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    フープインサート成形の活用方法~小型精密部品の量産実現~

    PR高精度の金型による生産!実際に量産をしている精密電子部品の一部をご紹介

    様々な電子機器の小型化が進んでおり、使用される部品もより小さく、 省スペースであることが求められております。 精密部品の製作、試作など数量が限られている場合には、様々な生産方法が検討できます。 しかし量産までを考えた場合、安定した品質、コストを考慮する必要があります。 当資料では、金属プレス品のインサート成形技術を活用することで 実際に量産している精密電子部品の一部をご紹介。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: ユージーエム株式会社

  • 新光電子株式会社 創業50周年記念サイトオープン 製品画像

    新光電子株式会社 創業50周年記念サイトオープン

    PR50周年事業としてリ・ブランディングを行いました。次なる50年で「全て…

    弊社は、2024年4月1日に創業50周年を迎える事となりました。 創業当初より「オプト世紀を追及する」というキャッチコピーを掲げさせていただき、 半世紀を送りました。 次の50年を胸を張って迎えることが出来るのも、ひとえにこれまで関わっていただきました お取引先様、従業員やご家族、関係各位のご助力があってのことと、改めまして、 深く感謝の意を胸に刻む次第です。 この場を借りて厚く御礼申し上げ...

    メーカー・取り扱い企業: 新光電子株式会社

  • エクソソームの電子顕微鏡解析 製品画像

    エクソソームの電子顕微鏡解析

    約2週間でメールにて速報をお届け!電子顕微鏡で可視化することによって形…

    当社では、『エクソソームの電子顕微鏡解析』を行っております。 電子顕微鏡で可視化することによって形態やサイズの確認が可能です。 ご用意いただくものは、サンプル50μL程度。(サンプル量はご相談) 培養上清の場合はエ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • [SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像

    [SEM]走査電子顕微鏡法

    高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

    SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子(S...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 製品画像

    [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

    ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

    TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 大日電子株式会社 事業紹介 製品画像

    大日電子株式会社 事業紹介

    最先端技術を主体とする、日本有数の製造(EMS)会社をめざして

    大日電子株式会社は、1985年に設立以来、電子機器、情報通信機器などの基板実装・ユニット組立・検査を主に行っている、兵庫県尼崎の企業です。設立当初は、官公庁向け特殊機器の配線組立を中心に行っておりましたが、...

    メーカー・取り扱い企業: 大日電子株式会社 大日電子株式会社

  • [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法 製品画像

    [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法

    電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…

    EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置(EDX)と比較して、下記の特徴...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 医薬品業界向け!電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』 製品画像

    医薬品業界向け!電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』

    透過型電子顕微鏡による安全性試験!長年積み重ねてきた経験と実績がありま…

    花市電子顕微鏡技術研究所では、電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』の 受託を行っております。 GLP/GMPに準拠した厳正な管理の下、ウイルス安全性試験を実施。 例としてCHO細胞を使用して...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • シミュレーション解析 製品画像

    シミュレーション解析

    富士電子工業では、シミュレーション解析の専任スタッフがおり、高周波焼入…

    富士電子工業のシミュレーション解析は、永年蓄積されたデータに基づいて選定された周波数・電圧などの条件入力からワークの温度分布・温度履歴・電力等を計算出力します。 焼入パターンの推測・最高温度・内部温度・コ...

    メーカー・取り扱い企業: 富士電子工業株式会社

  • [EBIC]電子線誘起電流 製品画像

    [EBIC]電子線誘起電流

    試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手…

    SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 電子部品・精密部品・医療機器部品等 検査・組立 製品画像

    電子部品・精密部品・医療機器部品等 検査・組立

    電子部品・通信機器・精密機器・小型の医療機器等!外注管理にかかるご負担…

    当社では、電子部品・精密部品・医療機器部品等の検査・組立を行っております。 良品率・生産効率等の進捗状況をデータで管理・報告。 治具製作も行います。また、ISO9001・ISO13485に基づく 徹底し...

    メーカー・取り扱い企業: コニシセイコー株式会社

  • 大日電子株式会社の特色 製品画像

    大日電子株式会社の特色

    高品質なモノ造り、作業改善・効率化によりコストダウンを実現。お客様の負…

    大日電子株式会社は、実装技術を主体に、加工から出荷まで対応できる 一貫ラインを構築しています。 超量産から量産、中量産、多品種・少量製品まで様々なニーズに対応。 総合的なトータルシステムによってコ...

    メーカー・取り扱い企業: 大日電子株式会社 大日電子株式会社

  • TEMによる電子部品・材料の解析 製品画像

    TEMによる電子部品・材料の解析

    TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

    TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • X線光電子分光分析によるステンレス鋼の不動態皮膜分析 製品画像

    X線光電子分光分析によるステンレス鋼の不動態皮膜分析

    不動態皮膜の厚さや濃度を調べることが可能!当社のX線光電子分光分析をご…

    ステンレス鋼は耐食性に優れることが知られています。耐食性の優劣には、 不動態皮膜の厚さや濃度が深く関わっており、それらをX線光電子分光分析 (XPS)で調べることができます。 SUS430 製部品を機械研磨して使用し、短期間で錆が発生した例では、 錆発生品と正常品について深さ方向の元素分析を実施。結果、不動態⽪膜に ...

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    メーカー・取り扱い企業: 川重テクノロジー株式会社

  • TDS装置 受託測定 製品画像

    TDS装置 受託測定

    電子科学製のTDSを使用した受託測定!

    TDS装置の製造・販売だけではなく、受託測定も承っております。 長年TDS専業メーカーとして培ってきたノウハウを活かし、常時良好な状態に維持された装置と、熟練した専任オペレーターによってお客様の材料トラブルの解決に努めます。 【保有装置】 ・赤外線加熱型 昇温脱離分析装置:2台 ・高周波加熱型 昇温脱離分析装置:1台...測定モード  Bar (定性・定量測定)  SIM (m/z...

    メーカー・取り扱い企業: 電子科学株式会社

  • 富士電子工業株式会社  事業紹介 製品画像

    富士電子工業株式会社 事業紹介

    確かな技術で信頼に応える!富士電子工業株式会社

    富士電子工業株式会社は、1966年の創立以来、顧客に信頼される サービス(非破壊検査・調査・試験・熱処理工事)等を提供し、 設備及び製品を安心して使用いただくことモットーとした会社です。 「確かな...

    メーカー・取り扱い企業: 富士電子工業株式会社

  • 電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介! 製品画像

    電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介!

    ワンストップサービスできめ細かく対応!

    【技術力】日本顕微鏡学会認定、電子顕微鏡技師が実施します。 【対応力】ワンストップサービスできめ細かく対応します。 【スピーディー】高度な解析もスピーディーに対応します。 【コストダウン】弊社に委託頂くことで、お客様の経費削減...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • [AES]オージェ電子分光法 製品画像

    [AES]オージェ電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在量の評価

    AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定量...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [ED]電子回折法 製品画像

    [ED]電子回折法

    EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を…

    EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。 ・物質の結晶学的情報が得られます。 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点(スポット)、多結晶で...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [UPS]紫外光電子分光法 製品画像

    [UPS]紫外光電子分光法

    試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

    UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面(数nm程度以下)の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 X...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • クライオ電子顕微鏡ハンドブック 製品画像

    クライオ電子顕微鏡ハンドブック

    2017年ノーベル化学賞に輝いたクライオ電子顕微鏡に関する知見を体系的…

    研究者、技術者のためのクライオ電子顕微鏡設置機関とそのサービス内容も紹介...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エヌ・ティー・エス

  • 【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価 製品画像

    【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

    製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

    GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT(High Electron Mobility Transistor)」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層(2DEG)が得られ、電子移動度が...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価 製品画像

    【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価

    Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能

    GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT(High Electron Mobility Transistor)」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層が得られ、電子移動度が高くなります...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 電子プローブマイクロアナライザ分析 製品画像

    電子プローブマイクロアナライザ分析

    電子プローブマイクロアナライザ分析

    金属材料、鉱物および各種材料の表面観察、成分分析および 元素分布を測定するのに有効な電子プローブマイクロアナライザ分析 【特徴】 ○分析対象:金属、鉱物、汎用電子部品、ガラス等 ○試料大きさ:実質 60×60×厚さ15(mm) まで。分析試料調整も適宜実施 ○分析種類:組成...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社IHI検査計測

  • 電子機器評価サービス 製品画像

    電子機器評価サービス

    24時間365日対応!1日から貸出できます!

    当社では、恒温槽、恒温室など、検査機器を備え、さまざまな環境で 電子機器他のテストを行い、評価・報告いたします。 また、ソフトウエアに欠陥が無いか、効率良く機能を発揮するか、 シュミレーションを行い評価いたします。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせくだ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ファースター

  • 【分析事例】電子回折の種類と特徴 製品画像

    【分析事例】電子回折の種類と特徴

    TEM:透過電子顕微鏡法

    透過電子顕微鏡での電子回折法は、試料への電子線の入射の仕方によって3つに分類されます。それぞれの特徴とデータ例を示します。評価対象物のサイズや分析目的に応じて、適切な手法を選択する必要があります。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 電子材料誘電特性解析計算クラウドーSUMCLOUD-RFCALC 製品画像

    電子材料誘電特性解析計算クラウドーSUMCLOUD-RFCALC

    高周波帯・低損失用途の電子材料の高精度な特性解析!SUMシリーズ電子材…

    SUMCLOUD-RFCALCは、誘電体材料の誘電率や誘電損失・金属導体や高温超伝導体の表面抵抗の計測データを、低周波や高損失誘電体材料の電気計測とは異なる独特な高周波帯・低損失用途向け厳密解析計算アルゴリズムをベースに、高精度に計算して評価します。 当解析計算クラウドサービスは、誘電体材料の特性を厳密に解析しデータ取得するのに不可欠な一連の計算処理を、DaaS方式でお客様へネットレンタル提供す...

    メーカー・取り扱い企業: サムテック有限会社

  • 走査電子顕微鏡観察の受託サービス|JTL 製品画像

    走査電子顕微鏡観察の受託サービス|JTL

    SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。

    走査電子顕微鏡観察サービスでは、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。 SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 破面分析に 走査型電子線マイクロアナライザ 製品画像

    破面分析に 走査型電子線マイクロアナライザ

    分析試料の表面状態をリアルタイムに映像化する走査型の電子顕微鏡

    【走査型電子線マイクロアナライザ 主な特長】 ●細く絞った電子線を分析試料に照射し、その部分から発生する「特性X線」を収集します。特性X線は元素によって波長が異なることを利用し、X線検出器で波長分析を行うこと...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カタン株式会社

  • 研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」 製品画像

    研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」

    お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

    ても、ご相談承ります。 『測定法』 ○質量分析法 SIMS 二次イオン質量分析法 TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法 ICP-MS 誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS X線光電子分光法 UPS 紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES オージェ電子分光法 SEM 走査電子顕微鏡法 EBIC 電子線誘起電流法 ほか ○振動分光...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 発熱解析による電子部品の故障箇所特定 製品画像

    発熱解析による電子部品の故障箇所特定

    故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…

    、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法 製品画像

    STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

    極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画…

    当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得るこ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品 製品画像

    ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品

    低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円~/1 検体

    5万円(税別)~/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名:汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管: 190-300kV 送信タ...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • 電子基板・部品の解析 製品画像

    電子基板・部品の解析

    高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決!電子基板の解析事例をご紹介

    電子基板・部品の解析」は、お客様の”知りたいレベル”に応じて 表面分析手法をご提案します。 FT-IR(反射法・ATR法)をはじめ、XPS表面分析や、AES深さ分析など 電子基板配線パターンの...

    メーカー・取り扱い企業: イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部

  • 株式会社アウトソーシングテクノロジー 事業紹介 製品画像

    株式会社アウトソーシングテクノロジー 事業紹介

    様々な産業のイノベーションを支援し、働きがいの持てる社会を実現する

    当社は、「機械・輸送機器・ロボティクス」「電気・電子、半導体」 「IT・ソフトウェア」「化学・医療・バイオ」といった幅広い技術分野において、 当社のエンジニアリソースを活用したサービスを展開しております。 お客様のニーズ対し、機電系・IT系...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アウトソーシングテクノロジー

  • [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法 製品画像

    [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

    TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

    電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM(Automated Crystal Orientation Mapping)-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界(対応粒界)の観察が可能 特定結晶方位の抽...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 車載電子機器の環境試験 製品画像

    車載電子機器の環境試験

    お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法のご提案や、正確なデータを…

    近年の車載環境は、温度、湿度、振動などの条件が過酷にも関わらず、 高電圧・大電流をより微細化(軽量化)されたデバイスでコントロール しなければいけません。 クオルテックでは、車載環境を忠実に再現した信頼性試験を提供するだけでなく、 JNLAの登録試験所として、お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法の ご提案や、正確なデータをご提供しています。 【特長】 ■温度条件への対...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価 製品画像

    【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

    AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

    装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層(~5nm程度)の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 東洋電子工業株式会社 会社案内 製品画像

    東洋電子工業株式会社 会社案内

    協創をイノベーションに!半導体製造で蓄えた技術で多種多様なニーズに対応…

    東洋電子工業は、半導体製造で蓄積した技術を駆使して、お客さまと 「協(とも)」に「創る」ことにフォーカスしたサービスを心を込めて ご提供するEMSのパートナーです。 マイコンを使った組込システム等...

    メーカー・取り扱い企業: 東洋電子工業株式会社

  • 受託加工組立て、梱包、検品作業サービス 製品画像

    受託加工組立て、梱包、検品作業サービス

    受託加工組立て、梱包、検品作業の請負!

    有限会社アトム電子では、主に液晶、携帯電話等の精密部品、家電部品、 アミューズ関連、自動車部品、照明機器、生活用品等あらゆる素材の 部品に関する組立・検査・梱包の各受託を請け負っております。 液晶ディスプレ...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社アトム電子

  • 各種電子機器・精密機器・産業機器等 信頼性試験サービス 製品画像

    各種電子機器・精密機器・産業機器等 信頼性試験サービス

    「品質」と「信頼性」を重視して、業界を問わず、お客様の製品の更なる品質…

    当社では、各種電子機器・精密機器・産業機器等の信頼性試験の業務を行っています。 お客様のご要望に応じ、様々な電子機器・LSI等の検査・検証にフレキシブルに 対応し、常にお客様サイドに立ち品質向上に向けたサービ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社J-Lab

  • 走査電子顕微鏡-X線分析 製品画像

    走査電子顕微鏡-X線分析

    試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。

    走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope;SEM)は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察す...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社DJK

  • 非破壊検査:電子ビーム溶接検査 製品画像

    非破壊検査:電子ビーム溶接検査

    電子ビーム溶接検査(溶け込み深さ・位置ずれ検査)

    電子ビーム溶接検査(溶け込み深さ・位置ずれ検査) ◎溶け込み深さ測定 及び 位置ずれ(目はずれ)が検査出来ます。 当社は当社にしかできない技術力で 様々な難しい検査にも対応いたします。 詳細はお問い合わせください。 PDFダウンロードが下記にあるものに関しては ダウンロードいただければと思います。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社偕成ハイテック

  • SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察 製品画像

    SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察

    GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観…

    GaNなどのパワー半導体において、原子レベルの欠陥は性能の劣化に影響を及ぼします。EBSD検出器を用いた前方散乱電子の評価により、転位に加えてステップ(微小な段差)や微小方位差の観察が可能となります。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • 電子機器の加速劣化試験サービス 製品画像

    電子機器の加速劣化試験サービス

    お客様の製品に適した加速劣化試験を“具現化”して提案・実施!加速劣化試…

    電子機器の軽薄短小化により配線の狭ピッチ化、ファインパターン化が 加速し、さらには使用環境の過酷化に伴い、より一層、マイグレーションを 代表とした絶縁劣化などのリスクが高まっています。 当社は、各種公的規格に準拠した試験は勿論、長年、各種電子機器の 品質保証で培ってきた試験・ノウハウを ベースに、お客様のご要望に 即した加速劣化試験を実施いたします。 製品の使われ方やお悩み事項等の...

    メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社

  • 製品分析 ハロゲン分析 製品画像

    製品分析 ハロゲン分析

    分析開始から結果の速報までを最短3営業日で行える体制を整えております!

    従来から電子・電気機器や付属製品中には、塩素及び臭素などのハロゲン元素が難燃剤として使用されてきました。これらを廃棄・焼却する際、燃焼条件によってはダイオキシンなどが発生し、環境汚染の原因になります。また、製品...

    メーカー・取り扱い企業: 内藤環境管理株式会社

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