小型真空蒸着装置『HVE-100』【クリーンな成膜を実現！】

PRクリーンな成膜が可能な小型真空蒸着装置！シャッタを具備しているので安定…

『HVE-100』は省スペースな小型蒸着装置です。基板成膜面は下向きで 設置、抵抗加熱源からの蒸発で上向きに成膜する配置（デポアップ）です。 シャッタを具備しているので安定した状態で蒸着が可能です。 【特長】 ■高真空排気系：<10^-4Paの到達真空度でクリーンな成膜が可能 ■チャンバはメンテナンスしやすいようにSUS製で内部に防着板を配置 ■省スペース/小型化：W500×D39...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ハイブリッジ 東京営業所

連続離型性乾性離型剤フロロサーフ　微細成型用　ナノインプリント　

PR連続離型性が高く、ナノレベルの表面形状やナノインプリントにも対応「フロ…

焼き付けフッ素樹脂加工・シリコン離型剤を超える高性能フッ素系金型離型剤『フロロサーフ』をご紹介。 従来の離型剤では抜けない、連続離型性を向上させたい　→　そんな時に活躍します。 『フロロサーフ』はナノメータレベルの離型成分が母型表面に結合密着し、強力な非粘着性・潤滑性を金型表面に付与します。 精密複雑な形状の成形や粘着性の高い樹脂やエラストマー、割れやすい薄物の成形において、抜群の連...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フロロテクノロジー

【非磁性金属上の絶縁被膜厚の測定に】渦電流膜厚計 LH-373

小型ボディに多機能を凝縮。アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く…

非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計です。 アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を精度良く測定することができます。 膜厚計として充分な機能を装備しています。 自動電源ON/OFF機能、上下限設定、統計計算等16...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ケツト科学研究所

『ペイントチェッカーシリーズ』　非接触・非破壊方式の膜厚計　

”塗ったすぐ”　と　”乾いたあと”　どちらの塗膜厚も測れる非接触・非破…

『ペイントチェッカーシリーズ』は塗装膜厚を非接触・非破壊方式で測定し、平面はもちろん曲面、小さな凹凸面の測定も可能です。 また、磁性・非磁性問わず金属、磁石、陶器、木材、他（プラスチック、ラバー、ガラスなどは一部可能）など 様々な...

メーカー・取り扱い企業： ユニテクノロジー株式会社

光沢計『micro-Tri-gloss μ』光沢＋膜厚測定が可能

低-中-高光沢の光沢測定と膜厚測定が1台で可能！

micro-Tri-gloss μは、1台の測定器で20°/60°/85°の３つの角度と膜厚（Fe/NFe）の両方が同時に測定可能。 国際規格に準拠して、素早い品質の変動の認識が可能になります。 【特徴】 ■20°/60°/85°光沢を同時に測定 ■膜厚デュアルセンサー Fe/...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テツタニ

アンリツの建築・建設現場向け ソリューション

通信計測器のアンリツがお届けする建築・建設現場向けソリューション

熱・膜厚・音・エネルギーなどの状態計測ソリューションで現場施工や検査の作業効率をお手伝いします 【熱測定ソリューション】 サーモグラフィカメラは、建築物の断熱効果、気密性、設備のチェックなど 幅広...

メーカー・取り扱い企業： アンリツ株式会社 環境計測カンパニー

ピンホール探知器 TRC-250B　レンタル

低周波パルス式、微小電流タイプ

5～25kVの高電圧をかけて塗膜欠陥部を短絡させ、スパークを発生させて検知します。ブザー・ランプ付きで、対象の塗膜厚さは1mm以上です。低周波パルス式、微小電流タイプのため、皮膜をいためることなく、高電圧ピンホール検査ができます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レックス

コーティング検査装置『TROI-8800CIシリーズ』

反転機を通して両面検査機能が可能！コーティング膜厚の測定装置

『TROI-8800CIシリーズ』は、光の屈折を利用した精密な測定法により、 コーティング膜厚の測定が可能な検査装置です。 ユーザー利便のためのUI及び簡単なプログラミングが特長。 検査結果情報の共有及び自動連動することで、品質管理、品質向上に 活用できます。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ペントロンジャパン

表面検査装置　FRT

表面測定装置　FRT

測定パラメーター ウェーハ厚み・TTV・BOW・WARP・トポグラフィ・表面粗さ・ 平坦度・ステップハイト・パンプ径・構造寸法・キャビティ深さ 膜厚　等...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社トリコ 東京支店

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず、金属...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

ピンホール探知器　TRC-70B　レンタル

低周波パルス式、微小電流タイプ

1～6kVの高電圧をかけて塗膜欠陥部を短絡させ、スパークを発生させて検知します。ブザー・ランプ付きで、対象の塗膜厚さは1mm以下です。低周波パルス式、微小電流タイプのため、皮膜をいためることなく、高電圧ピンホール検査ができます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レックス