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    無機防汚コーティング剤『エクセルピュア』による気化冷却効果

    PR親水性による水膜形成で気化冷却を促進。空調室外機や屋根の散水冷却などに…

    『エクセルピュア』は、アクリル、ポリカーボネート、PET、 ガラスなどの基材表面に超親水被膜を形成するコーティング剤です。 親水性により、被膜表面に付着した水分が薄い水膜を形成し、 水分の蒸発が促進されることで気化冷却効果が生まれ、 施工部分の冷却効率が改善されます。 ★PDFダウンロード”より、本製品のカタログのほか  散水後の表面温度観察結果をまとめた資料をスグにご覧いただ...

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    メーカー・取り扱い企業: 中央自動車工業株式会社 営業開発部 営業推進グループ

  • 【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析

    ダイヤモンドライクカーボン(DLC)やグラフェンの深さ方向分析が可能

    TOF-SIMSは深さ方向に質量スペクトルの取得が可能であるため、各層の定性を行うことで非常に薄い層の成分の解析が可能です。 本事例では、ハードディスクを深さ方向に分析を行いました。その結果、表面に形成されるダイヤモンドライクカーボン(DLC)層は2層構造となっており、表面側では窒素が含まれる...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • シミ分析の受託サービス|JTL 製品画像

    シミ分析の受託サービス|JTL

    試料表面の微量なシミの分析から調査まで一貫してご対応します。

    かにします。 ●シミの広がり具合を調査 マッピング分析により、シミの広がり具合を調査できます。 元素を濃度で色付けすることにより、視覚的にサンプルの状態を把握することが可能です。 ●薄いシミも分析可能 酸化膜等の、ナノオーダーの非常に薄いシミも分析可能です。 ESCA/XPSを用いることにより、表面nmからの分析に対応しております。また、イオンスパッタリングにより、深さ方向の分...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 技術情報誌 202001-01 in-situ STEM 製品画像

    技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    ンサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ(magnetic tunnel junction)構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温度によって磁気特性が変化することから、本稿ではin-situ TEMを用いて、加熱に伴う結晶性や元素分布の変...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 表面処理層の構造解析 製品画像

    表面処理層の構造解析

    シランカップリング剤処理の効果を高める処方を分析結果から導きます!

    当社では、分析が難しいnmオーダーの薄い表面/界面層の構造を推定し、 シランカップリング剤の処理条件の最適化に貢献します。 反応液の状態把握や付着量の比較が可能で、複数の分析手法を組み 合わせることで、精度がUP。 シラン...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社KRI

  • 【分析事例】汚染原因となる工程の調査 製品画像

    【分析事例】汚染原因となる工程の調査

    手袋由来の汚染の評価

    半導体デバイス製造において汚染工程を調べるため、不良の原因となる薄い付着物が何に起因するかを調べる必要があります。EDXでCが検出され、XPSで定量を行った付着物について、TOF-SIMSで分析を行いました。各工程で使用している標準試料の手袋と比較をしたところ、手袋...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AES分析による積層試料の割断面評価 製品画像

    【分析事例】AES分析による積層試料の割断面評価

    割断サンプルで50nm薄膜を可視化

    が、試料の断面からAES測定を行って元素分布像を得ることで、層構造を明瞭に評価することが可能です。積層構造の評価やトレンチやホールの内壁の元素分析に加え、機械加工やイオンビーム加工を併用することで、薄い合金層や元素の拡散・偏析等も評価可能です。 本事例ではSi基板上に成膜された薄膜について、AES分析を用いて評価したデータをご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価 製品画像

    【分析事例】AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価

    SEM観察を行いながら検出深さの浅い元素分析が可能

    金属表面の変色や異物の簡便的な調査にはSEM-EDX分析やAES分析が適していますが、変色や異物が薄い・小さい場合は、表面のごく浅い領域(4~5nm程度)の情報が得られるAES分析が有効です。 MST保有のAES装置はSEM像を取得できるため、SEM像で着目箇所の確認をしながらAES分析を行うこと...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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