「SLE-3700」は、高精度波形メモリー解析方式によるデジタルカメラ用のレンズシャッターテスターです。
閉じ動作検出点設定機能、バウンド検出機能を搭載しています。
本体部、投受光部セパレート型のコンパクト設計です。
絞り口径誤差測定ができます。
15回／秒の連写測定に対応します。
コンパクトデジタルカメラ用レンズシャッターの精度測定にお使いいただけます。
【特徴】
○高精度波形メモリー解析方式
○レンズシャッターテスター
○本体部、投受光部セパレート型のコンパクト設計
○閉じ動作検出点設定機能
○バウンド検出機能
○絞り口径誤差測定
○ＩＲＩＳ（絞り口径測定）モード
○15回／秒の連写測定対応
●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
基本情報レンズシャッターテスター「SLE-3700」
【仕様】
○高精度波形メモリー解析方式
○被測定物 ：デジタルカメラ用レンズシャッター
○測定項目
・全開時間（T1）
・全閉時間（T2）
・露光時間（TE）
・AV値（Av）
・F値、EVの誤差（ΔEV）
○Ｔ2閉じ動作検出点
・0-100％
・5-95％
・10-90％
・15-85％
・20-80％
○測定有効絞り口径：φ14.0～φ1.0
○測定範囲
・EV ：±4EV
・AV値 ：1～11AV
・露光時間 ：1/30～1/4,000s
○測定精度
・時間 ：±15μs
・AV値 ：±0.05EV
・EV ：±0.05EV
・IRISモード時 ：±0.03EV
○電源 ：AC100～240V（50Hz/60Hz）・90VA
○外形寸法
・操作部 ：130(W)×127(H)×286(D)mm・5kg
・投受光部 ： 90(W)×169(H)×304(D)mm・2kg
●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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| 型番・ブランド名 | SLE-3700 |
| 用途／実績例 | ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 |
カタログレンズシャッターテスター「SLE-3700」
取扱企業レンズシャッターテスター「SLE-3700」
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