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PR“サセプタ不用"の高スループットSiCウェハアニール!4-8…
『HEATPULSE』は、サセプタ不要のSiCウェハアニールが可能な 高速加熱処理(RTP/RTA)装置です。 独自技術により高温プロセスも効率化。 パワーデバイス関連、およびその他の半導体業界、または高温高速 加熱処理が必要な方に好適な装置です。 【特長】 ■独自技術により、サセプタ無しでのSiCアニールを実現 ■パージ効率、昇温レートの向上により、約1.5倍の高スルー...
メーカー・取り扱い企業: プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社
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ガラス基板、メディア表面、エッジ部のチッピング、汚れ等を、高速・高精度…
ことが可能。 ・スループット ~800PPH(検査条件による) ・フットプリント 本体: (W) 1380 × (D) 1700 ×(H) 2100 mm (W) 1810:カセット受渡部を含む PCラック: (W) 570 × (D) 630 × (H) 1850 mm ・クリーン度 クラス10(@0.1μm) ・自動搬送システムに対応 検査仕様 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装
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透明ウェーハも高速検査!高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出!
力レーザーが、スクラッチ・ピット・パーティクルなどの微小欠陥を検出! ウェーハの出荷・受入検査や、エピタキシャル工程の品質管理に活用いただけます! 【その他の特長】 ■高スループット(1カセット25枚を、約40分で検査) ■欠陥の凹凸を弁別 ■全数オートフォーカス ■カスタマイズ対応 ■1カセット自動検査対応 ■欠陥に対する高精度マーキング(オプション) ■レーザー顕微鏡によ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装
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ハードディスク表面欠陥検査装置 Laser Explorer
ハードディスク表面のスクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出
ます。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠陥の検出 ・高いスクラッチ検出能力 ・欠陥の凹凸を弁別 ・全数オートフォーカス ・優れたコストパフォーマンス ・カスタマイズ対応 ・1カセット自動検査対応 ・透明ガラス基板対応...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装
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フィルム検査 NGマーキング用専用設計 高速ラベラー【1,000枚/分…
◎フィルム検査のNGマーキング専用として設計し、1,000枚/分を実現。 ◎ラベラー本体と制御BOXの分離構造とし、設置が容易です。 ◎ラベルロールがカセットに収納され、ワンタッチで取替可能です。 (フィルム検査以外でのご用命にも対応させて頂きます。) ※詳細は資料をダウンロード、又はお気軽にお問い合わせ下さい...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ジェムコ
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【無料相談受付中!】小型部品のキズ、欠け、塗装ムラ、黒点等を高速0.0…
装置は、カメラ、レンズ、照明、メカ等、それぞれのノウハウを高度に組み合わせる複合技術です。目視ではとても追いつかない小型部品の検査を必要とするお客様はお気軽にご相談ください。 ■装置概要 カセットに収められている小型部品を取り出し、0.05secでキズ、欠け、塗装ムラ、黒点等を判別。異形部品にも対応可能です。対象ワークは30×30mm以内の小型部品になります。 ワーク形状・搬送形式等...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ソーリンク
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外観の検査をしてからトレイにパッケージされるまでのワンストップ統合型装…
【仕様】 ■重量:N/A ■外寸:W1300mm x D1800mm x H1800mm ■タクトタイム:1.8sec ■製品対応幅:W37mm リードフレーム(製品により) ■カセット容量:15トレイx2セット ■フィード進給量:1~30mm ■表示形式:タッチパネル表示 ■電圧:3O AC220V ■圧縮エアー:5kg/cm2 ※詳しくはPDF資料をご覧いただく...
メーカー・取り扱い企業: A-Tech System Co., Ltd.
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カセットを移動させるだけで小箱に回収!瞬時に数量を正確にカウントします
当社では、小型卓上機シリーズ「ZARA-KEN 検査装置」を取り扱っております。 『ZARA-KEN II』は、カセットステージに乗せると瞬時にカウント、 数量カウントと同時に異品もチェックします。 検査終了を画面で通知し、検査後にカセットを移動するとサンプルは 小箱に回収されます。 ガラスステー...
メーカー・取り扱い企業: 合同会社A-eye 本社
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