東京電子交易株式会社 ゲート・リーク試験器 [GLテスタ]

高温下で高圧電界を発生させデバイスの誤動作を評価するGLテスタ、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠

高温下にあるICに高電界を加えると、ICのカタログ仕様に不適合の項目が発生する場合(例えばIcc、入力リーク、ACパラメータ、ファンクション特性)があります。これを電気熱誘導寄生ゲートリーク(GL)と言います。GLが発生したデバイスは"不良"とみなされますが、GL不良は通常125℃ 4時間(または150℃ 2時間)のベーキングで回復します。 本装置は、高温下で電界を発生させる装置で、AEC-Q100-006 REV-Cに準拠するGL試験を行います。手動試験のモデル 6900Mと、自動試験のモデル 6900Aがあります。

※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

基本情報ゲート・リーク試験器 [GLテスタ]

・高電圧電源 : 最大20KV
・デジタル電圧計 : 高圧プローブ
・針先 : タングステン加工
・サーマルチャンバー : 125℃又は150℃
・温度コントロール : リモート制御

※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。

価格帯 100万円 ~ 500万円
納期 お問い合わせください
※オプションにより変わります
型番・ブランド名 モデル6900 シリーズ
用途/実績例 ・AEC-Q100-006 REV-Cの要求試験

カタログゲート・リーク試験器 [GLテスタ]

取扱企業ゲート・リーク試験器 [GLテスタ]

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東京電子交易株式会社

・ESD試験器 ・CDM試験器 ・LATCH-UP試験器 ・TLP試験器 ・DCテスタ ・ゲートリック(GL)テスタ ・超高速ACパラメータテスタ ・エレクトロ・マイグレーション試験装置 ・dv/dtテスタ ・半導体メモリ・ソフトエラー評価装置 ・オープン/ショートテスタ ・TLPテストシステム Model 4002/4012 ・ウェーハ・プローブ Model 45001WP ・高速・高電圧パルス発生器 Model 632 (50ps/2.5kV) ・大電力用同軸機器 ・GP-IB, RS-232, イーサネット制御スイッチ・モジュール ・PXIスイッチ・モジュール ・PXI計測モジュール ・VXIスイッチ・モジュール ・PCIスイッチ・モジュール

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