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    スクリーンマスク清掃のお悩み解決特集!

    PR無償サンプル情報あり!スクリーンマスクの版清掃における商材をご紹介

    当資料では、スクリーンマスクの版清掃における商材をご紹介しております。 【こんなお悩みはありませんか】 ■清掃してもスクリーンマスクにインクが残ってしまう ■洗浄剤を使用することで環境面に影響がないか心配 ■高価なインクを無駄にしたくない ■手拭きでの清掃に苦労している など・・・ 弊社ではこれらのお悩みに対して、ご紹介できる商材の取り扱いがあります。 (一部、サンプルのご...

    メーカー・取り扱い企業: 竹田東京プロセスサービス株式会社

  • 【無料贈呈】物流デジタルサービス事例集173P(経済産業省発表) 製品画像

    【無料贈呈】物流デジタルサービス事例集173P(経済産業省発表)

    PR経済産業省が発表した物流効率化に資するデジタルサービスの事例集(P14…

    経済産業省が、物流の2024年問題に係る改善効果が期待されるIT情報・技術領域におけるサービスを発表しました。 22企業の物流デジタルサービスが173ページに渡り紹介されたPDF資料をダウンロードできます。 ※下にある『※PDF参照はこちら:物流デジタルサービス 全サービス紹介(経済産業省)』をクリックして参照ください。 ※もしくは下にある『関連カタログ』をクリックいただくと、電子カタログに...

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    メーカー・取り扱い企業: ネットロックシステム株式会社 物流IT事業部

  • 技術情報誌 202301-02 高分解能MALDI-MS 製品画像

    技術情報誌 202301-02 高分解能MALDI-MS

    高分解能MALDI-MSによる精密質量測定と新しい解析法を組み合わせた…

    【要旨】 近年、高分解能の質量分析計の普及に伴い、質量分析で得られる情報がはるかに多くなる一方で、解析に要する時間も増加するという問題も出てきた。これに対して、新しい解析法を用いることにより、マススペクトルの全体像を把握して、効率よく解析を行う試みがなされている。ここでは、高分解能MALDI-MSによる精密質量測定と新しい解析法を組み合わせた界面活性剤の化学構造解析事例、さらにエポキシ樹脂の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法 製品画像

    [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法

    有機化合物の定性・定量を行う分析手法です

    ■質量分離(四重極型) 生成したイオンは4本のロッドからなる四重極型質量分析計に導入されます。ロッドにかける電圧を調整することにより、特定の質量のイオンのみが検出器に到達し分子の質量情報を有するマススペクトルが得られます。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価 製品画像

    【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価

    一粒の粉体表面に分布する成分の評価が可能

    を、TOF-SIMSにて分析した事例をご紹介します。一粒の粉体の表面にグラファイトとPVDFが分布している様子が確認できました。 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)は、二次イオンのマススペクトルから表面の有機物・無機物の定性・イメージに適した手法です。分解能よく分析することが可能なため、微小異物やしみなどの分布評価に有効です。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:二次電池 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】GCによる窒素化合物の高感度分析 製品画像

    【分析事例】GCによる窒素化合物の高感度分析

    GC/MS/NPD(窒素リン検出器)を用いた窒素化合物の分析

    ることが可能です。本事例では含窒素化合物であるトリメチルアミンが微量に含まれる試料をGC/MS/NPDで測定しました。MSではベースラインに埋もれていたピークがNPDで確認されたため、同一保持時間のマススペクトルからトリメチルアミンを定性することができました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 同定解析の受託サービス|JTL 製品画像

    同定解析の受託サービス|JTL

    FT-IRおよびGC-MSによる有機物の同定解析を実施します。

    T-IRおよびGC-MSを利用して化合物の同定を行います。 FT-IRではフーリエ変換赤外分光法により得られた化合物分子の赤外吸収スペクトル、GC-MSでは電子イオン化法より得られたフラグメントのマススペクトルをもとに解析を行います。 同定解析結果は、異物・付着物や製品の材質、成分の特定に利用することが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 残留溶媒分析の受託サービス|JTL 製品画像

    残留溶媒分析の受託サービス|JTL

    GC-MSによって、製品中の残留溶媒測定を実施します。

    【特徴】 ●GC-MSを用いた定性分析 GC-MS分析結果より、得られたマススペクトルに対してライブラリ検索を行うことで、化合物を同定いたします。 ●質量分析により、ピークを確実に同定 質量情報が得られるため、検出位置が近いピークや、標準物質と比較してリテンションタ...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 有機物のTOF-SIMS分析 製品画像

    有機物のTOF-SIMS分析

    有機物分析の例としてポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介いたし…

    F-SIMSは元素及び有機物の分子、フラグメントイオンの検出が 可能であり、有機物の分析にも有効です。有機物分析の例として ポリエチレングリコールを分析した事例をご紹介します。 二次イオンマススペクトルは有機物の定性に有効な知見を得られる 場合があります。 今回の事例では、ポリエチレングリコールに特長的な繰り返し構造 (C2H4O)を質量差44のピーク群として確認できます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】Siウエハベベル部の汚染評価 製品画像

    【分析事例】Siウエハベベル部の汚染評価

    金属成分と有機成分を同時に評価可能です

    面の清浄度向上に加え、ウエハのベベル部に残留する物質を除去することが求められています。今回、ベベル傾斜面のTOF-SIMS分析を行い、汚染の分布を評価しました(図2)。また、付着物と正常部・汚染源のマススペクトルを比較し、付着物は汚染源の金属(Cr)成分・有機物成分と一致していることがわかりました。 TOF-SIMSにてベベル部(端面と傾斜面)の汚染の発生工程を捉える事が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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