• リモートプラズマ・イオンビームスパッタリング装置  製品画像

    リモートプラズマ・イオンビームスパッタリング装置 

    PRヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印…

    ヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印加により高品質かつフレキシブルな成膜をする装置です。 イオン源、ターゲット、基盤それぞれに対して独立した電流制御を行います。 複数のターゲットを搭載し、切り替えての多層成膜も簡単に行えます。同時にターゲット付近、基盤付近に独立したガス供給も行えるため、酸化膜・窒化膜をはじめとした様々な多層光学薄膜も成膜可能。新たな素材探索や成膜...

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    メーカー・取り扱い企業: ティー・ケイ・エス株式会社

  • 超音波複合振動接合機『Ellinker 20k-HP/20k』 製品画像

    超音波複合振動接合機『Ellinker 20k-HP/20k』

    PR狭いところに手が届く接合を実現。楕円形の軌跡により、高強度・低ダメージ…

    『Ellinker 20k-HP/20k』は、振動拡大ホーンと 楕円形の軌跡を描く複合振動を生み出すスリット入りホーンを備えた超音波複合振動接合機です。 加圧・加振のムラや減衰が少なく、ワークへのダメージやバリの発生を抑えた高品質な接合が可能。 ロングホーンチップを使用でき、円筒型LiBの底部など様々な形状・接合位置のニーズに対応可能です。 はんだなどの介在物を使用せず、母材の変質リスクも少な...

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    メーカー・取り扱い企業: 千代田交易株式会社

  • レーザ溶接用スパッタモニタリングシステム 製品画像

    レーザ溶接用スパッタモニタリングシステム

    量産における品質管理の支援ツールとして威力を発揮!溶接の条件出しにも有…

    当製品は、レーザ溶接中に発生するスパッタを常時監視する モニタリングシステムです。 監視できる測定機能は、溶融池から飛び出すスパッタの「数」 「飛散軌跡」「サイズ」です。 これにより溶接中のスパッタの発生状況を取得するこ...

    メーカー・取り扱い企業: 前田工業株式会社 本社

  • マグネトロンスパッタ 製品画像

    マグネトロンスパッタ

    電子顕微鏡の試料に導電膜処理を施す装置です

    『マグネトロンスパッタ装置』は、ターゲットの背面に強力な磁石を用いて カソード表面層でのイオン化を促進し、電界によりイオンをターゲットに 衝突させて金属分子を放出させる原理を応用させたものです。 株式会社真空...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニオン

  • 手軽に電極膜作製 デスクトップコンパクトコーター 製品画像

    手軽に電極膜作製 デスクトップコンパクトコーター

    45年以上のロングセラーモデル 手軽に電極膜作製ができるデスクトップ…

    置かれていても違和感のないデザインとコンパクトさ!! 【特徴】 〇スモール&コンパクト 〇ベルジャーを持ち上げる必要のない前面ドア開閉方式 ⇒ サンプルのセット/取出しが楽に行なえます。 〇間欠スパッタ機能を標準搭載 〇多彩なオプションをご用意:シャッター付前面ドア/アルミ製前面ドア/ピラニー真空計取付ポート付前面ドア etc. ...

    メーカー・取り扱い企業: サンユー電子株式会社

  • 超高真空マルチチャンバー連結システム 製品画像

    超高真空マルチチャンバー連結システム

    φ4インチ基盤対応のエネルギー半導体デバイス研究開発システムなどをご紹…

    当社が取り扱う『超高真空マルチチャンバー連結システム』を ご紹介します。 超高真空搬送用チャンバーに複数の成膜・分析装置を連結した UHV一貫システムは、ALD、ECRプラズマ処理、スパッタ装置と XPS分析装置を連結。 他に、MEBチャンバーとXPS表面分析装置を連結したシステムや MBE室と酸化処理室、STM分析室を連結したシステムがあります。 【ラインアップ】 ...

    メーカー・取り扱い企業: ケニックス株式会社

  • 【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去 製品画像

    【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去

    表面汚染を除去してXPSによる評価を行います

    法のため、大気等による有機付着物由来のCが主成分レベルで検出されます。こういった有機付着物由来のCの影響を減らすことは、膜本来の組成を評価する上で重要です。 通常、有機付着物の除去にはArイオンスパッタを用いますが、スパッタによるダメージにより膜本来の組成,結合状態が評価できない場合があります。Arイオンスパッタを使用せず、表面酸化層をウェットエッチングを用いて除去することで、有機付着物由来のC...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 新対向ターゲットスパッタリング(NFTS)装置 製品画像

    新対向ターゲットスパッタリング(NFTS)装置

    超伝導薄膜応用分野やMEMS応用分野などに!低ダメージ・低温成膜で有機…

    新対向ターゲット式スパッタ(New Facing Targets Sputtering:NFTS)技術は 高密度プラズマを箱型空間に拘束することにより、堆積基板へのエネルギー種 (反跳粒子、イオン、電子)の衝撃によるダ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社トヤマ

  • フラットミリングとSEM観察 製品画像

    フラットミリングとSEM観察

    フラットミリングとSEM観察

    めっき表面とはんだの 境界面の状況がより緻密に観察できます。 【特徴】 ○アルゴンイオンの均一な照射によってSEM観察にも耐える完璧な覆面仕上が可能です。 ○5mm径の広い範囲を均一にスパッタエッチングでき、50nm/min(Cu)の高いミリングレートで処理します。 ○安定した放電電流(2~6kV)によって再現性のよい試料を提供できます。 ○光学顕微鏡に比べ分離機・焦点深度に優れ、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • TruPlasma MF 7000(G2)シリーズ 製品画像

    TruPlasma MF 7000(G2)シリーズ

    重要なプロセスにおける完全なコントロール!最大限のスパッタ率が確保され…

    ことが可能。豊富な周波数ラインアップにより、 様々なプロセスで活用いただけます。 【主な利点】 ■高い反応速度とそれに対応する残留エネルギーの低減により、  安定したプロセスと最大限のスパッタ率が確保される ■フレキシブルな冷却コンセプト ■独自技術"イグニッションサポート"技術により、効果的なプラズマ点火 ■豊富な周波数ラインアップにより、様々なプロセスで活用可能 ※詳し...

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    メーカー・取り扱い企業: トルンプ株式会社

  • 【分析事例】XPSにおける吸着酸素の影響 製品画像

    【分析事例】XPSにおける吸着酸素の影響

    XPS: X線光電子分光法

    XPSは試料表面(数nm程度の深さ)の組成・結合状態に関する知見を得る手法ですが、イオン照射によるスパッタエッチングを組み合わせることで、試料内部や深さ方向分布の評価も可能です。 但し、スパッタエッチングを伴う評価ではXPSの原理及び測定機構から、吸着酸素の影響を受けて酸素量が本来の組成より過大評価...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 『208HR型高分解能ターボスパッタコーター』 製品画像

    『208HR型高分解能ターボスパッタコーター』

    コンパクトで省エネルギー設計!導電性膜を高精度に成膜するスパッタコータ…

    『208HR型高分解能ターボスパッタコーター』は、FESEM試料の導電性膜を 高精度に成膜する信頼性の高い、クレジントン社製のスパッタコーターです。 マグネトロンヘッドのデザインと効率的なガス導入機構で、多種類の ターゲッ...

    メーカー・取り扱い企業: エルミネット株式会社

  • 【使用事例】NMI-300 製品画像

    【使用事例】NMI-300

    スキャナ加工ヘッドの保護ガラス汚れを検知した事例をご紹介

    スキャナ加工ヘッド用保護ガラス汚れ検知ユニット『NMI-300』の 使用事例をご紹介いたします。 スパッタにレーザ照射された箇所のみ数値が上昇するため、 実際の照射領域の汚染状態を検知することが可能です。 また、ヒュームの蓄積度に応じて数値が上昇、波形の平均値に 任意の閾値を設けることで検知...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社NISHIHARA

  • [GDMS]グロー放電質量分析法 製品画像

    [GDMS]グロー放電質量分析法

    特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出

    Ar雰囲気下で、試料をマイナス極としてグロー放電を行います。Arガスが試料に衝突することにより試料構成元素がスパッタされます。スパッタにより放出された元素は大部分が中性ですが、Arプラズマ中でイオン化されます。 イオン化された原子を二重収束型質量分析器で測定し、元素の定性及び濃度の算出を行います。 試料...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ULVAC DIGEST 真空関連機器 総合カタログ 製品画像

    ULVAC DIGEST 真空関連機器 総合カタログ

    無料プレゼント中!真空ポンプやクライオポンプなどを紹介しています。【ア…

    ULVAC DIGEST 真空関連機器 総合カタログでは、ドライ真空ポンプや油回転真空ポンプなどの「真空ポンプ」、スパッタイオンポンプ、クライオポンプなどの「クライオポンプ/冷凍機」、大気圧ピラニ真空計、キャパシタンスマノメータなどの「真空計」、ベーシックプロセスガスモニタなどの「ガス分析計/プロセスモニタ」等、多数...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アルバック/ULVAC, Inc.

  • 【DL可/GD-OES測定】変色したステンレスの組成調査 製品画像

    【DL可/GD-OES測定】変色したステンレスの組成調査

    GD-OES(グロー放電発光分析)によりステンレス(SUS)の表面をス…

    グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。H(水素)が検出できるのも本装置の特長です。 この事例では「変色した...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評…

    から、電子部品をはじめとして様々な分野で用いられている材料です。表面改質を行うことで他の材料との密着性を高めることができることから、改質層の状態を把握することが重要です。今回、有機成分が壊れにくいスパッタ条件にてTOF-SIMS測定を行い、深さ方向にポリイミド成分を評価しました。GCIB(Arクラスター)をスパッタに用いると着目する有機成分を深さ方向に測定することが可能です。※GCIB:Gas C...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】角度分解XPS(ARXPS)による極薄膜組成分布評価 製品画像

    【分析事例】角度分解XPS(ARXPS)による極薄膜組成分布評価

    基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です

    分解XPS(ARXPS)はX線照射によって放出される光電子を取出角ごとに検出し、それぞれ検出深さの異なるスペクトルを用いてサンプル表面極近傍のデプスプロファイルを評価する手法です。従来のArイオンスパッタを用いた方法と比較すると、深さ方向分解能が向上し、かつ選択スパッタやミキシングによる組成変化が無いといったメリットがあり、基板上の極薄膜(数nm程度)のデプスプロファイル評価に有効です。 本資料...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 圧力センサー 高温用 PX1004L1 製品画像

    圧力センサー 高温用 PX1004L1

    圧力センサー高温用

    圧力センサー PX1004高温用スパッタ薄膜歪ゲージ は、高精度及び優れた長期安定性、高信頼性です。 補償温度範囲は+24℃~+204℃で、動作温度範囲は-54~+232℃です。温度零点シフトおよび温度感度シフトは±0.018%FSO/...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パシフィックテクノロジー

  • クラスター真空成膜・評価装置紹介 製品画像

    クラスター真空成膜・評価装置紹介

    測定・研究したい要素をそのまま!お客様のニーズに合致させることが可能な…

    『クラスター真空成膜システム』は、試料自動搬送システム、サンプル交換室、 サンプルストッカー室、スパッタ室に加え誘電率・磁性測定、ホール測定装置 などの分析機を備えた評価室から構成されます。 また、中央の試料自動搬送チャンバーは、各成膜室ならびに分析室と接続。 試料を真空中でロボット搬送し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 溶接機器 CMT電源シリーズ TPS3200CMT 製品画像

    溶接機器 CMT電源シリーズ TPS3200CMT

    CMT溶接は極薄板に非常に威力を発揮致します。

    )短絡すると同時にアークは消滅し(コールドプロセス)ワイヤは強制的に切断し引きもどされます。このサイクルを14msで高速に行うことで、入熱を大幅に抑制し、溶融プールの爆発現象も大幅に抑えますので、スパッタ発生も極小になります。このような方式により、1mm以下の極薄板に威力を発揮します。ロウ付けに近い感覚の為、極薄板のギャップのある溶接や、溶け落ちが心配される場合にも有効な方法です。 詳しくはお問...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社三葉電熔社

  • 【溶接検査の自動化】3D溶接検査システム「POLASTAR」 製品画像

    【溶接検査の自動化】3D溶接検査システム「POLASTAR」

    溶接の外観検査のために開発されたから"目視"→"自動"への移行がスムー…

    長距離、ワイド、高精度高速モデルをラインナップ。 ◆高速検査  毎分約10mで検査(標準カメラ、0.3mmピッチ、深さ±7mmの場合) ◆豊富な検査機能  溶接幅、溶接長はもちろん。脚長、スパッタ、ピットなども ◆特徴量解析機能  計測データから特徴量を解析し各部分を数値化します。  数値化したデータを閾値と比較を行い判定します。 ◆簡単ティーチング  カメラヘッドにガイドレーザ...

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    メーカー・取り扱い企業: コアテック株式会社 本社/中部営業所/関東営業所

  • テーラードブランク溶接の検査でお困りではありませんか? 製品画像

    テーラードブランク溶接の検査でお困りではありませんか?

    多関節ロボットと3Dカメラの組合せで、テーラードブランク溶接を自動検査…

    毎分10mで検査(標準センサー,0.3mmピッチ、深さ±7mmの場合)  新タイプはより早くなります。(約毎分27m、0.3mmピッチ) ◆豊富な検査機能  溶接幅、溶接長はもちろん。脚長、スパッタ、ピットなども ◆特徴量解析機能  計測データから特徴量を解析し各部分を数値化します。  数値化したデータを閾値と比較を行い判定します。 ◆簡単ティーチング  3Dセンサーにガイドレーザ...

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    メーカー・取り扱い企業: コアテック株式会社 本社/中部営業所/関東営業所

  • 測定球『ミニチュアゲージ』 製品画像

    測定球『ミニチュアゲージ』

    取付場所の選定が容易!プロセス圧力(1Pa台が測定可)までの圧力計測が…

    割れ易いという欠点を除いた金属製の小型ゲージ球です。 取付場所の選定が容易で、さらに感度や測定範囲等の ゲージの性能を損なうことなく小型化(従来の1/20当社比)。 到達圧力からスパッタ等のプロセス圧力(1Pa台が測定可)までの 圧力計測が1つのゲージで行なえます。 【ラインアップ】 ■MG-2 ■MG-2M ■MG-2I/NW16、25 ■MG-2I/φ34IC...

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    メーカー・取り扱い企業: キヤノンアネルバ株式会社 栗木本社

  • 【半導体向け】解析シミュレーションソフト ※カタログ進呈 製品画像

    【半導体向け】解析シミュレーションソフト ※カタログ進呈

    工数・コスト削減に!薄膜生成、スパッタリング、プラズマエッチングなどの…

    当社では、半導体関連装置向けに特化した解析ソフトを取扱っています。 希薄流体解析ソフト、プラズマ解析ソフトをラインアップし、 有機ELやマグネトロンスパッタのシミュレーションで活躍中です。 「新商品開発をしたい」「製品改善時に実機(装置)を作って検証したい」 「事前検証,装置との比較検証をしたい」などでお困りの方に。 また、自社開発製品...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェーブフロント 本社

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • アーク検知器 製品画像

    アーク検知器

     1usの分解能でアークを検知し、歩留り向上に貢献いたします。 パルス…

    ・エッチング装置、CVD、スパッタ等の量産現場でのアーク検知、パルスモニターとして最適です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マツボー

  • 表面処理の特性予測ソリューション 製品画像

    表面処理の特性予測ソリューション

    複数の解析ソフトウェアを駆使した表面処理の特性予測ソリューションを提案…

    たとえば、調べたい材料表面の作成/処理過程&材料特性など プラズマプロセス装置の解析と表面状態の特性予測をまとめて提供します! 【解析対象となる物理現象】 ・結合と活性化 ・成膜 ・スパッタや浸食 ・脱離や洗浄   など 【評価可能な表面特性例】 ・原料ガスやプラズマの入射量やエネルギー、あるいは浸食/成膜速度の評価 ・物質の原子/分子データに基づきその材料特性を評価 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェーブフロント 本社

  • 【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布 製品画像

    【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布

    SiO2膜の不純物の評価

    アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定でもアルカリ金属の移動を酸素スパッタガンに比べ抑えられることがわかりました。この測定を行うこ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析 製品画像

    【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析

    GCIBを用いた低ダメージスパッタリングで多層フィルムの層構造を明瞭に…

    ラップフィルムとして一般的に用いられるポリエチレン系多層フィルムの層構造を評価しました。 FT-IRで主にポリエチレンで構成されていることを確認したフィルムに対し、GCIB(Arクラスター)をスパッタに用い、TOF-SIMSで深さ方向に測定することで、10μmの厚みの中でポリエチレンとナイロン6とが積層されている構造を明瞭に可視化することができました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】界面および深さ方向分解能について 製品画像

    【分析事例】界面および深さ方向分解能について

    SIMS:二次イオン質量分析法

    異種材料間の界面のSIMS分析プロファイルは、深さ方向にある幅をもって変化します。これはSIMS分析の特性上、イオンビームミキシングとスパッタ表面の凹凸(ラフネス)の影響を受けるためです。検出している不純 物は、混ぜ合わされた深さまでの平均化した情報となり、深さ方向に幅を持った領域のイオンを検出します。 そのため、界面位置は一般に主...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】金属膜の高温XRD評価 製品画像

    【分析事例】金属膜の高温XRD評価

    昇温過程での相転移・結晶性変化を追跡評価

    Pt をSi 基板にスパッタ蒸着させた試料に対して、昇温させながらOut-of-plane XRD, In-plane XRD 測定をそれぞれ行いました。両測定で、Pt(111) は500℃より高い温度ではピーク強度が増加し...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機EL素子の成分分析 製品画像

    【分析事例】有機EL素子の成分分析

    Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析

    XPSで4層の異なる有機化合物(或いは有機金属錯体)で形成されていると推定された有機EL素子(図1)について、TOF-SIMS分析を行いました。多層構造試料についてはスパッタを併用した深さ方向分析も行われますが、今回は構成成分の結合を壊さずに測定するために、Slope面を作製して各層を露出させました。Alq3, NPD, CuPcと推定される分子量関連イオン・フラグメ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ゲート電極から基板へのBの突き抜け量評価 製品画像

    【分析事例】ゲート電極から基板へのBの突き抜け量評価

    SSDP-SIMSによる測定面の凹凸・高濃度層の影響を避けた測定

    基板側からSIMS分析(SSDP-SIMS)を行うことで、表面の凹凸・スパッタに伴う表面側高濃度層からのノックオンの影響を受けない測定が可能です。ゲート電極(BドープPoly-Si)から基板へのボロンの突き抜け量を評価しました。基板側からの測定ではノックオンなどの影響が見ら...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価 製品画像

    【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価

    GCIB(Arクラスター)を用いることで損傷層の成分・厚さ評価が可能

    この変化を利用し、機能性材料の開発など広い分野で研究が行われています。イオン照射後、表面状態にどのような変化が生じたのか評価することは、効率的な研究・開発に重要です。 TOF-SIMS分析では、スパッタイオンビームにGCIB(Gas Cluster Ion Beam)を用いることで、高分子材料表面のイオン照射による損傷層(ダメージ層)の成分・厚さを評価することが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機多層膜のラマン3Dマッピング 製品画像

    【分析事例】有機多層膜のラマン3Dマッピング

    表面からの測定で、深さ方向の成分分布を確認可能です

    ラマン分析では、表面からの測定で深さ方向の成分分布が確認できます。光を透過し易い物質に有効で、断面加工やイオンスパッタエッチングを併用せず非破壊での評価が可能です。 本資料では、有機多層膜の各層について、ラマン3Dマッピングで評価した例を示します。結果より、有機多層膜は四層で構成されていることが分かりました。ま...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [XPS]X線光電子分光法 製品画像

    [XPS]X線光電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

    r Chemical Analysis とも呼ばれています。 ・固体表面(約2~8nm)の元素の定性・定量が可能 ・化学結合状態分析が可能 ・非破壊で分析が可能 ・深さ方向分布(イオンスパッタを併用)の測定が可能 ・絶縁物の測定が可能 ・雰囲気制御下での測定が可能...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • コーティング 光学フィルター『高性能光学薄膜フィルター』 製品画像

    コーティング 光学フィルター『高性能光学薄膜フィルター』

    デジタルカメラ、各種検査装置などに最適な高性能光学薄膜フィルター

    【特徴】 ○紫外域~遠赤外域の幅広い波長帯域に対応可能 ○外観欠陥10 µmに対応 ○イオンアシスト蒸着、イオンビームスパッタによる  高品位多層膜の成膜 【光学特性】 ○ノッチフィルター →通常の設計では出てしまう透過帯のRippleをなくした ○バンドパスフィルター →狭いバンドパスで広帯域をカット ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ニデック コート事業部

  • [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法 製品画像

    [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法

    試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であるこ…

    試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。 スパッタイオン源を用いて、深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。 ・有機・無機化合物の構造解析・同定が可能 ・異物検査装置の座標データとリンケージが可能 ・ミクロンオーダーの微小異物から数...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 光学式エンドポイントモニター【Verity社製】 製品画像

    光学式エンドポイントモニター【Verity社製】

    超高性能エンドポイント検出システム 検出困難だったイオンミリングプロ…

    お問い合わせください 型番・ブランド名 SD1024GH (Verity Instruments社) 用途/実績例 プラズマエッチング MEMsエッチング イオンミリング 反応性スパッタコントロール...

    メーカー・取り扱い企業: アールエムテック株式会社

  • 【実験できない範囲も解析が可能】表面処理の特性予測ソリューション 製品画像

    【実験できない範囲も解析が可能】表面処理の特性予測ソリューション

    専門知識を持った技術者がサポート!各種解析ソフトを組み合わせる事で、表…

    【その他の特長】 <解析対象となる物理現象> ■結合と活性化 ■成膜 ■スパッタや浸食 ■脱離や洗浄   など <評価可能な表面特性例> ■原料ガスやプラズマの入射量やエネルギー、あるいは浸食/成膜速度の評価 ■物質の原子/分子データに基づきその材料特性を評価 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェーブフロント 本社

  • プラズマモニタ 製品画像

    プラズマモニタ

    エッチング・スパッタ・CVD等プラズマモニタに好適!

    オーシャンオプティクス社製の小型分光器は、リアルタイムでチャンバ内の プラズマ発光スペクトルを取得するために多くのお客様から選ばれています。 これらの発光スペクトルから求めたプラズマ特性を監視し、 半導体製造におけるプラズマベースのプロセス制御等に好適です。 『プラズマモニタ』は、スタンダードモデルのFLAMEをはじめ、高分解能モデルの HR4000またはバッファリング対応UV高...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • 受託成膜・受託分析 製品画像

    受託成膜・受託分析

    各種成膜・表面処理・塗布加工や、受託測定のことなら当社へお任せください

    【各種成膜・表面処理・塗布加工詳細】 ■真空成膜加工  ・加工方法:P-CVD、スパッタ、蒸着、イオンプレーティング  ・膜種類:SiN、SiO2、DLC、ITO、Al2O3他各種メタルなど  ・基板:Si、ガラス、フィルム他 ■エッチング・表面処理  ・処理方法:P-エッチ...

    メーカー・取り扱い企業: アイゲート株式会社 本社

  • レーザ走査表面形状検査機『CSM&CSYSシリーズ』 製品画像

    レーザ走査表面形状検査機『CSM&CSYSシリーズ』

    広い範囲の微小な高さの変化を測定可能な表面形状検査機!極めて振動に強く…

    超高感度で速く測定が可能な レーザ走査表面形状検査機です。特許技術の「レーザ表面形状検査機」で、半導体ウエハ(Si,SiC,GaN,etc.)、MEMS、ハードディスク、FPD用機能性フイルム、スパッタ薄膜などの「表面形状」「粗さ」「うねり」「パーティクル」「キズ欠陥」を高感度で、早く、広い範囲を検査して「デジタルデータ」と「3D画像データ」を表示します。 【特長】 ■レーザ走査式非接触...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コアシステム

  • 赤外線サーモグラフィカメラ『InfReC R550シリーズ』 製品画像

    赤外線サーモグラフィカメラ『InfReC R550シリーズ』

    120万画素の超解像フラグシップモデル!熱挙動の速い現象のモニタリング…

    20万画素の 高精細な赤外線サーモグラフィカメラです。 用途と測定温度範囲が異なる、3種類のモデルをラインアップ。 最速120Hzでの高速サンプリングが可能なためレーザー溶接における スパッタの発生状況や、熱影響の状態確認に好適です。 【特長】 ■標準レンズで最小58ミクロンの近接撮影が可能 ■充実した解析ソフトウェアが標準付属 ■PCでの自動動画収録機能付き(R550Pr...

    メーカー・取り扱い企業: 日本アビオニクス株式会社

  • コンビナトリアル成膜の受託 製品画像

    コンビナトリアル成膜の受託

    マテリアルズインフォマティクスのためのハイスループット薄膜の作製と評価

    エンジニアが、お客様のご要望に お応えします。まずはお問合せ下さい。 【特長】 ■コンビナトリアルライブラリ薄膜試料の作製 ■コンビナトリアル特性解析 ■コンビナトリアルマグネトロンスパッタ装置の販売 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コメット

  • EPMAによる薄膜の膜厚分布測定 製品画像

    EPMAによる薄膜の膜厚分布測定

    極小領域の膜厚測定が可能に!電子線照射時に発生する特性X線の強度から膜…

    【測定事例】 ■Si基板上のCuスパッタ膜 ■ステンレス板上のAu薄膜 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

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