走査型プローブ顕微鏡（SPM） プローブステーション NanoNavi II

走査型プローブ顕微鏡（SPM） プローブステーション NanoNavi II　基本情報

多様化する最新SPM技術に対応するため、操作性や計測機能を大幅に向上させた
ハイエンド仕様の次世代コントロールステーション

【特徴】
○高精度で客観的な粗さ評価が実現
○操作手順をフローチャート形式でナビゲートし、誰でも簡単に
　高分解能な表面観察を行うことが可能
○決め細やかなサポート機能
　・アクティブQ
　　 　真空中・液中などの環境下においても、高感度かつ高分解能な測定を実現
　・オートゲイン機能
　　 　常に21bit分解能で取り込み可能
　・高速長方形スキャン
　　 　測定用途に合わせてスキャン幅比率の変更を可能にし、
　　 　測定時間を最大90%短縮。大幅なスループット向上を実現
○探針評価機能搭載
○粗さJIS規格対応
○豊富なグラフィックス
○各種形状解析機能
　解析に必要な各種パラメータをご用意

●その他機能や詳細については、お問合わせ下さい。