【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

走査型電子顕微鏡用3次元ビュー&解析ソフトウエア『Mex』

メニューによる簡単な操作！特殊アルゴリズムで高精度なハイトマップを作成…

『Mex Ver.5.0』は、走査型電子顕微鏡用の3次元ビュー&解析ソフトウエアです。 SEM及びステレオペア画像から直接3次元計測が可能で、特殊アルゴリズムで 高精度なハイトマップを作成します。 2次元画像計測機能を搭載し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ソリューション　システムズ 本社

不良解析サービス

多様な解析手法と適宜対応で製品の品質向上に役立つサービスをご紹介

■外観検査、断面検査、X線検査、SEM（走査型電子顕微鏡）解析 ■EDX（エネルギー分散型X線分析装置）による元素解析 ■FTIR(フーリエ変換赤外分光法)　　　　　　　等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社佐用精機製作所

異物調査

不具合原因調査をサポート！

ります。 また、対象試料は食品異物、ゴム類、樹脂・プラスチック類、油脂類、鉱物等の 無機化合物類に加え金属破断原因調査と幅広い試料での調査実績があります。 【概要】 ■SEM(走査型電子顕微鏡)による観察 ■EDX(エネルギー分散型X線分析装置)による元素の定性分析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アサヒテクノリサーチ

解析・信頼性評価

実装プロセス目視観察から信頼性評価まで！自社技術者による迅速な解析、評…

【解析・評価内容　概要】 ＜実装組成状態分析＞ ■走査型電子顕微鏡(SEM)による高倍率観察と元素分析(EDS) ■フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)による有機物分析 ＜RoHS、REACH対応＞ ■蛍光Ｘ線元素分析装置(EDX)によるRoHS指...

メーカー・取り扱い企業： 沖電気工業株式会社 EMS事業部