コーティング剤検査装置『Sonar』

PRUVライトを使った2Dコーティング剤検査装置。独自開発AIを使った気泡…

『Sonar』は、弊社が持つ画像処理検査技術とUVライト＋RG照明を組み合わせたコンフォーマルコーティング剤検査装置です。 コーティング領域の全面検査とコーティング不可領域の任意検査に加え、自社開発AI技術を使った気泡検出機能が標準装備されています。また、レーザー変位センサを使った膜厚測定（オプション）を搭載することでワーク毎のコーティング厚のバラつきを記録することが可能になります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジュッツジャパン

ダイヤモンドライクカーボン膜（DLC）コーティング加工

PR金属から樹脂まで幅広く対応。金型や摺動部品の耐摩耗性向上に。メッキの代…

『PEKURIS COAT』は、当社独自のプラズマイオン注入成膜装置を使用し、 潤滑性に優れたDLC膜をワークに形成するコーティング加工です。 イオン注入効果により、高密着成膜が容易で、ステンレス鋼や工具鋼、 アルミ合金等にも成膜可能。また、低温での処理が可能で、 融点の低い樹脂やゴム、アルミなどにも対応しております。 DLCコーティングでお困りの方は、ぜひお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社栗田製作所 本社・京都事業部

膜厚測定装置『LF-1000』

ウェハ・ガラス基板+鏡面基板上の膜厚測定も可能な膜厚測定装置

『LF-1000』は、分光器と光干渉式膜厚解析ソフトを搭載し、各種パラメータの 設定をする事により膜厚測定を可能とした非接触式自動膜厚測定装置です。 本解析ソフトは薄膜の表面及び基盤との界面からの干渉波形を解析することにより、 非...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ラポールシステム

硬質アルマイト処理

硬度や耐摩耗性を上げることが出来ます。

硬質アルマイト処理は、硬度が高い（Hv450〜500）ため、自動車や機械など工業分野で広く使われています。また、処理後にバフ研磨が可能なので、光沢を求めたい製品などにも採用できます。 ・膜厚を厚く処理出来る 硬質アルマイト処理は皮膜を厚くすることができ、その膜厚は素材にもよりますが30〜100µｍ厚まで可能です。硬度だけでなく膜厚も厚くできることにより、耐久性も向上します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 三和メッキ工業株式会社

水銀プローバ　CV/IV測定システム

水銀プローバ　CV/IV測定システム

を形成した状態で測定 　可能 ◆オートマチックシステム。最大49箇所の測定サイトを指定しC-V、I-V 　特性、TDDB、Vdb、Qbdの酸化膜破壊評価、Dit、ドーピング濃度、酸化 　膜厚、Low-k、High-k等の自動マッピング測定が可能 ◆高い測定再現性。正確に設計された水源プローブ面積と、測定毎に新鮮 　な水銀を使用する独自のメカニズムにより優れた測定再現性を実現 ...

メーカー・取り扱い企業： 雄山株式会社 東京支店

半導体関連装置

ワークの外観検査を目視にて行う装置などを豊富に取り揃えております

半導体関連装置』についてご紹介します。 浜松ホトニクス社製厚み計を使用し、ワークの厚みを測定出来る 「厚さ測定機」をはじめ、搬送ロボットを搭載しておりますので フルオートでの測定が可能な「膜厚測定機」や、ワークにレジストを 塗布する事を目的とした「レジスト塗布(スピンコーター)装置」等をご用意。 ご要望に合わせてお選びいただけます。 【ラインアップ(一部)】 ■厚さ測定機...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ピクリング

真空装置設計・製作からサポートまで短納期でご対応

真空装置の設計・製作から保守作業までお任せを！

【製品】 蒸着膜形成装置 ・各種金属/有機物蒸着膜形成・物性の評価用・薄膜形成・膜厚強度(強化)・温度制御 ・ドーピング・材料研究評価用 【製作例】 ・実験装置設計製作(カスタム仕様)・実験装置改造設計製作(カスタム仕様) ・不活性ガス環境装置・真空乾燥装置(加熱/冷却...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社コスモ・サイエンス

光学式細孔率・細孔分布測定装置

世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔…

【アプリケーション】 ・Low-k膜の細孔率測定 ・色素増感太陽電池のTiO2細孔率測定 ・細孔サイズ（0.5~65nm)、厚さ（50nm～５um)のサンプル 【特徴】 ・膜厚、屈折率、表面積、浸透率、ヤング率、CTE計測も測定可能 ・従来の方式に比べ、短時間での測定が可能（２０分/point) 【仕様】 ・測定可能細孔サイズ（直径）；0.5~65nm ・スポ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

抵抗率／シート抵抗測定器【CRESBOX】

抵抗率／シート抵抗測定器【CRESBOX】

いパソコン+専用ソフトウェアでの操作システム ●測定パターンプログラマブルのため、円型・角型測定可能 ●セルフテスト機能、シリコンウエハ測定用厚さ・周辺位置・温度補正機能 ●シート抵抗・メタル膜厚表示可能 ●円型：最大1,225点、角型：最大1,000点の2-Ｄ/3-Ｄマッピングソフトウェア（オプション） ●対象ウエハサイズ： 2インチ〜8インチ、〜156mm角 （※）その他詳...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず、金属...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』

広い範囲で優れた測定直線性！三次元グラフィックマップとしてPCモニター…

【機能詳細】 ■最大300点まで計測可能 ■自動ドリフト補正 ■ソフトウェアで抵抗の測定範囲を選択可能 ■カセットToカセット式ソーティング ■外部膜厚入力 ■ウェーハマッピング(2次元等高線、3次元グラフィック） ■SPC(Statistical Process Control)統計管理ソフト ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

薄膜太陽電池パネル測定装置

薄膜太陽電池パネル測定装置

太陽電池で必要な様々な光学系、電気系測定が1台で可能です。 　- 分光エリプソ(膜厚、光学特性) 　- ライフタイム測定 　- シート抵抗測定 　- 比抵抗測定 　- ラマン分光 第10世代パネル対応まで対応可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

ロールツーロール分光エリプソメータ

ロールツーロール分光エリプソメータ

ロールツーロールにてノンストップで膜厚を多点測定可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

抵抗率／シート抵抗測定器【WS-8800】

抵抗率／シート抵抗測定器【WS-8800】

動システム】 ◆厚さ測定、P/N判定、温度測定に対応可能（シリコンウエハ） ◆セルフテスト機能、校正機能、広範囲測定レンジ ◆厚さ・周辺位置・温度補正機能（抵抗率測定時） ◆シート抵抗・膜厚表示が可能（メタル膜測定時） ◆カセット数はご要望により、いくつでも対応可能 ◆通信ソフトウェア、SMIFまたはFOUP対応（オプション） ◆最大1,225点のマッピングソフトウェア（オプショ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

ＰＮ判定器 【ＰＮ-50α】

ＰＮ判定器 【ＰＮ-50α】

ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【センサーに近づけるだけで瞬時に判定可能な非接触ＰＮ判定器】 ◆判定方...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

FPD用シート抵抗測定器【NC-50/RG-1200S】

FPD用シート抵抗測定器【NC-50/RG-1200S】

【作業性を考慮した、ガラス基板測定用斜め置き測定ステージ】 ◆セルフテスト機能、測定位置補正、広範囲測定レンジ ◆0.1mm分解能で、測定パターンを任意に設定可能 ◆シート抵抗・膜厚表示機能 ◆CIM通信、2-D/3-Dマッピングウェア ■４探針測定タイプ（RT-3000/RG-1200S)もございます。 ●対象ガラス基板サイズ：680mm×880mm 〜 2,2...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社