• Smart LCDC【組込機器へ液晶を搭載されたいお客様に】 製品画像

    Smart LCDC【組込機器へ液晶を搭載されたいお客様に】

    PR「液晶」「LCDコントローラIC」でお困りのお客様、お気軽にご相談下さ…

    ◆必見◆ ・LCDコントローラICの入手でお困りのメーカー様 ・他社製LCDコントローラICの生産中止等でお困りのメーカー様 ・液晶の生産中止や仕様変更などでお悩みのメーカー様 〇小ロット、長期生産のお客様向けの製品です。 〇液晶の生産中止、LCDコントローラICのデバイスの生産中止に対して強力な解決案となっています。 〇弊社製品は基本的に1pcsからご購入可能です。 【S...

    • KS-430CT-I2.png

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ケニックシステム 東京オフィス

  • ウェハ・エッジビューワー『SIM-2300EG』 製品画像

    ウェハ・エッジビューワー『SIM-2300EG』

    録画機能搭載!貼合せ、バックグラインド、トリミングなど様々なウェハに対…

    『SIM-2300EG』は、録画機能搭載のウェハ・エッジビューワーです。 ウェハの薄さが求められる昨今のプロセスで、バックグラインド時の 「チッピング」や「クラック」、貼合せ時の「異物付着」や「位置ずれ」など、 気になるウェハ・エッジ状態を見ることが可能。 高精度なメカニカル・ウェハサイズチェンジャー、調芯機能を搭載し、 エッジ部の上下面と側面の連続録画、寸法測長や2値化表示がで...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社三明 本社、東京支店、大阪支店、神奈川営業所、山形営業所、浜松営業所、名古屋営業所、長野営業所、八戸営業所

  • 原子間力顕微鏡 製品画像

    原子間力顕微鏡

    C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプ…

    導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ :最大100 mm角 ■ステージ移動距離 :100 mm ■XY走査範囲 : 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 : 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • ウェハ外観検査装置『Cosmo Finder』 製品画像

    ウェハ外観検査装置『Cosmo Finder』

    ローコスト、省スペースに高速な外観検査を実現!AI搭載のウェハ外観検査…

    『Cosmo Finder』は、顕微鏡を利用したウェハの外観検査を画像処理を 使って高速・高精度に実現する装置です。 画像処理ソフト開発30年以上の経験から多くのお客様の要望を取り入れ、 様々な欠陥の認識に対応することが可能です。今まで検出が困難だった 異物やキズなども威力を発揮します。 また、本体内部に光学ユニット、駆動ユニット、画像処理ユニット、 制御ユニットをビルトインし...

    メーカー・取り扱い企業: 三谷商事株式会社 ビジュアルシステム部

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    パワーデバイスチップ用 外観検査装置

    欠陥検査を高精度で自動化!全6面検査自動化により、目視検査レスを実現!…

    パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で自動化した外観検査装置です。 全6面検査自動化により、目視検査レスでの2D高精度欠陥検査を実現しました。(対象製品:IGBT用チップ・パワーダイオード用チップ等) 側面検査では、XYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出。上面・下面検査では、マルチアングル照明+複数枚撮像で様々な欠陥モードに適した検査画像...

    メーカー・取り扱い企業: 日精株式会社 本社

  • SUSS MicroTec 両面位置精度測定器 DSM8Gen2 製品画像

    SUSS MicroTec 両面位置精度測定器 DSM8Gen2

    ウェハ表面/裏面のパターンの位置ズレを高精度で測定

    DSM8/200 Gen2は2~8インチウェハに対応した両面位置測定装置です。 TIS(装置起因誤差)を除去する機能を備えており、MEMS、パワーデバイス、光デバイスといった分野の両面パターニング基盤において、高精度な測定を実現しています。...・装置仕様  対応基板サイズ:2~8インチウェハ  測定精度:0.2um (3σ)  可視光観察  非接触プリアライナー ・オプション ...

    メーカー・取り扱い企業: 兼松PWS株式会社

  • ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』 製品画像

    ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』

    透明ウェーハも高速検査!高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出!

    『Laser Explorer』は、透明ウェーハにも対応した、 最新型のウェーハ表面欠陥検査装置です。 高出力レーザーが、スクラッチ・ピット・パーティクルなどの微小欠陥を検出! ウェーハの出荷・受入検査や、エピタキシャル工程の品質管理に活用いただけます! 【その他の特長】 ■高スループット(1カセット25枚を、約40分で検査) ■欠陥の凹凸を弁別 ■全数オートフォーカス ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』 製品画像

    パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』

    狙った欠陥を確実にキャッチ!パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で…

    『CI4000』は、全6面検査自動化により、目視検査レスを実現した パワーデバイス用チップ外観検査装置です。 上面・下面検査は、マルチアングル照明+複数枚撮像で 様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込みます。 また、側面検査ではXYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、 ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出します。 【特長】 ■全6面の微細欠陥を自動検査 ■最...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 高感度・背面照射型sCMOSカメラ Dhyana95 V2 製品画像

    高感度・背面照射型sCMOSカメラ Dhyana95 V2

    低価格ながら、背面照射型センサーを搭載し、最大95%の高量子効率、11…

    【95%量子効率、EMCCDより高SNR】 背面照射型センサーを備え、紫外、可視および近赤外の広い波長範囲に感度を持ち、最大95%@560nmのピーク量子効率を実現しています。EMCCDカメラと同等のSNR性能を有しています。 【正確なキャリブレーションによるバックグランド較正】 Dhyana95 V2は、定量分析アプリケーションためのバックグランド較正が可能です。 DSNU/PRNU...

    メーカー・取り扱い企業: MSHシステムズ株式会社

  • 外観検査装置 Prestige V 製品画像

    外観検査装置 Prestige V

    8インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモ…

    PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。 ...● 高解像度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能を用意、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用...

    メーカー・取り扱い企業: CCTECH Japan CCTECH Japan(株)-  日本法人

  • 【鏡面ワーク表面の欠陥を見逃さない!】表面欠陥検査ユニット 製品画像

    【鏡面ワーク表面の欠陥を見逃さない!】表面欠陥検査ユニット

    「SSMM-1R」は第32回中小企業優秀新技術・新製品賞において優秀賞…

    『SSMM-1R(スリットシフト Min Max-1R)』は、塗装品(ツヤ有り)・ メッキ品・フィルム・ガラスのように、光を反射又は透過する製品の 表面の傷・異物の検出を行う検査ユニットです。 ユーザー様のご要望に応えて「SSMM-1」をリニューアルしました。 特殊スリットパターンを使うことで検出能力を高めたほか、 その特殊パターンを1周期シフトさせながら輝度差を取る事で、 曲面を...

    メーカー・取り扱い企業: バイスリープロジェクツ株式会社

  • 検査装置 「ウエハエッジ外観検査機」 製品画像

    検査装置 「ウエハエッジ外観検査機」

    傷・異物・クラックなどの欠陥の検査に。エッジの精細画像検査を実現

    検査装置「ウエハエッジ外観検査機」は、ウエハ外周の端面と上下の3面を同時に 高速光学画像検査により傷・異物・クラックなどの欠陥を検査します。(8”ウエハで検査時間6秒と高速です)ウエハを裏面吸着して形状をカメラ認識して外径偏芯とオリフラ位置/量を検出して検査機を制御します。新規開発のトリプル光学系とインテグレイト照明がエッジの精細画像検査を実現しました。外部もPIO制御が可能で自動機に組込むこと...

    メーカー・取り扱い企業: アローズエンジニアリング株式会社

  • Cマウントデジタルラインセンサ 製品画像

    Cマウントデジタルラインセンサ

    ビデオカメラ用Cマウントレンズが使える小型・ローコストタイプの白黒ライ…

    子により解像度がUP。 また、Cマウントレンズが使用できるので安価に多くの種類をご提供できます。 【特長】 ●画素数 2,048および4,096の2機種が揃っています。 ●2/3インチサイズのCマウントレンズが使用できます。 ●画素サイズはPCL02MC(2kタイプ)が7μm、PCL04MC(4kタイプ)は3.5μmです。 ●カメラリンク出力です。 ●スキャンレートは80kH...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ピコ

  • ワンショット画像チェッカー 「Focus6500IA」 製品画像

    ワンショット画像チェッカー 「Focus6500IA」

    1400万画素FAカメラ搭載!FAカメラ搭載により長寿命な画像チェッカ…

    ワンショット画像チェッカー(TASCAL)Focus6500IAは、予め登録しておいた参照画像と被検査基板の検査画像を比較検査(パターンマッチング)を行う装置です。 1400万画素のFAカメラ搭載により、長寿命です。 検査内容は、部品の有無、極性、部品ズレ、色違い、半田有無、異物検査、カラーコード確認・色比較(オプション)、文字確認・長さ面積測定(オプション)、部品ズレ量計測(オプション)とな...

    メーカー・取り扱い企業: 協立テストシステム株式会社

  • スクラッチ装置 製品画像

    スクラッチ装置

    高精度・精密計測!任意のしきい値設定から欠陥に対してOK/NG判別を全…

    『スクラッチ装置』は、ウエハーを複数枚乗せる事が可能で、極微少な スクラッチ(傷)、異物、カケの外観検査を全自動で行います。 ワークまでの距離を自動で測るレーザー変位計を装備しておりウエハーの 厚みに依存しません。 画像記録のほか任意のしきい値設定から欠陥に対してOK/NG判別を、 全自動で行います。アプリケーションとして、透明体、半透明のSiCやGaN、 GaAs、サファイア...

    メーカー・取り扱い企業: ソフトワークス株式会社

  • ウェハチップ目視検査装置 製品画像

    ウェハチップ目視検査装置

    外観目視検査作業者の負担軽減と作業効率アップに貢献

    充実したデータファイリング機能により 複数作業者の検査判定基準の統一化が可能になった、ウェハチップ目視検査装置...【特徴】 ○特殊高解像ズームレンズ使用による鮮明カラー画像の  モニター目視によるウェハー及びエキスパンダリング上のチップ外観目視検査装置 ○将来的に外観自動検査装置への機能アップも可能 ○ウェハサイズ:2.4.インチ対応(エキスパンダリング対応) ○カラー130万画像...

    メーカー・取り扱い企業: 英光産業株式会社

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