振動・埃に強い！

JFE商事エレクトロニクス株式会社

◆仕様：
・レンズ焦点比：ｆ/0.5〜ｆ/500
・計測可能レンズ径：3〜20mm
・マイクロレンズ仕様：200μmピッチ、fl:22mmもしくは11mm
・標準サンプル数：35×35
・最大サンプル数：65×65
・ゼルニケ多項式精度：λ/200
・波面計算精度：λ/150
・波長範囲：＜標準カメラ＞：0.375μm〜1.1μm
　　　　　　＜UVカメラ＞：0.15μm〜
　　　　　　＜NIRカメラ＞：〜2μm
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SHACK-HARTMANN方式透過波面センサー「LENTINO」　基本情報

●直径20mmまでのレンズの品質測定に特化した波面センサーです
●あらゆる波長の光源（近赤外〜紫外）が使用可能
●振動・埃に強い為、クリーンルーム等の特殊な測定環境が不要
●短時間での計測が可能

価格	-
価格帯	その他
納期	お問い合わせください
発売日	取扱い中
型番・ブランド名	SHACK-HARTMANN方式透過波面センサー「LENTINO」
用途／実績例	■単レンズ（球面、非球面）もしくは複合レンズの測定、複合レンズの調芯
よく使用される業種	産業用電気機器、電子部品・半導体、IT・情報通信、教育・研究機関、その他

SHACK-HARTMANN方式透過波面センサー「LENTINO」　取扱い会社

JFE商事エレクトロニクス株式会社環境・計測機器営業部　計測機器営業室詳細

システムLSIを含むASIC全般、高性能IC用ウェーハ・ファンドリー、放送機器用IC、メモリ、セキュリティ（センサー）関連ICなどの半導体製品及び、電子部品実装関連、デバイス関連、ディスプレイ関連装置、生産システム全体の提案からメンテナンス、業用洗浄設備、計測機器等。計測機器営業室では主に海外の最先端の計測器、分析装置、製造装置を取り扱っております。下記分野・用途への適用が可能です。＊微粒子に関するコンタミネーションコントロールのノウハウとソリューション — 領域は液中、真空中、大気中（表面汚染粒子）＊微量成分分析、ナノサイズの物質の形状・環境変化に応じた動態観察＊深紫外から中赤外まであらゆる波長の光源を使用した、レンズ、光学フィルター、ミラー、レーザビーム等の評価・品質管理　＊膜ムラ分布分析＊燃焼式排ガス処理　＊マイクロ波分解・合成調製　＊粘度、密度、粘弾性、ゼータ電位測定

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