チップ抵抗ネットワーク1005×4

PR実装コストの低減を実現！電極が凸型形状のチップ抵抗ネットワーク

当製品は、電極が凸型形状のチップ抵抗ネットワークです。 部品搭載回数の減少による実装コストの低減を実現。 最高使用電圧は25V、定格電力は1/16Wです。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【仕様(抜粋)】 ■素子数：4 ■回路記号：D（独立回路） ■包装数量：10,000 アイエイエム電子ではチップ抵抗ネットワークを始め各種厚膜チップ抵抗器を製造販売しております。 ※詳...

メーカー・取り扱い企業： アイエイエム電子株式会社

工作機械クーラント用ファインバブル浄化装置『バブルフレッシャー』

PR夏場に発生する腐敗臭を低減！液中の細かい汚れの浮上分離により、切削液の…

『バブルフレッシャー』は、クーラント中に浮遊する汚れを水面に集めて、 日常の清掃を簡単にするファインバブル浄化装置です。 腐敗臭を低減し、作業環境をより良くします。 また、クーラント寿命が長くなり、作業性・生産性が向上。 DC24V専用ポンプにより、低電圧安全設計を実現しています。 【特長】 ■小型で邪魔にならない ■水中に置くだけ簡単設置 ■薬剤なしで安全に臭い抑制 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社坂本技研

高電圧絶縁信頼性試験装置『HVUαシリーズ』

高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録が可能！筐体デザインも…

『HVUαシリーズ』は、部分放電による瞬間的な電流変化も検出可能な 高電圧絶縁信頼性試験装置です。 最大4000Vの印加電圧で高電圧デバイスのTDDB試験、インバーター回路基板等の エレクトロケミカルマイグレーション試験、各種高電圧部品の絶縁信頼性試験 などにご...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

高電圧絶縁信頼性評価装置　HVU-3000

最大５０ＣＨの独立電源を採用！　絶縁信頼性試験、評価試験装置

最大５０チャンネルまでの、高電圧での絶縁信頼性試験ができる、評価試験装置です。 ◆特徴◆ ◇最大３０００Ｖまでの高電圧出力 　高電圧デバイスの評価が可能。 ◇独立電源を採用 　１つのサンプルが短絡しても、他のサンプル...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

絶縁抵抗測定器『ECM-500シリーズ』

500Vの印加電圧で試験可能！エレクトロケミカルマイグレーションテスタ…

『ECM-500シリーズ』は、最大500Vの印加電圧でプリント配線板、電子材料 などの絶縁信頼性 評価試験ができる高精度テスターです。 CH毎に印加電圧設定が可能な電源出力回路は、フィードバック制御により サンプル両端電圧が設定値になるよう...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

電波暗室レンタルサービス（EMC、EMI、ノイズ対策）

関西圏で電波暗室をお探しのお客様にEMI対策に特化した設備をリーズナブ…

て、電波暗室レンタルサービスでは次のシステムを一括でご利用いただけます。 ●放射エミッション測定システム　（測定範囲：9 kHz　～　6 GHz） ●雑音端子電圧※1測定システム　（測定範囲：150 kHz　～ 30 MHｚ） ●電磁波可視化システム...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

ノイズ測定・診断・対策

EMC指令に加え、低電圧指令・機械指令の支援も対応！ノイズに関する相談…

は、10m法大型電波暗室・シールドルームを完備。 お客様のご指定場所による「オンサイトテスト（現場のEMC試験）」も可能です。 また、「CEマーキング適合支援業務」では、EMC指令に加え、低電圧指令・ 機械指令の支援も承ります。 ご用命の際は、お問い合わせください。 【産業機器、情報処理装置、家電のエミッション試験】 ＜試験項目＞ ■電源端子妨害電圧 ■放射電界強度 ...

メーカー・取り扱い企業： 双信電機株式会社 東京本社

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ・加速電圧0.1～30kVの範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能（装置による） ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能 　EDX検出器による元素分析が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

絶縁劣化評価システム　マイグレーションテスター

一括数百個の絶縁試験が可能、マイグレーションテスター

が行えます 　◇レポート機能を搭載しています □高性能＆高機能 　◇印加と計測はｃｈ毎に完全独立で１６ｍｓの計測間隔を達成 　◇最大４００ｃｈまでの増設が可能です 　◇各チャンネル毎に試験電圧が設定可能です □高い信頼性 　◇自己診断機能により異常計測を未然に防止 　◇データをＣＦカードへ記録するため、簡単にデータ抽出が可能 □シンプルなシステム 　◇テスター本体だけで計測が可...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

耐トラッキング性試験

白金製電極間に電圧を印加し、トラッキング破壊が生じるまで電解液を滴下す…

白金製電極間に電圧を印加し、トラッキング破壊が生じるまで電解液を滴下する。規定の滴下数で破壊しない電圧で評価する。 ・IEC60112 CTI(Comparative Tracking Index 50滴耐える...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

パワーサイクル試験受託サービス

パワーデバイスの熱疲労を評価するパワーサイクル試験を承ります

【装置スペック（一部抜粋）】 ■1号機 　・最大印加電流：800A/10A 　・最大印加電圧：5V/400V 　・チャンネル数：10 ■2号機 　・最大印加電流：532A 　・最大印加電圧：10V 　・チャンネル数：5（2素子/CH） ■3号機・4号機 　・最大印加電流：18...

メーカー・取り扱い企業： シーマ電子株式会社

高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格（抜粋）】 ■JEDEC（JESD78E） ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大使用周囲温度 ■JEITA｛JEITA ED4701／302（試験方法306B）｝ ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ESD(CDM)試験受託サービス

印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも…

【装置仕様】 ■印加(充電)電圧：0～±4000V ■ステップ電圧：5V ■印加回数：1～99回 ■ピン数：最大1024ピン ■印加ユニット：JEDEC、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ方法 　・D-CDM(直...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

絶縁耐力

50Hzまたは60Hzの商用周波数の電圧を、試験片を挟んだ電極間に与え…

50Hzまたは60Hzの商用周波数の電圧を、試験片を挟んだ電極間に与え、試料の破壊する電圧を求めます。絶縁破壊強さ(max 70kV)( IEC60243, ASTM D149, JIS C2110)、測定方法　：短時間法, 段階法, 耐...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

導電体の測定

導電性のゴムの規格であるが、導電性プラスチックの抵抗測定に応用していま…

電性のゴムの規格であるが、導電性プラスチックの抵抗測定に応用しています。 測定方法：試験片の両端に向き合う形で、平行に設けた電極を用い、体積抵抗率を求めます。外側電極に微少電流を流し、内側電極間の電圧を測定し、抵抗を求めます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

１.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度が上昇し、抵抗が変化する。 ２.レーザの走査に同期して電流値（または電圧値）を読み取る。 ３.ボイド・析出物等の欠陥は配線正常部とTCRが異なるため、抵抗変化量も異なり特異な電流値（または電圧値）として検出される。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

X線透過観察サービス｜JTL

X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。

【最小焦点寸法：0.25μmでの高分解能観察】 焦点寸法が最小で0.25μm（理論値）であるため、数ミクロン～数10ミクロンオーダーでの高分解能観察を行うことが可能です。 【X線管電圧：30kV～160kVの幅広い透過力】 X線管電圧が30kVから160kVまでと装置によってX線の透過力が異なり、試料のサイズ・評価目的に応じた幅広い観察に対応しております。 【多方向からの...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

WDXによる元素分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。

光結晶も装備されていますので、B～Uまでの元素の高精度な定量が可能です。 【微小領域（サブミクロンオーダー）の分析空間分解能】 FE-EPMAは電解放射（FE）型電子銃を採用しており、低加速電圧、WDX分析電流範囲 (10～100 nA) でも微小プローブが得られるため、低加速電圧を用いた高いX線空間分解能の分析が可能です。 サブミクロンオーダーまで分析領域が絞れるため、30,000倍程...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

■広がり抵抗とは 試料にバイアス電圧を加えて、探針直下に存在するキャリアを探針に流入させ、その電流を対数アンプで増幅して、抵抗値として計測します。このとき、印加したバイアス電圧は、探針の直下で急激に減衰します。そのため、探針に流入でき...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

FE-EPMAによる受託サービス｜JTL

電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）による微少領…

。 分析と同時にSEM像の撮影（二次電子像、反射電子像他）も可能です。 【微小領域（サブミクロンオーダー）の分析空間分解能】 FE-EPMAは電解放射（FE）型電子銃を採用しており、低加速電圧、WDX分析電流範囲 (10～100 nA) でも微小プローブが得られるため、低加速電圧を用いた高いX線空間分解能の分析が可能です。 サブミクロンオーダーまで分析領域が絞れるため、30,000倍程...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

恒温恒湿試験機による受託サービス｜JTL

温湿度サイクル試験、高温放置試験、低温放置試験等の試験にご対応します。

・湿度環境下での環境試験へのご対応が可能です。 ・恒温恒湿試験 ・温湿度サイクル試験 ・ヒートサイクル試験 ・高温放置試験 ・低温放置試験　　など 試験を行いながらの製品温度測定や電流・電圧・抵抗のモニタリング、試験前後の写真撮影や寸法測定など、恒温恒湿試験機に関わる評価を一手に実施致します。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm, SE...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

スタティックオネストメータによる半減期測定

電荷減衰測定装置　STATIC HONESTMETER Type S-…

【特徴】 ○コロナ放電により生成した空気イオンを照射 ○極性と印加電圧を選び、試料を正・負のいずれにも帯電させ電圧値も可変 ○帯電性試験方法JIS L 1094の半減期測定器に準拠して、試験が可能 ●その他機能や詳細についてはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

ユカインダストリーズ株式会社『一般特性試験』のご紹介

電気絶縁油の保守管理！一般特性試験

ユカインダストリーズ株式会社では、電気学会および石油学会の 「電気絶縁油保守管理指針」に基づき絶縁破壊電圧、体積抵抗率、 酸価、水分量などの特性評価を行っております。 劣化した絶縁油は、絶縁性能や冷却性能が低下するため、定期的な 分析をお勧めしております。 年間約5000試料、これまで約...

メーカー・取り扱い企業： ユカインダストリーズ株式会社 東京本社

パワーサイクル試験（パワーモジュールの信頼性評価）

パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…

易 ■ON時間：0.01sec～300sec（0.01秒単位で設定可能） ■冷却時間：0.5sec～1,000sec ■冷却温度：水冷式／-5℃～100℃、空冷式／-40℃～175℃ ■試験電圧：最大15V程度（8V以上は要相談） ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【X線CT：受託計測】非破壊内部検査　

非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能！ X線CTによる受託計測・解析…

【保有装置】　 　METROTOM1500 225kV 【装置スペック】 ・最大管電圧　　 　 ｜　225kV ・最大ワークサイズ ｜　Φ615ｘｈ800ｍｍ ・測定精度　　　　 ｜　MPE SD：4.5µｍ+L/50 　　　　　　　　　　　 MPE E : 9.0µｍ+...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社進和 戦略営業推進室

パワーデバイスのHAST試験

パワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能！…

【仕様】 　試験電圧 ：最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン･保護抵抗110kΩ) 　試験数量 ：最大30個 (正極側) 　対応モジュール ：TO-247､TO-220 等 (その他のパッケージは要相...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ノードソンDAGE　Ｘ線検査装置・Ｘ線ＣＴ装置

クラス最高の解像度 管球メンテナンスフリー

機の特徴 ・ノードソン・デイジ社製メンテフリー仕様、シールド・トランスミッシブ管Ｘ線発生器 『Quadra NT』搭載 ・認識解像度 0.1μm（10Wまで）/ 0.3um（20Wまで） ・管電圧30-160kV、最大出力20W ・6.7M pixel フラットパネル検出器『Aspire FP』搭載 ・24インチ 4K モニター x2（デュアルモニターシステム） ・最大幾何学倍率 2,...

メーカー・取り扱い企業： オーヨー株式会社

コンパクトCT機器『Phoenix V|tome|x C』

低コストで生産工程向け堅牢かつ省スペース設計！信頼性のコンパクトCT

【主な技術仕様】 ■MiniフォーカスX線管：密閉管ISOVOLT 450 M2/0.4-1.0HP ■最大管電圧/パワー(消費電力)：450 kV @ 700 W/1500 W ■焦点サイズ：0.4 mm (max. power 700 W)／1.0 mm (max. power 1500 W) ■フォー...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

m程度） ・SEM・SEM-STEM・TEM像観察用試料作製（特定箇所の断面出しが可能） ・微細パターン（数μm～数十μm）のデポジション薄膜形成が可能（C・W・Ptの成膜） ・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM（Scanning Ion Microscope）像観察が可能 ・SIM像で金属結晶粒（Al, Cu等）の観察が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［GC/MS］ガスクロマトグラフィー質量分析法

有機化合物の定性・定量を行う分析手法です

成したイオン（分子イオン）の一部はさらに開裂してフラグメントイオンが生成します。 ■質量分離(四重極型) 生成したイオンは4本のロッドからなる四重極型質量分析計に導入されます。ロッドにかける電圧を調整することにより、特定の質量のイオンのみが検出器に到達し分子の質量情報を有するマススペクトルが得られます。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

車載機器に特化した『信頼性試験サービス』

車載機器の信頼性試験（環境試験、耐久性試験等）をワンストップでご提供！…

試験要求にも対応しています。 ●環境試験 温度・湿度・気圧・振動・衝撃・防水・粉塵・塩分などを代表とした様々な外的環境要因を模擬し、機器の耐性を評価 ●耐久性試験 温度差・振動・過渡電圧など様々なストレスに対し、対象の電子部品の劣化状態から製品寿命を確認したり、製品の潜在的な欠陥や脆弱性の発見をサポート 【特長】 ■車載機器に関するEMC試験や無線試験等その他のサービスもワ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社UL Japan

『設備校正サービス』

◆◆メーカーでしか出来ないと思っていませんか？　現地校正なら是非大王電…

主な対応機種】 ○電気計器 →直流電圧電流発生器、直流校正装置、変成器、 　抵抗器、デジタルマルチメータ ○高周波計器 →レベル計、雑音電圧計（ノイズメータ）、高周波電力計、 　ノイズフィギュアメータ、モジュレーションアナライザ...

メーカー・取り扱い企業： 大王電機株式会社

ESD/Lu・CDM・GL試験

熊本事業所にて承っております

恒温槽　　 ：　MAX125℃ デバイス帯電モデル試験 【適合規格】　◇JEITA/EIAJ/JEDEC/EOS/AEC 【装置仕様】 　◇最大使用可能ピン数：1024ピン 　◇印加電圧　　：　0～±4000V 　　　　　　　　　（5Vステップ) ゲートリーク試験 【適合規格】　◇AEC-Q100-006　 【試験内容】 高温下でICに高電圧を加えることが で...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レスター 厚木事業所,熊本事業所,大分事業所,鹿児島事業所

【分析事例】液晶材料の分子構造解析

GC/TOFMSにより液晶ディスプレイ中液晶分子の構造推定が可能です。

液晶パネルの応答速度、駆動電圧、コントラストの信頼性特性は、液晶分子構造などに起因します。そのため、分子構造の詳細を解析することは、液晶パネルの表示特性を制御するのに不可欠です。ここでは、市販品のパネル中の液体成分を抽出し、GC...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

450kVミニフォーカスX線CTスキャンサービス

ハイコントラストな画像が可能です

X線管タイプ：ミリフォーカスクローズドチュープ 最大管電圧 / 最大出力：450kV / 100W フォーカスと検知器との距離（FPD）：1,300mm 倍率：1.37-2倍 検出能力：100μm*但し、サンプル及び計測条件による 測定許容誤差：...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社光佐株式会社

［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

気容量変化によるキャリア分布の可視化 探針と半導体との接触箇所はMOS構造となり、半導体表面の酸化膜の静電容量COxと半導体の静電容量CDが接続された系とみなすことができます。この系に対して高周波電圧VACを印加すると、合成容量Cが変動します。 この変動は探針直下の半導体中のキャリアの振動によるものにほかならず、変動の大きさは探針直下のキャリア濃度に依存します。 探針を走査させながら、合成容...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

試料の表面SEM像および断面TEM像 図５　Sn 0.1%狙い試料の制限視野電子回折パターン 図６　Sn濃度のSIMS分析結果 図７　sMIM-C信号プロファイル 図８　CLスペクトル（加速電圧3kV）...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

パワーモジュール向けアジレント・カーブトレーサー先着5社対象！

最大電流1500Aを150μ秒で連続パルス通電が可能。アジレントB15…

★キャンペーン枠には限りがあります。お問い合わせはお早めに！★ 【AgilentカーブトレーサB1505Aの仕様】 ○パワーデバイス評価用の単体測定器 ○最大電流1500A ○最大電圧10kV！ ○150μ秒で連続パルス通電が可能 自動車用、産業用、電気製品用など様々な業界で需要が増すパワーデバイス。AgilentカーブトレーサーB1505Aで実験し、パワーデバイスの評価...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンケイエンジニアリング 本社

工業用CTスキャン受託サービス

CTスキャンによる三次元測定！幅広い材料に適用し研究や設計支援に役立ち…

【装置仕様(抜粋)】 ■XT H320(Nikon Metrology) ・X線源：320kV / 225kV ・最大管電圧･出力：320kV 320W / 225kV 225W ・焦点サイズ：30μm / 3μm ・最大倍率(分解能)：25倍(8μm) / 150倍(1.3μm) ・ディテクタ：Flat Pane...

メーカー・取り扱い企業： 中外テクノス株式会社

オンサイトEL測定サービス『トライアルパック3』

3ストリング限定(パネル50枚程度)の事前測定で全体検査の要否を的確に…

『トライアルパック3』は、PID(電圧誘起出力低下現象)やセル割れの発見に 効果的なEL測定です。 3ストリング限定(パネル50枚程度)の事前測定で全体検査の要否を的確に 判断。売電収入確保と維持管理費用の効率的運用を両立でき...

メーカー・取り扱い企業： ヤマシタ電気株式会社

四探針法による抵抗測定

試料に4本の針状の電極を直線上に置き、外側の二探針間に一定電流を流し、…

四端子法(電流電圧法)と同じ原理により、試料に4本の針状の電極を直線上に置き、外側の二探針間に一定電流を流し、内側の二探針間に生じる電位差を測定し抵抗を求めます。次に求めた抵抗に試料厚さ、補正係数RCF(Resist...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

絶縁体の抵抗率測定

体積抵抗率、表面抵抗率は試験片の形状要因が反映されるのに対して、絶縁抵…

、表面抵抗率は試験片の形状要因が反映されるのに対して、絶縁抵抗はテーパーピン間の抵抗値（Ω）で直に示します。 測定方法：絶縁体の体積抵抗率、表面抵抗率測定と同様に、テーパーピンの電極間に500Vの電圧を印加し、1分後の抵抗を測定します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

102 ギヤー式老化試験機(強制循環式空気加熱老化試験機)

タッチパネルで直感的な操作と様々な機能を実現！

数　7.5 ± 2.5 rpm ■安全装置過　熱防止装置、漏電ブレーカー ■付属品　丸型試験片取付回転枠 2 段、クリップ 40 個、角型網棚 2 枚 ■オプション　CSV 出力仕様、アナログ電圧出力仕様、ミニプリンタ仕様、UL 規格対応仕様、空気置換率は100 ～ 200 回/hr にも調整可能 ■寸法、重量 SHF-S 型：約 W1,180 × D700 × H1,560 mm、約 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安田精機製作所

ノイズビジョン～電波暗室レンタルサービス～

アンテナ放射エミッション・雑音端子電圧について、認証前の対策・検討をW…

機器の高速化に伴い製品開発の工程においてEMI（Electro-Magnetic Interference）対策の占める割合が増加する傾向にあります。 このような状況の中、EMI対策・検証のため電波暗室やエンジニアの確保にお困りではないでしょうか？ ...【性能】 　・サイトアッテネーション　（ANSI　C63.4） 30MHz～　1GHz　±4dB以内（補正値導入後） 1GHz以上は基準と...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

電子顕微鏡での受託観察

走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能…

械名）：走査型電子顕微鏡（FE-SEM）　S-4000（日立） ・主な仕様 　倍率：　×100～300,000倍　（～100,000までは保証範囲） 　試料台サイズ：　15mm（径） 　加速電圧：　0.5～30ｋV ・機器の概略：試料表面に電子線を照射することで、試料表面からの反射電子を検出することにより、試料表面の形状を観察 ・試料サイズの条件：最大試料サイズ：　15mm（径）×高さ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社魁半導体

『燃料電池受託評価サービス』

24時間対応します！耐久試験のアウトソース燃料電池受託評価サービス

【試験項目】 ■定電流/定電圧発電試験、IV測定、OCV耐久など ■WET/DRY切替サイクル試験 ■圧力サイクル試験 ■起動停止試験（Aonode側への空気導入可能） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エノア