「Surface Particle」がつけられた製品一覧

半導体製造装置等の定期的な清掃作業後、チャンバーや構成部品などの迅速な清浄度管理に！

QIII Maxは真空装置のチャンバーなどの表面にある粒子（パーティクル）を手軽に測定する為の計測器です。ダミーウェーハ等を利用した従来のパーティクル管理方法と比較して、真空引きが不要な為、装置メンテ…（つづきを見る）

• JFE商事エレクトロニクス株式会社 環境・計測機器営業部　計測機器営業室