Maxφ130mmまで対応可能なレーザー光斜入射干渉計 位相シフト法による画像解析
レーザー光斜入射干渉計による干渉縞を位相シフト法により画像解析することで、種々のサンプルをデジタル計測するものです。
半導体ウェーハ（GaN、SiC、サファイア）などの研究開発、量産ラインで品質向上のために活躍します。
基本情報斜入射干渉法フラットネステスター『FT-17』
【特長】
・ウェーハ（シリコン、化合物、酸化物、ガラス）、金属片、ディスク（アルミ、ガラス）、機械部品等のサンプル測定が可能
・多重干渉縞に対応した弊社独自の位相シフト解析
・透明体サンプル測定時の裏面干渉を軽減させる独自の干渉性調整機構を搭載
・お客様によるキャリブレーションが不要
・専用解析装置はオペレーションシステムWindows10に対応
・豊富なオプション群
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | FT-17 |
| 用途／実績例 | 半導体ウェーハ（GaN、SiC、サファイア）などの研究開発、量産ラインで品質向上に |
カタログ斜入射干渉法フラットネステスター『FT-17』
取扱企業斜入射干渉法フラットネステスター『FT-17』
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【事業内容】 (1)医療分野 眼科医向け手術装置／検査診断装置／電子カルテ・診療支援・ファイリングシステム／眼内レンズの設計、開発、製造、販売、修理、賃貸及び輸出入 (2)眼鏡機器分野 眼鏡店向け検眼機器／測定機器／加工機の設計、開発、製造、販売、修理、賃貸及び輸出入 (3)コーティング分野 眼鏡レンズ／光学部品／フィルターのコーティング加工、販売及び輸出入 (4)研究分野 人工視覚システムの開発
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