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8件 - カタログ
25件
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走査型電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分光器での分析サービス
樹脂包埋、切断、研摩などによる試料調整を行い、断面形状観察および元素分…
株式会社サンコー分析センターでは、走査型電子顕微鏡・エネルギー 分散型X線分光器を用いた分析を行っております。 走査型電子顕微鏡(SEM)では、試料に電子線を走査し、表面から発生 する二次電子や反射電子を像に変換することで試料の形状...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンコー分析センター 本社
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極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画…
当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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難電導性試料の無蒸着観察可能!繊維等の表面観察に最適な走査型電子顕微鏡…
『走査型電子顕微鏡(SEM)』は、細く絞った電子線を試料に照射、走査し、 二次電子や反射電子を検出してその強度をモニター上に映像として表示する ことによって対象物の拡大像などを得る装置ですです。 像質...
メーカー・取り扱い企業: コベルコ溶接テクノ株式会社
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光電子分光関連装置~超高真空技術を駆使した走査型トンネル顕微鏡(STM…
光電子分光(PES)の黎明期からその重要性に着目し、世界のトップブランドとして、多くの関連装置を開発し、市場に導入してきました。 その他、超高真空技術を駆使した走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力顕微鏡(AFM)など、卓越した製品群を通じて市場に提供し続けています。 【紹介製品※一部抜粋】 1) HAXPES Lab ラボ型硬X線光電子分光分析システム(放射光施設でのみ可能で...
メーカー・取り扱い企業: シエンタ オミクロン株式会社
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市販品で最も多機能、高性能な多探針SPMシステムでナノテクノロジー研究…
JST先端計測開発事業の委託により、世界初ユニソクの総力を挙げて開発された最新鋭の多探針プローブ顕微鏡システムです。4探針独立にプローブ顕微鏡走査で、極低温領域から広い温度範囲でマイクロ・ナノスケールの表面電気伝導測定やナノデバイスの評価に使用されます。 独自に開発された多機能プローブを使用して高分解能を実現し、広範囲の応用計測が可能となります。...特長: ・電子顕微鏡によるナノスケール...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニソク
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白色干渉搭載レーザ顕微鏡や顕微ラマン分光測定装置など!分析機器を多数掲…
当資料では、さまざまな分析機器を一覧表にしてご紹介しております。 「高分解能ガスクロマトグラフ質量分析装置(HRGC/HRMS)」をはじめ、 「超薄膜スクラッチ試験機」や「マイクロビッカース硬さ試験機」など 豊富に掲載。 また分析項目は、分子量分布や分離分析といった“材料分析関連”と、 放射線測定や悪臭分析などの“環境測定分析関連”がございます。 ぜひ、ダウンロードしてご覧...
メーカー・取り扱い企業: 東邦化研株式会社
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走査型電子顕微鏡(SEM) 観察下でのナノ/マイクロマニピュレーション…
UMP-1000-4P はナノメートルレベルで XYZ3 軸の動作が可能なマニピュレーター/プローバーです。 標準でXYZ3軸ピエゾステージ4台、サンプルステージ1台、ステージコントローラー1式から構成されます。...小型、軽量で市販のSEM(SEM : Scanning Electron Microscope)に取り付けることが可能です。 ノートパソコンを用いて容易に操作できます。各プローブ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニソク
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細く絞った電子線を試料に照射!結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微…
『FE-SEM(電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡)』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法(...
メーカー・取り扱い企業: コベルコ溶接テクノ株式会社
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材料強度や硬さ・耐摩耗性などの評価試験、物理・物性試験を多数掲載!
【掲載内容(その他)】 ■CTOD試験 ■X線回折試験 ■走査型電子顕微鏡(SEM)観察 ■FE-SEM(EDS/EBSD付)観察 ■電子線マイクロアナライザ(EPMA)分析 ■X線光電子分光(XPS)分析 ■マクロ・ミクロ組織観察 ■透過型電子顕微鏡(T...
メーカー・取り扱い企業: コベルコ溶接テクノ株式会社
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EBSDデータおよびEDS/WDSスペクトルイメージの同時収集が容易に…
『Quasor II EBSD System』は、EBSDデータおよびEDS/WDSスペクトル イメージの同時収集が容易に行える電子線後方散乱回折解析装置です。 走査型電子顕微鏡(SEM)およびマイクロアナリシス分析によって観察される 幅広い材料の物理特性に影響を与える結晶構造を特性評価します。 1回の測定でサンプルの構造情報も化学的情報も得ることができます。...
メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.
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大気中・真空中・低温環境での試料やプローブの回転動作・角度微調整に対応
コンパクト設計により様々な走査型電子顕微鏡(SEM)、集束イオンビーム装置(FIB)等に組み込むことが可能です。(詳細はご相談になります) 回転角度が検出可能な機種もオプション設定しております 。 当社製XYZ 3軸ナノ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニソク
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製品・材料に係る規制に適合しているか否かの分析・評価も実施します。 …
解/加熱脱着ガスクロマトグラフ質量分析計(Py/TD-GC-MS) ・顕微フーリエ変換赤外分光光度計(μFT-IR) ・蛍光X線分析装置(XRF) ・走査型電子顕微鏡-エネルギー分散型X線分析装置(SEM-EDS) ・X線回折装置(XRD) ・熱分析装置(TG/DTA, DSC) ※詳しくはPDF資料をご覧いた...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社タツタ環境分析センター
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