「厚み」がつけられた製品一覧
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最終更新日：2011/12/09
電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することによって、物質の構成元素や電子構造を分析
・EDXに比べて軽元素の感度が良い ・EDXに比べてエネルギー分解能が高い ・TEMに付属したものは空間分解能が高く、周辺情報を検出し難い ・元素によっては化学状態分析が可能
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最終更新日：2011/07/20
独自の放熱技術で器具の厚みを30mmまで抑えたLEDダウンライト。新たな照明演出が可能になります。
セラミック部品メーカーMARUWAの持つ技術で放熱部分の改良を重ね、厚さ３０ｍｍを実現しました。従来のダウンライトでは厚すぎて設置不可能であった空間や建材の隙間に設置できるので、様々な空間のLED化を…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/05/26
オンラインでパイプ・チューブを高速で測定！！材料コストの削減・生産効率のＵＰ・装置停止時間の削減が可能に！！
サイテック社のＸ－ＡＣＴツイン・アイは被測定チューブの軸に垂直に照射される２個のビームにより、オンラインで単層／多層パイプ・チューブの外径・内径・各層ごとの厚み・真円度の測定が可能です。
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最終更新日：2011/10/27
ローコストかつコンパクト。判別型変位センサの決定版。
コンパクトかつローコスト。機器組み込み用途、判別用途に適したアンプ内蔵レーザ変位センサ、CD33シリーズ。三菱電機MELSEC-Qシリーズ専用変位センサコントロールユニットUQ1-02対応の16機種を…（つづきを見る）
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最終更新日：2010/12/07
黒色や光沢ワークに強いCCD受光素子搭載アンプ内蔵レーザ変位センサ（変位計）
レーザ変位センサ（変位計）CD3の開発コンセプトのひとつは、いかに対象物の色・材質の影響を受けずに正確に測距できるかということ。今回、新たに受光素子にCCDを採用し対象物の色・材質に関係なく安定測定。…（つづきを見る）
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最終更新日：2010/12/07
サンプリング周期100μs、リニアリティ±0.1%を達成したアンプ分離型レーザ変位センサ（変位計）。
測定レンジ・繰返精度・アプリケーションにあわせて7種のセンサヘッドをラインナップ。受光素子に従来の5倍（当社比）の画素数を持つリニアイメージセンサを採用。素子の感度が格段に向上したためリニアリティが1…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/10/28
高精度、安定性、操作性そのすべてを高次元で融合したレーザー変位センサ（変位計）の決定版。
1コントローラにつき3センサヘッドを接続する高性能マルチレーザ変位センサ。真の測定安定性を獲得するための新開発テクノロジー、使いやすさと見やすさを両立した高性能オールインワン・アンプユニット。CD5を…（つづきを見る）
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最終更新日：2010/12/07
32mm幅のライン状レーザで高さや幅を判定可能なレーザライン形状センサ。
平行ラインレーザ光でワークの表面形状を2次元判別。高さや幅、厚み、ピッチや溝深さ、傾き、有無などを判別します。また、測定したワークの形状は、内蔵モニターで表示されるので検出領域など各種設定が簡単に行え…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/12/21
【Line Measuring System KLM-100】自動線幅測定機能あり。画像登録機能あり。
ステージはXY 100ｍｍ×100ｍｍ、150×150ｍｍ、200×200ｍｍ、300×300ｍｍ対応可能です。 位置決め精度は±3.0μｍです。 CCD 500 万画素。 対物レンズは５×、1…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/04/17
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最終更新日：2011/04/07
VarioScale+顕微鏡_140x140.jpg)
レーザー干渉を利用した厚さ測定装置！ 厚膜(1～500μm)測定用 極小スポットサイズ 小型・高速・高精度
半導体業界では、現在、バックグラインド技術に対するニーズが増大しています。それは、SiPやフリップチップなどに代表される先端パッケージングのためのウェハシンニンング、あるいはこれら先端パッケージングデ…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/12/19
上下に光学系を持ちサンプルを挟み込む事によって表裏のパターンずれ、位置ずれを測定
同一軸上に上下光学系を配置し外部要因による測定誤差を極力除き、今迄の両面観察機とは一線を画した性能を実現しました。 Z 軸には0.1μｍのリニアスケールを内蔵しているので、弊社独自のフォーカスターゲ…（つづきを見る）
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最終更新日：2011/02/23
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最終更新日：2011/12/19
500 万画素のカメラを内蔵し専用の位置ずれ測定ソフトウエアを使うことで、繰返し再現性、個人誤差を無くした高精度な測定が可能
上下に光学系を持ちサンプルを挟み込む事によって表裏のパターンずれ、位置ずれを測定します。 同一軸上に上下光学系を配置し外部要因による測定誤差を極力除き、今迄の両面観察機とは一線を画した性能を実現しま…（つづきを見る）
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