• OPIE2024_ポジショニングEXPOに出展と製品のご紹介 製品画像

    OPIE2024_ポジショニングEXPOに出展と製品のご紹介

    PR高精度で1軸~多軸構成、高機能コントローラ、グラナイト製品などを統合し…

    【OPIE 2023 ポジショニングEXPO】に出展いたします。 日時:4月24日(水)〜26日(金) 10時~17時 場所:パシフィコ横浜 ブース番号:E-32 【出展製品例】 • 6軸位置決めヘキサポッドステージ • レーザー加工や計測機などに好適なXY+Z位置決めシステム • エアベアリング:XY軸ステージと回転ステージ • 高速高加速リニアモーターステージ • ナノメ...

    • csm_H-811.I2-mit-Bohrungen-00542_AIT.tif_Bilder-Web_7fa740edd1.jpg
    • csm_A-62x.jpg_Bilder-Web_2e5d47b06c.jpg
    • csm_PI_F-712.HA2_Web_c8a018e70f.jpg
    • 20231004_024308906.jpg
    • csm_P-517.3CL_PIC.jpg_Bilder-Web_d3df74366a.jpg

    メーカー・取り扱い企業: ピーアイ・ジャパン株式会社 本社

  • 【メタルシート洗浄機】ブランク材の加工油・指紋・鉄粉を一発洗浄! 製品画像

    【メタルシート洗浄機】ブランク材の加工油・指紋・鉄粉を一発洗浄!

    PR半導体製造装置関連・精密板金加工の洗浄を効率化。危険な有機溶剤や洗剤を…

    メタルシート洗浄機『MSW-1000HE』は、スーパーアルカリイオン水(アルカリ電解水)の洗浄効果と還元力により、パンチング・プレス・レーザー加工・バリ取り作業の油・粉塵・汚れなどを一回の通過で洗浄・乾燥し、防錆効果を発揮。 洗浄の通過速度は素材の汚れ具合によって無段階に調整可能。次工程のバリ取り機のブラシに油汚れが付着せず、快適な作業環境を実現。 ★ワークのテスト洗浄を受け付けております...

    • FireShot Capture 415 - 株式会社Eプラン - www.eplan.co.jp.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Eプラン

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径タイプ』

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSRA 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:φ20~30mm 回転数:15,000rpm 有効測定長:~L40mm サ...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • 日本ミルテック 基板外観検査装置 総合カタログ 製品画像

    日本ミルテック 基板外観検査装置 総合カタログ

    プリント基板実装&半導体外観検査装置の総合カタログです。

    SMT業界向け画像検査装置及びその周辺装置の販売とメンテナンス業務などを行っている、日本ミルテック株式会社の「基板外観検査装置 総合カタログ」です。 次世代微細チップ部品03015の完全検査を実現した「基板実装向け3DAOI装置 MV-9」をはじめ、さまざまなSMT実装業界及び半導体業界向け外観検査装置を掲載しております。 【掲載製品】 ○基板実装向け3DAOI装置 MV-9/MV-7 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ミルテック株式会社

  • ウエハ・チップ外観検査装置 製品画像

    ウエハ・チップ外観検査装置

    表裏同時検査可能!1台でマクロ検査・ミクロ検査どちらもできるウエハ・チ…

    「ウエハ・チップ外観検査装置 HM-256シリーズ」は、3CMOS 320万画素カラーカメラを標準採用することにより、優れた検出能力を持ち、ウエハやダイシング後にチップの外観を高速で検査できる外観検査装置です。 ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が可能で、多様なパターンのチップの検査が可能です。 【特長】 ■品種毎に可変の画像分解能(1.5~5µ)で検査...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒューブレイン

  • FA/マシンビジョンフィルター 製品画像

    FA/マシンビジョンフィルター

    光源とカメラの特性に合わせた適切なフィルターを提供。 白黒/カラー両…

    大きな入射角による波長シフトを抑えた「Stable Edge」を採用、LEDや半導体レーザーなどの光源とカメラの特性に合わせたクリアな画像を得られます。 高い透過率を保持しながら、従来の干渉フィルターに比べてより丈夫で薄型、様々なマウントでのお届けが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エムスクェア 東京営業所

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー NEO』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー NEO』

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC-6-203 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ8mm~ 回転数:18,000rpm(従来比20%up) 有効測定長:20...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径用ワーク回転タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径用ワーク回転タイプ』

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSGB 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:回折光、直接光 対象口径:制限なし 回転数:制限なし 有効測定長:制限なし サンプリング周波...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 極細タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 極細タイプ』

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ4mm~ 回転数:10,000rpm 有効測定長:50mm サンプリング...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

1〜7 件 / 全 7 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • icadtechnicalfair7th_1_pre2.jpg
  • 0324_ma-dodai_枠調整なし_300_300_2109603.jpg

PR