「位相」がつけられた製品一覧
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最終更新日:2012/03/30
電磁ノイズの発生源をどこまで特定できますか。
1.世界唯一! 近傍電界・磁界の同時検出、連続測定を実現 (EMV-200) 2.高感度・高分解能測定が可能 3.プローブ回転による配線方向によらない磁界測定の実現 4.多機能な測定結果表示 …(つづきを見る)
価格帯 その他 納期 その他 - 用途/実績例
- EMIテスタは、電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を高精度に自動測定します。 高精度可動テーブルは、PCBやIC等に複雑な凸凹があっても、その形状を自動的にトレースし、高感度に測定します。 …(つづきを見る)
- 業種
- 樹脂・プラスチック、産業用電気機器、電子部品・半導体、試験・分析・測定、IT・情報通信
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最終更新日:2011/07/22
ビデオプローブ初の3D計測誕生!! 検査中に先端の計測用光学アダプタに交換することなく、3D計測が可能。
立体部位の3D計測を実現し、これまで平面に限られていた工業用内視鏡計測の可能性を広げるとともに、様々なアプリケーションへの適用を可能にする、3Dフェーズ(位相)計測
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最終更新日:2011/08/17
高速計測の干渉計システム 信頼性の高い干渉計分析ソフトウェア
米国ESDI社では、フィゾー干渉計において独自の同時フェーズ・シフト技術を開発し、計測の飛躍的な高速化に成功しました。これによって、光学パーツの表面形状(球面、非球面)や透過波面、また機械加工部品など…(つづきを見る)
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最終更新日:2011/07/25
±25nm3σ以内の高精度。フォーカス・マトリクスが不要です。
露光解析ツール 位相シフト・フォーカス・モニタは±25nm3σ以内の高精度。フォーカス・マトリクスが不要です。既存のオーバーレイ計測器でフォーカス測定ができます。 詳しくはお問い合わせ、またはカタロ…(つづきを見る)
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最終更新日:2011/12/05
光や電子線の干渉パターンからの位相情報抽出に威力を発揮。 高精度の3次元計測、電子線ホログラムに!
プログラムの高速化とパソコンの高性能化によりフーリエ変換の速度が飛躍的に向上し(8ミリ秒)、光を使った方法(光の速度+光学系への表示時間+フォトディテクタの蓄積時間)と実質的に変わらなくなってきました…(つづきを見る)
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最終更新日:2010/09/03
レーザ・ドップラ流速計を発展させ、液滴や液体中の気泡の大きさと速度を測定することができます。
レーザ・ドップラ流速計を発展させ、液滴や液体中の気泡の大きさと速度を測定することができます。これは、粒子からの散乱光が粒子の大きさによってそのドップラー信号に位相差が異なることを利用しています。

































