- 製品・サービス
112件 - メーカー・取り扱い企業
企業
9件 - カタログ
28件
-
-
-
お持ちの顕微鏡とドッキングも可能！顕微鏡膜測定と２D分光放射オプション…
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションでは、顕微鏡膜測定や...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード
-
-
-
-
顕微分光膜厚計「OPTMシリーズ」※諦めていた膜厚測定を実現
これまでの膜厚計のお悩みをこれ1台で解決。1ポイント1秒測定＆測定エリ…
顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。 【これまでの膜厚計のお悩み】 ■接触式／非接触式どちらでも測定が難しい素材があ...
メーカー・取り扱い企業： 大塚電子株式会社
-
-
-
-
膜厚の測定に好適。多層膜厚み同時測定も可能な非接触ポータブル膜厚計
非接触ポータブル膜厚計は、PC（USBポート）から電源供給。研究現場や製造現場に持ち込み、瞬時に測定できます。 研究室のみならず、 現場でも使いやすいThetaMetrisis社の非接触型の膜厚計です。 【特長】 ○多層膜厚み同時測定も可能！ →例：PMMA/poly-Si/Si3N4/SiO2 10層までの膜厚を測定できます。 ○リアルタイムモニタリングなど 未乾燥の塗膜、硬化収...
メーカー・取り扱い企業： オーテックス株式会社
-
-
-
-
1ライン３CH設置や、工程前後に測定が可能！多ポイント膜厚測定
多CHでの前後の測定が可能な、多ポイント膜厚測定。複数の受光ヘッドを使…
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションにて膜の厚みの差やム...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード
-
-
-
-
独自の電気化学の専門知識を活用した、電気めっきなどの表面処理デジタルツ…
Elsyca製品群は、電気化学のコア技術により、電気めっき（樹脂装飾めっき（POP）、工業用硬質クロムめっき、PCB基板の銅めっき等）、アルマイト処理、電着塗装に対応した、表面処理プロセスのための解析ツールです。 また、関連ソリューションとして、騒音伝播経路解析ツールも提供しています。これは車体の電着塗装プロセスにおいて、均一な膜厚を得るためにあける、穴の位置や数を最適化するのに役立ちます。 ...
メーカー・取り扱い企業： SCSK株式会社 デジタルエンジニアリング事業本部
-
-
-
-
-
測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 【標準測定】 測定範囲（分解能） 対応...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード
-
-
-
-
膜厚解析機能を取り入れた塗装ロボットオフラインプログラミングシステムで…
間の短縮します。 ３．スプレーのOn/Off動作やマクロ動作を各動作パスの任意の場所に定義することができます。それらはOLP機能によってロボットプログラムに出力されます。 ロボット動作に対する膜厚解析 １．塗装スプレーガンに膜厚計算条件を定義することにより、ロボット動作に伴う塗装膜厚をグラフィカルに検証できます。 利点： １．塗装軌跡の作成工数の低減 ２．ガン距離／角度のバラつき低...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社テックスイートジャパン （旧セニット・ジャパン）
-
-
-
-
-
多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応！
光学膜厚測定システム『DF-1045R1』は、反射率スペクトル測定光学系と スペクトル解析ソフトウエアの連携により、薄膜の膜厚・光学定数を 簡便に測定することができる分光システムです。 小型CCD分光器の採用により、省スペース、高速スペクトル測定を実現しました。 柔軟で高機能なスペクトル解析ソフトウエアSCOUTを搭載しているため、 多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応...
メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクノ・シナジー
-
-
-
-
ウェハ・ガラス基板+鏡面基板上の膜厚測定も可能な膜厚測定装置
『LF-1000』は、分光器と光干渉式膜厚解析ソフトを搭載し、各種パラメータの 設定をする事により膜厚測定を可能とした非接触式自動膜厚測定装置です。 本解析ソフトは薄膜の表面及び基盤との界面からの干渉波形を解析することにより、 非接...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ラポールシステム
-
-
-
-
空気中と水中でSi基板上のSiO2膜（シリコン酸化膜）を測定！薄膜解析…
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触水中膜厚計です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 空気中と水中でSi基板上のSiO2膜（シリコ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード
-
-
-
-
【分析事例】シームレスカプセルの三次元構造観察および膜厚解析
X線CTによりシームレスカプセルの評価・解析が可能
シームレスカプセルとは、球形の継ぎ目のないカプセルで、内部に粉末や液体を内包することができ、医薬品などに利用されています。 本事例では、X線CTにてシームレスカプセルの3D構造を評価しました。その結果、皮膜内部に異物が確認されました。また、皮膜の膜厚分布を3Dイメージおよびヒストグラム化しました。このようにX線CTを用いることで、内部構造の確認、異物の調査、膜厚分布等を非破壊で評価可能です。 ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
-
測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、FFT（高速フーリエ 変換）等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 連続測定機能やトラバース機構、データ通信機能の製作も可能ですので、 イ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード
-
-
-
-
3t-analytik社 QCM-Dリはアルタイムで質量変化と粘弾性、…
○ポンプ送液のフロー測定タイプ ○独特の負荷フリーセンサーセル設計により、低ノイズ測定 ○加熱・冷却温度制御付きのフローセル ○内部で対流が極めて起こりにくいユニークなフローセル設計 ○耐ケミカル仕様で、ほとんどの試料溶液に対応 ○共通のユーザー・インターフェースで全自動運転 ○全センサにID番号が振り分けられており、実験を一括管理 ○5秒でセンサー取り付け ○低価格 QCM...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー
-
-
-
-
ピストン内部の油膜、燃料付着など膜厚量を定量化するのに好適なシステムを…
『油膜計測システム』は、計測したい対象物に蛍光剤を混ぜ、蛍光剤が 励起する光源を照射することで計測を行います。 励起させた蛍光剤の輝度を膜厚換算し、油膜厚さを計測することが可能。 ピストン内部の油膜、燃料付着など膜厚量を定量化するのに好適な システムです。 【解析部】 ＜膜厚量解析ソフトウェア＞ ■励起させた蛍光剤の輝度を膜厚換算し、油膜厚さを計測 ■膜厚計測範囲：10...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ナックイメージテクノロジー
-
-
-
-
非接触で不織布などの繊維の膜厚測定 〜サンプル測定実施中〜
透過光を利用してナノファイバー不織布の厚みムラを検出 ○非接触リアルタイム高速計測 ○繊維の表面形状を３D表示 ○ターゲットに即したファイバセンサを交換可能 ...X-Y方向にセンサがターゲットを捕らえ、ファイバを通じてZ軸の厚みを計測。 膜厚換算機能が充実したソフトウェアは“粗さ形状”まで解析を可能。 ex)繊維 透過センサ：厚み100μm以下 表面：平滑ではない 詳細...
メーカー・取り扱い企業： 九州計測器株式会社
-
-
-
-
光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり
シリコンウエハ上の自然酸化膜・シリコン酸窒化薄膜など厚さ数nm以下の極薄膜について、XPS分析によって膜厚を算出した事例をご紹介します。Siウエハ最表面のSi2pスペクトルを測定し、得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程か ら膜厚を見積もることが可能です（式１）。 XPSでは非破壊かつ簡便に、広域の平均情報として基板上の薄膜厚みを...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。...
メーカー・取り扱い企業： 東邦化研株式会社 材料解析部
-
-
-
-
解析波長190nm(DUV)~3,500nm(NIR)、ユーザー要求に…
回転検光子(偏光検出)の駆動に独自の方式を採用した分光エリプソメーターです。膜厚及び光学定数(屈折率、消衰係数)の同時解析ソフトウェアを独自開発し、長年ご利用いただいているユーザーからの要望を取りれた改版を重ね、第4版となっています。このソフトウェアは解析に便利な[対話モード]と繰り返し測定に適した[レシピモード]があります。また、膜厚の均一性評価に役立つ膜厚分布の自動測定も行えます。...ドイツ...
メーカー・取り扱い企業： 伯東株式会社 本社
-
-
-
-
R&D分野において利用出来る特長を兼ね備えた光干渉式膜厚測定装置！
『TohoSpec3100』は、ナノメトリクス社より技術移管された 光干渉式膜厚測定装置です。 多数の納入実績を誇る業界標準機で、測定再精度2Å以下を実現、 リニアアレー受光素子を採用。 高信頼性、高精度、高速をコンセプトとしており、多層膜同時測定や 光学定数(n,k)測定に利用可能です。 【特長】 ■スペクトル解析ソフトにより、多層膜（通常３層まで）の同時測定, 光...
メーカー・取り扱い企業： 東朋テクノロジー株式会社
-
-
-
-
RGBの膜厚が1回で可能！2次元膜厚計ソフト『SR10-FF』
面内の膜厚のばらつきが３D表示で可視化可能！
『SR10-FF』は「SR-5000」による測定データを読み込み、 膜厚演算や解析などを行う2次元膜厚計ソフトトウェアです。 2次元測定の為、通常複数回の測定が必要なRGBの膜厚 『SR10-FF』ですと1回で膜厚測定が可能です。 標準仕様では、0.5μm～15μm(0.001μm)、 標準＋薄膜解析では0.01μm～15μm(0.001μm、0.1nm)の範囲を測定可能。 【測定範囲】 ■...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード
-
-
-
-
多数の納入実績を誇る業界標準機！リニアアレー受光素子を採用
『Model3100』は、受光素子にリニアアレー素子を採用し、 高速測定を実現した光干渉式膜厚測定装置です。 スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の 同時測定および光学定数(n,k)の測定が可能。 各種膜特性に適合したきめ細かなパラメータの設定ができ、より豊富な 各種膜構造の膜厚測定ができます。 【特長】 ■高感度高分解能ヘッド(オプション...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アークステーション
-
-
-
-
SiO2薄膜の厚み測定や、ITO薄膜の厚み測定などに！膜厚演算や解析な…
『SR10-FF』は「SR-5000」による測定データを読み込み、膜厚演算や 解析などを行うソフトウェアです。 標準仕様では、0.5μm～15μm(0.001μm)、標準＋薄膜解析では 0.01μm～15μm(0.001μm、0.1nm)の範囲を測定可能。 その他製品に関する詳細は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【測定範囲】 ■標準仕様：0.5μm～15μm(0....
メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムロード
-
-
-
-
技術情報誌 202304-01 エリプソメトリーを用いた薄膜評価
エリプソメトリによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁…
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 分光エリプソメトリーは光の偏光状態の変化を測定し、光学定数（屈折率・消衰係数）や膜厚を評価する手法として知られている。2021年に導入した高速分光エリプソメトリーM-2000UIによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価について解析例...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター
-
-
-
-
ティーチングアシスタントソフトウエア SWANIST／スワニスト
〈新時代の塗装へ〉ティーチングレスに近づく塗装をSWANISTで実現
塗装ロボットのティーチング作業から作業者を解放 SWANIST／スワニスト。 難しいロボットティーチングをスワニストが解決します。 スワニストは、スワンロボット専用に開発された〈ティーチングアシスタント ソフトウェア〉です。今迄の作業工程が削減され、実際にロボットと連動した画面を見ながら、バーチャル空間で塗装シミュレーションをする事が可能に。 塗装生産の作業性をより簡素化し、塗装コストダウン...
メーカー・取り扱い企業： タクボエンジニアリング株式会社 東金テクニカルセンター
-
-
-
-
-
新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！高性能…
『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
-
-
-
-
-
Adesto RM24EP128KS CBRAM の構造解析
Adesto RM24EP128KS CBRAM の構造解析
Adesto は、省電力、省コストのフラッシュメモリーに代わる技術を提供し、家電、センサー、モニターなどのコネクテッドホーム機器向けに長いバッテリー持続時間を実現しています。CBRAM は省コスト、省電力を提供し、フラッシュメモリーの有力な後継デバイスと見られています。Adesto の CBRAM は省電力性に優れ、CMOS 互換性があり、ディスクリートおよび組み込みメモリー用途向けに製作されてい...
メーカー・取り扱い企業： テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）
-
-
-
-
詳細な状態評価と併せ、膜厚計算が可能
XPSでは試料表面の化学結合状態を評価することができ、波形解析により更に詳細な評価をすることが可能です。加えて、波形解析結果に仮定パラメータを用いることで、表面酸化膜等の膜厚を算出することも可能です。 本資料では、SiC表面の組成・状態評価を行うとともに、取得したピーク強度から酸化膜厚を算出した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
多層膜など多くのパラメーターが一度に解析！小型・高速分光エリプソメータ
分光エリプソメータMASS-105は白色光を用いたエリプソメータです。レザータイプに比べ、多層膜などの多くのパラメーター（膜厚、屈折率、吸収係数）が一度に解析できます。分光器には、2048分割のCCDタイプを用いるなど、性能・機能はパワフルなものとなっています。また、分光解析ソフト“SCOUT”を標準装備し､ファイブラボ株式会社の解析ソフトを補い、より解析力がアップし、研究用としても対応しています...
メーカー・取り扱い企業： ファイブラボ株式会社
-
-
-
-
ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…
あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－ 各種サンプル形態に対応します。 Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析－ IR-OBIRCH...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
-
-
-
-
EHL（弾性流体潤滑）領域の油膜厚さ測定【EHD油膜厚さ試験機】
弾性流体潤滑状態における油膜厚さを、光干渉法の原理を用いて測定します。…
【製品概要】 EHD油膜厚さ試験機は、英国PCS Instruments社が提供する卓上型全自動油膜厚さ試験機で、既に実績のあるEHD1の後継機種にあたります。 【特徴】 従来の光干渉法よりも薄膜(最小油膜厚さ2nm)を測定することが可能です。 オプションの3D-SLIMを使用することで、接触部全体の油膜厚さ分布を解析することが可能です。 【主な評価内容】 油膜厚さ ...
メーカー・取り扱い企業： 島貿易株式会社
-
-
-
-
-
回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催
多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 …
『SE-2000』は、薄膜の膜厚・屈折率を“非接触”で高精度に測定できる回転補償子型の分光エリプソメータです。 ユーザーフレンドリーな解析ソフトを備えており、解析作業が容易。 深紫外から近赤外領域まで幅色い波長領域の測定に対応しています。 材料の組成比、異方性、Mueller Matrix、偏光解消度、反射率・透過率、ドーパント濃度、 リタデーション(R0、Rth)などに関する検査にも...
メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
-
-
発光層のゲストの定量・膜厚評価が可能
有機ELディスプレイは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点を活かし実用化が進みつつあります。発光層では発光効率を高めるために、ホスト分子中にゲスト分子がドーピングされています。今回、有機EL表示素子において赤色画素の発光層材料の同定を行いました。また、新規に段 差計を用いた発光層の膜厚評価や発光層中におけるゲスト材料の定量を行いました。発光層中のゲスト分子の定性・定量ならびに発光...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
-
膜厚測定向け干渉スペクトル測定システム OP-FLMT-IFS
膜厚測定向けの干渉スペクトル測定システム
OP-FLMT-IFSは、小型で取り扱い簡便なFlame-T分光器をベースに、ハロゲン光源、2分岐光ファイバ、広帯域ファイバコリメータおよび分光測定用標準ソフトウェアOPwave+を組み合わせた、膜厚測定向けの干渉スペクトル測定システムです。 取得した干渉スペクトルをユーザ自身のプログラムを用いて解析可能なシステムとなります。 またFlame-T分光器はユーザ独自の膜厚測定システムに検出器として組...
メーカー・取り扱い企業： オーシャンフォトニクス株式会社
-
-
-
-
塗料や溶剤噴射時の膜厚解析を取り入れたサーフェス加工用ロボットに適用！
で塗装パス作成と膜厚検証が同時に行えるので、生産性の向上と 塗装ブースでの塗膜実測回数の削減が見込めます。 【特長】 ■3D形状から簡単にロボット動作パスを作成 ■ロボット動作に対する膜厚解析 ■豊富なシミュレーション・最適化機能 ■高精度シミュレーションの実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社テックスイートジャパン （旧セニット・ジャパン）
-
-
-
-
-
光学モデルを用いたシミュレーションとのフィッティング解析から、膜厚や光…
『SCOUT』は、透過率、反射率、吸収、ATR、エリプソメトリー などの分光スペクトルデータと、光化学モデルをベースにした シミュレーションとのフィッティング解析から、膜厚や光学定数 などを決定するスペクトル解析ソフトウエアです。 豊富な誘電分散モデルなどにより、あらゆる波長領域の 分光スペクトルに対する多様な解析アプリケーションに対応します。 【主な特長】 ■真空紫外領域か...
メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクノ・シナジー
-
-
-
-
小型・低価格・高精度・使い易さを追求して開発されたエリプソメーター
レーザー光による偏光解析法を用いて、シリコンやガラス基板の光学特性や、基板上の薄膜の膜厚や光学特性（屈折率など）を非接触・高精度に測定します。...レーザー光による偏光解析法を用いて、シリコンやガラス基板の光学特性や、基板上の薄膜の膜厚や光学特性（屈折率など）を非接触・高精度に測定します。...
メーカー・取り扱い企業： ハイソル株式会社
-
-
-
-
受託分析・ＳＥＭ観察受託
各種材料・薄膜の評価試験をナノレベルで実現した最高の測定精度 ツールテック東北社『受託分析・SEM観察受託』 ■□■特徴■□■ ■nano Hardness Tester・・・硬さ・ヤング率 ・変位分解能：0.03nm 荷重分解能：1μm ・熱ドリフトの影響を抑えるサファイヤリングシステム ・顕微鏡、AFMでの表面観察 ■Scratch Tester・・・密着力 ・10...
メーカー・取り扱い企業： 有限会社ツール・テック東北
-
-
-
-
ディップコートでAR（反射防止）コートを検討してみませんか？
ディップコート法でも単層コートで反射率1％未満（片面）を実現することが可能です。 ディップコート時の引上げ速度を変えることで、100～160nmの膜厚を5nm刻みでコントロール成膜した実績を膜厚解析データをもとにご紹介致します。 膜厚コントロールを引上げ速度の可変で行えることは、ボトム波長を意図した波長へもってくることが可能となり、光学レンズで求められるボトム波長域550nm～650n...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社エコートプレシジョン
-
-
-
-
設計サイクルへのBournsの技術サポート
Bournsは、リニア電源とスイッチモード電源のいずれにも適用可能な 各種電子部品を提供しております。 Bournsでは、回路保護部品、回路調整部品、位置センシング 制御用部品の 各分野の製品につき、小型化と革新的な新型パッケージングの新製品の 開発を継続的に行っており、さまざまな規格 規制への適合を可能と するソリューションを提供します。 【設計サイクルへのBournsの技術サポート】 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社セイワ
-
-
-
-
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
【要旨】 近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ（magnetic tunnel junction）構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター
-
-
-
-
めっき品質評価と効率的なめっき工程を検討できる電気めっきプロセスシミュ…
Elsyca PlatingManagerは、工業用硬質クロムめっきから、貴金属めっきめっき、プラスチック（樹脂）装飾めっきに至る、様々なめっきタイプに対応した、電気めっき工程シミュレーションソフトです。 めっき対象の幾何形状やその数と配置状況はもとより、めっき槽の形状・配置や、アノード（電気陽極）の形状・配置の他、めっき液（電解液）特性も反映したデジタルツインをコンピュータ上に再現し、その個々...
メーカー・取り扱い企業： SCSK株式会社 デジタルエンジニアリング事業本部
-
-
-
-
-
めっき後のエリアを測定する「画像寸法測定器」などの検査設備をご紹介！
立山電化工業株式会社で使用している検査設備をご紹介いたします。 膜厚・皮膜特性関連検査設備をはじめ、表面解析・寸法関連検査設備や 液分析関連検査設備を保有。 膜厚・皮膜特性関連検査設備では、めっき皮膜を非破壊で精度良く測定する 「蛍光X線膜厚計」や「はんだ濡れ性試験機」などで検査や測定を行います。 【検査・測定機器ラインアップ】 ■蛍光Ｘ線膜厚計 ■破壊式膜厚測定器 ■...
メーカー・取り扱い企業： 立山電化工業株式会社
-
-
-
-
簡易型UVナノインプリント装置ImpFlex Essential
高微細化、低コスト、高スループットのナノインプリントリソグラフィー
簡易型UVナノインプリント装置 ImpFlex Essentialは、従来のフォトリソグラフィーに比べ、高微細化、低コスト、高スループットで次世代の微細加工技術として注目を集めるナノインプリントリソグラフィー。本装置は上位機種であるImpflexをベースに徹底的なコストダウンを行った低価格モデルの装置です。低価格でありながら低残膜と膜厚均一化を実現するインプリントエンジンは上位継承してい ます。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ナノテック
-
-
-
-
【試読できます】-水性の泡立ち対策、膜厚制御と速乾性の両立-
★ 薄膜乾燥におけるコーヒーステインの形成とその対策 ★ 塗膜の透明性！ 粒子の制御、欠陥対策へ向けて！ －－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－ ■ 本書のポイント ＜配合設計＞ ● 泡を中心とした分散不良対策 ● タレとレベリングのバランス調整 ● 主剤と硬化剤の相溶性、水への易分散性 ＜塗布・塗工＞ ● トラブル発生の見極め！ 装置なのか、塗布液なのか？ ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社技術情報協会
-
-
-
-
-
分光システムと顕微鏡システムを高い次元で融合！広帯域顕微分光測定を実現
『DF-1037』シリーズは、高性能な分光システムと高機能な顕微鏡システムを 高い次元で融合させた顕微分光システムです。 新設計コールドフィルターWECFの採用による広いスペクトル測定レンジ(約380～960nm)、 高解像度デジタル画像撮影、スペクトル解析ソフトウエアSCOUTを用いた 薄膜サンプルの膜厚・光学定数解析など、 高度なご要求にお答えする充実した機能が搭載されています。...
メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクノ・シナジー
-
