プラスチック溶着工法が変わる『赤外線溶着機シリーズ』

PR独自の赤外線技術により樹脂溶着部だけを加熱！3D形状もダメージなく完全…

赤外線の非接触加熱により、短時間で高い溶着強度と脱落バリなくキレイな仕上がりを実現する溶着技術です。 【特徴】 ■樹脂溶着生産性と信頼度をアップ 非接触で光の当たる所だけを溶融できるので、他に熱影響を与えずヒーター樹脂付着もなし ■ワーク内部へのダメージを与えない マスキングにより、赤外線光を溶着ラインだけに照射し溶融 樹脂ワークの中にある基板やモーター、樹脂歯車などへの熱影響...

メーカー・取り扱い企業： コスモシステム株式会社

ポータブル脳波・多点筋電計測装置「TMSi」

PRERP、運動時、睡眠時の計測に好適！バッテリ残量など、本体全面をLED…

『APEX』は、ERP、運動時、睡眠時の計測に好適な超小型24ch/32ch対応の 脳波計測装置です。 アナログ帯域はDCから350Hz。リファレンスチャンネルはカスタム可能です。 また、32ch/64chの脳波＆多点筋電対応のモバイルタイプの計測装置 「SAGA」もご用意しております。 【APEX仕様(抜粋)】 ■チャンネル数：24ch/32ch ■解像度：24bit ...

メーカー・取り扱い企業： ゼロシーセブン株式会社

多点風速計・超小型風速温度センサ

高さ9mmの超小型高精度な各種風速温度センサを利用した多点風速計。標準…

１つのセンサで温度と風速測定ができるユニークな超小型風速温度センサによる多点風速計。 標準で４ｃｈ～３２ｃｈまでの同時測定が可能。 各センサには個別IDが付帯して、スキャナーユニットのどこに接続してもセンサIDを自動認識して温度風速の高精度な自動計測を提供します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）

【分析事例】XPS多点測定による広域定量マッピング

最大70×70mm領域の組成分布評価

XPS多点測定による広域定量マッピングの事例をご紹介します。 シリコンウエハ上の有機物残渣について、以下の手順で評価いたしました。ピーク強度ではなく存在量（原子濃度）をグラフ化するため、試料凹凸等の影響を受...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XRFによるウエハ上Au薄膜の面内膜厚評価

多点マッピング測定により膜厚分布を可視化

蛍光X線分析（XRF）では、元素分布や膜厚の簡便な評価が可能です。 本事例では、金属薄膜の評価事例として、4inchのSiウエハ上のAuの膜厚分布について多点マッピング測定をした事例をご紹介します。 多点マッピングを行うことで、各点のXRFスペクトルよりFP(Fundamental Parameter)法を用いてAu膜厚を算出し、測定座標より膜厚分布...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【受託測定】　比表面積・細孔分布測定

比表面積・細孔分布測定のことならお任せください！

比表面積測定は、空気浸透法（JIS 5201準拠）と気体吸着法（BET1点法 BET多点法）があり、細孔分布測定は、気体吸着法（BET多点法）と水銀圧入法（細孔容積同時測定）があります。例えば、空気浸透法は容積が既にわかっているセル中に粉体を充填し、空気量及び圧力差を一定としてその透過...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社セイシン企業

粘度測定の受託を承ります。

液体の粘度計測を承ります。サンプル量は少量で、わずか2mlで可能。

致します。 ★サンプル液の測定データに、サンプル液の生測定データ、粘度計校正検査成績表、校正標準液検査表、校正標準液トレーサビリティ体系図を添付致します。 ★サンプル濃度が複数ある場合、若しくは多点温度測定のご要求がある場合は、それぞれの点数にて承ります。 ★納期に関しましては通常ご下命後1週間で承ります。 詳しくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： ジャパンコントロールス 「Japan Controls Co. Ltd.」株式会社 東京本社

粘度測定の受託

液体の粘度計測を承ります。サンプル量は少量で、わずか2mlで可能。

致します。 ★サンプル液の測定データに、サンプル液の生測定データ、粘度計校正検査成績表、校正標準液検査表、校正標準液トレーサビリティ体系図を添付致します。 ★サンプル濃度が複数ある場合、若しくは多点温度測定のご要求がある場合は、それぞれの点数にて承ります。 ★納期に関しましては通常ご下命後1週間で承ります。 詳しくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： ジャパンコントロールス 「Japan Controls Co. Ltd.」株式会社 東京本社

ご希望者全員プレゼント！表面分析の基礎と受託分析事例

〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基…

　X線光電子分光法 　　　・TOF-SIMS　飛行時間型二次イオン質量分析法 　■分析事例 　　　・XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価 　　　・Cu表面の酸化状態の定量 　　　・XPS多点測定による広域定量マッピング 　　　・XPSによるDLCの評価 　　　・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量 　　　・プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 　　　・ケミカルシ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

画像測定サービス｜JTL

微小な部品や薄膜製品などの非接触二次元測定・評価を実施します。

ビスでは、画像測定機と画像測定プローブを利用した非接触による二次元測定を実施致します。 画像測定機（NEXIV）ではレーザーを用いて、非接触での高さ測定、輪郭形状（倣い）測定、プログラム自動測定、多点測定等の寸法測定・各種評価を行うことが可能です。 画像測定プローブ（QVP）では三次元測定機のプローブヘッドに装着することで、大型サイズの印刷物やフィルム状の製品等、通常の画像測定機では測定不可能...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社