• 技術情報誌 202001-01 in-situ STEM 製品画像

    技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    MTJ(magnetic tunnel junction)構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温度によって磁気特性が変化することから、本稿ではin-situ TEMを用いて、加熱に伴う結晶性や元素分布の変化過程をnmレベルで分析した事例を紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.試料と...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析 製品画像

    技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【図表】 図1~図13  断面像、界面層の高分解能TEM像、電子回折パターン、原子分解能平面HAADF-STEM像・STEM像、結晶欠陥の原子分解能平面HAADF-STEM像 イオン注入後、アニール処理後分析結果、注入量、アニール処理温度の異なる試料のCL強度比較、キャリア濃度とdC/dV信号強度の関係...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202102-03 XAFSによる半導体中の状態評価 製品画像

    技術情報誌 202102-03 XAFSによる半導体中の状態評価

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    XAFS評価 5.おわりに 【図表】 図1 As K端XANESスペクトル 図2 As K端FT-EXAFSスペクトル 表1 As K端FT-EXAFSカーブフィッティング結果 図3 アニールありおよびアニールなしにおけるヒ素の状態および周囲構造のイメージ 図4 P K端XANESスペクト...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術資料ULVAC TECHNICAL JOURNAL No78 製品画像

    技術資料ULVAC TECHNICAL JOURNAL No78

    無料プレゼント中!真空に関する最新技術資料 No.78です。【アルバッ…

    スの開発  ・成膜プロセス,及び実際のデバイス評価結果について ■アルバックにおけるSiC パワーデバイスの量産技術開発進捗  ・SiC プロセスのキーテクノロジー、カーボンキャップと活性化アニール ■プラズマ実験装置用クライオポンプ「CRYO-U48NF」の開発  ・構造、特長 ■4K-GM 冷凍機「UR4K シリーズ」の新機種開発  ・新設計要素と開発結果について        ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アルバック/ULVAC, Inc.

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