リチウム電池・燃料電池・触媒・錯体・高分子…構造・反応の本質を明らかにする
各種の材料・デバイスの構造・反応解析に用いられる
XAFS（Ｘ線吸収微細構造）とEELS（エネルギー損失分光法）
その利用法を詳解するとともに、測定・解析事例を集成。
基礎・原理から活用・実践までをわかりやすくまとめた1冊です。
基本情報【書籍】ＸＡＦＳ/ＥＥＬＳによる局所構造解析・状態分析技術
発刊 2014年9月29日 定価 55,000円 + 税
体裁 B5判ソフトカバー 240ページ ISBN 978-4-86502-071-7
執筆者一覧（敬称略）
●渡部 孝((株)コベルコ科研)
●一國 伸之(千葉大学)
●宮永 崇史(弘前大学)
●奥村 和(工学院大学)
●片山 真祥(立命館大学)
●稲田 康宏(立命館大学)
●木口 賢紀(東北大学)
●溝口 照康(東京大学)
●折笠 有基(京都大学)
●内本 喜晴(京都大学)
●山本 和生((一財)ファインセラミックスセンター)
●入山 恭寿(名古屋大学)
●平山 司((一財)ファインセラミックスセンター)
●岩澤 康裕(電気通信大学)
●森 利之((独)物質・材料研究機構)
●脇田 久伸(佐賀大学)
●岡島 敏浩((公財)佐賀県地域産業支援センター)
●堀内 伸((独)産業技術総合研究所)
●福森 健三((株)豊田中央研究所)
●大久保 貴広(岡山大学)
●吉田 朋子(名古屋大学)
●田中 庸裕(京都大学)
●大塚 祐二((株)東レリサーチセンター)
| 価格帯 | 1万円 ~ 10万円 |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳細はカタログをダウンロードしてご覧ください※ ＜XAFS／EELSによる測定・解析技術～基礎からテクニックまで～＞ ・X線・電子線を用いた局所構造解析・状態分析技術の変遷と現状は？ ●XAFS（Ｘ線吸収微細構造）…in situ測定・解析も ●EELS（エネルギー損失分光法）…(S)TEM-EELSを中心に ＜各種材料・デバイス向け事例＞ ●リチウム電池 ●燃料電池 ●高分子材料 ●錯体・CNT ●触媒 |
カタログ【書籍】ＸＡＦＳ/ＥＥＬＳによる局所構造解析・状態分析技術
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