Ｙ形３方ボールバルブ

PR流路にアルミナセラミックスリーブを採用し、耐摩耗性を強化しました。金属…

特長 ■空気輸送用に開発された３方ボールバルブで、圧力損失が少ない構造です。 ■流路にはアルミナセラミックスリーブを採用し、耐摩耗性を強化、金属コンタミも防ぎます。 ■スリーブ方式のため剝離しにくく、かつ異なる内径の組み合わせて流れ方向の凸部をなくしました。 ■シートリングには強化PTFEを採用し、アルミナセラミックカラーで流路から隔離しています。 ■インレットブランチとアウトレットブラ...

メーカー・取り扱い企業： アイシン産業株式会社

チップ抵抗ネットワーク1005×4

PR実装コストの低減を実現！電極が凸型形状のチップ抵抗ネットワーク

当製品は、電極が凸型形状のチップ抵抗ネットワークです。 部品搭載回数の減少による実装コストの低減を実現。 最高使用電圧は25V、定格電力は1/16Wです。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【仕様(抜粋)】 ■素子数：4 ■回路記号：D（独立回路） ■包装数量：10,000 アイエイエム電子ではチップ抵抗ネットワークを始め各種厚膜チップ抵抗器を製造販売しております。 ※詳...

メーカー・取り扱い企業： アイエイエム電子株式会社

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（S...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法

電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…

EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置（EDX)と比較して、下記の特徴...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［EBIC］電子線誘起電流

試料内部の電界構造（半導体の接合構造）に関する情報を得ることができる手…

SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EBSD分析（電子後方散乱回折法）

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP：Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

X線光電子分光分析によるステンレス鋼の不動態皮膜分析

不動態皮膜の厚さや濃度を調べることが可能！当社のX線光電子分光分析をご…

ステンレス鋼は耐食性に優れることが知られています。耐食性の優劣には、 不動態皮膜の厚さや濃度が深く関わっており、それらをX線光電子分光分析 （XPS）で調べることができます。 SUS430 製部品を機械研磨して使用し、短期間で錆が発生した例では、 錆発生品と正常品について深さ方向の元素分析を実施。結果、不動態⽪膜に ...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

TDS装置 受託測定

電子科学製のTDSを使用した受託測定！

TDS装置の製造・販売だけではなく、受託測定も承っております。 長年TDS専業メーカーとして培ってきたノウハウを活かし、常時良好な状態に維持された装置と、熟練した専任オペレーターによってお客様の材料トラブルの解決に努めます。 【保有装置】 ・赤外線加熱型 昇温脱離分析装置：2台 ・高周波加熱型 昇温脱離分析装置：1台...測定モード 　Bar (定性・定量測定) 　SIM (m/z...

メーカー・取り扱い企業： 電子科学株式会社

電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介！

ワンストップサービスできめ細かく対応！

【技術力】日本顕微鏡学会認定、電子顕微鏡技師が実施します。 【対応力】ワンストップサービスできめ細かく対応します。 【スピーディー】高度な解析もスピーディーに対応します。 【コストダウン】弊社に委託頂くことで、お客様の経費削減...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

［AES］オージェ電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類・存在量の評価

AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面（深さ数nm）の定性・定量...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［ED］電子回折法

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を…

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。 ・物質の結晶学的情報が得られます。 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点(スポット)、多結晶で...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［UPS］紫外光電子分光法

試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面（数nm程度以下）の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 X...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT（High Electron Mobility Transistor）」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層（2DEG）が得られ、電子移動度が...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

電子プローブマイクロアナライザ分析

電子プローブマイクロアナライザ分析

金属材料、鉱物および各種材料の表面観察、成分分析および 元素分布を測定するのに有効な電子プローブマイクロアナライザ分析 【特徴】 ○分析対象：金属、鉱物、汎用電子部品、ガラス等 ○試料大きさ：実質 60×60×厚さ15(mm) まで。分析試料調整も適宜実施 ○分析種類：組成...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測

電子材料誘電特性解析計算クラウドーSUMCLOUD-RFCALC

高周波帯・低損失用途の電子材料の高精度な特性解析！SUMシリーズ電子材…

SUMCLOUD-RFCALCは、誘電体材料の誘電率や誘電損失・金属導体や高温超伝導体の表面抵抗の計測データを、低周波や高損失誘電体材料の電気計測とは異なる独特な高周波帯・低損失用途向け厳密解析計算アルゴリズムをベースに、高精度に計算して評価します。 当解析計算クラウドサービスは、誘電体材料の特性を厳密に解析しデータ取得するのに不可欠な一連の計算処理を、DaaS方式でお客様へネットレンタル提供す...

メーカー・取り扱い企業： サムテック有限会社

破面分析に　走査型電子線マイクロアナライザ

分析試料の表面状態をリアルタイムに映像化する走査型の電子顕微鏡

【走査型電子線マイクロアナライザ　主な特長】 ●細く絞った電子線を分析試料に照射し、その部分から発生する「特性X線」を収集します。特性X線は元素によって波長が異なることを利用し、X線検出器で波長分析を行うこと...

メーカー・取り扱い企業： 日本カタン株式会社

研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

ても、ご相談承ります。 『測定法』 ○質量分析法 SIMS　二次イオン質量分析法 TOF-SIMS　飛行時間型二次イオン質量分析法 ICP-MS　誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS　X線光電子分光法 UPS　紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES　オージェ電子分光法 SEM　走査電子顕微鏡法 EBIC　電子線誘起電流法 ほか ○振動分光...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信タ...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM（Automated Crystal Orientation Mapping）-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界（対応粒界）の観察が可能 特定結晶方位の抽...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

製品測定の受託サービス

精密製品を対象とした寸法測定に対応します。

CNC画像測定システム等の測定機器を使用して 寸法測定を実施いたします。 ※お気軽にお問い合わせ下さい。...【保有設備】 ■CNC画像測定システム ■画像測定機 ■測定顕微鏡 ■各種測長器 ※お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 東部電子工業株式会社

電子顕微鏡での受託観察

走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能…

【主要設備】 ・設備（機械名）：走査型電子顕微鏡（FE-SEM）　S-4000（日立） ・主な仕様 　倍率：　×100～300,000倍　（～100,000までは保証範囲） 　試料台サイズ：　15mm（径） 　加速電圧：　0.5～3...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社魁半導体

［XPS］X線光電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

XPSは、Ｘ線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electr...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

非破壊分析サービス　2018年4月より開始のお知らせ

樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。

2018年4月2日、MSTは最新型の加工・分析装置を導入し非破壊分析サービスを開始します。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 MSTはこれまで電子顕微鏡観...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

パワーサイクル試験受託サービス

パワーデバイスの熱疲労を評価するパワーサイクル試験を承ります

当社では、チップの温度を上下させた際の自己発熱に対する 熱疲労の寿命を推測するパワーサイクル試験を承ります。 水冷式コールドプレートを採用しており、安定した放熱特性のもと試験実施が可能。 お客様ご指定のコールドプレート手配、持ち込み品の設置など、 仕様により柔軟に対応させて頂きます。 【特長】 ■当社オリジナルTEGチップを使用した周辺材料評価も可能 ■ご来社頂き、サンプルの...

メーカー・取り扱い企業： シーマ電子株式会社

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域（数nm～数十μm）のエッチングによる任意形状加工が可能 （通常加工サイズ：～20μm程度） ・SEM・SEM-STEM...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

透過型電子顕微鏡法によるアスベスト分析

透過型電子顕微鏡法によるアスベスト分析が可能です。

環境省アスベストモニタリングマニュアル（第4.0版）に対応した測定が可能です。 ...■アスベストの同定が可能です。 ■分散染色法やX線回折法では分析が難しいトレモライト等のアスベストを分析します。...

メーカー・取り扱い企業： 環境リサーチ株式会社

プラスチック、ゴム／柔らかい製品の測定はお任せください！

最短半日見積り／プラスチック、ゴムなどの柔らかい製品測定には非接触型測…

測定を得意としており、 デジタル機器を使用した、幾何公差の測定・評価だけに 留まらず曲面、表面粗さ、真円度もお受けしております。 アルミ・ステンレス部品を単品加工で対応します。 半導体、自動車、電子機器、医療、食品など 幅広い業界との実績がございます。 詳しくはお問い合わせ、またはホームページをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社　営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

蛍光寿命測定

Fluorescence lifetime measurement

物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際の過程の一つに発光（フォトルミネッセンス）があります。そのうち、パルスレーザーにより物質を瞬間的に励起し、発光の減衰時間を測定する手法が時間分解フォトルミネッセンスと呼ばれるもので...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

絶対PL量子収率測定

絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

物質に光（紫外・可視光）を照射すると、物質はそのエネルギーを吸収し発光することがあります（フォトルミネッセンス（PL)）。 光の吸収により、安定なエネルギー状態（基底状態）にあった分子内の電子は、一時的に高いエネルギー状態へと励起されます。様々な過程を経て一重項励起状態に存在する電子が安定な基底状態に戻るとき、差分のエネルギーを光として放出し、これを蛍光と呼びます。さらに三重項励起状態に...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要があ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

台形波衝撃試験

製品の衝撃試験はJBLへお任せください。　大型試験台＋台形波＋SRS解…

JIS C 60068-2-27 ：　環境試験方法－電気・電子－衝撃試験方法 JISのような公的な試験規格で定められたものだけではなく、個別の完成品メーカーが調達先の部品ベンダーに対して要求する独自の試験条件にも対応いたします。　JBLでは、台形波とSR...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

FE-EPMAによる受託サービス｜JTL

電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）による微少領…

FE-EPMA（電界放出型電子プローブマイクロアナライザ）を使用して、SEM像の撮影及びWDX（波長分散型X線分析装置）による元素分析を行います。 EDXによる元素分析よりも定量精度が良く（±数100ppm～数1,000ppm...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【設備紹介】物理・化学分析

ICP発光分光分析やガスクロマトグラフィー装置など！さまざまな金属とオ…

当社で保有している「物理・化学分析」についてご紹介いたします。 電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)のほか、 走査型電子顕微鏡(SEM)や微小部X線応力測定装置(PSPC)を保有。 さまざまな金属とオイルの分析評価が可能です。 詳細については、お気...

メーカー・取り扱い企業： ジヤトコエンジニアリング株式会社 本社

技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【精密寸法測定】精密部品の寸法測定に必要な設備と技術があります。

最短半日見積り／京都府最大級！自社品質管理スペースで検査・精密寸法測定…

昨今、あらゆる業界で製品の品質要求が高まっています。 特に試験・検査装置、電子機器、半導体装置の 精密部品 等は、非常に高い寸法測定精度が必要とされます。 その様な超高精度の部品を検査する体制と検査機器を持っている当社は、 これまで外部測定企業として、部品の「寸法測定・評価...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社　営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699

劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。

半導体を多く使う電子機器では各部品をはんだ付けにより実装しています。このはんだ接合部に不良が生じると電子機器に不具合が生じます。その為はんだに関して濡れ性を評価することは部品の信頼性を評価するうえで重要です。今回は疑似...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ドイツ diondo工業CT測定サービス-チップ-電子・電気

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信タ...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

［IP法］Arイオン研磨加工

IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

カードエッジコネクタについてIP加工後、反射電子像観察を行いました。 IP法と機械研磨法で作製した断面の反射電子像観察を行いました。 IP法ではCu結晶粒が明瞭に観察され、研磨キズもありません。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ナノ材料の構造解析

ナノ領域の構造解析、形態観察を受託しております。

ナノチューブなどナノ材料などを、TEM、SEM、EDSによるナノ領域の構造解析・形態観察を受託します。...ナノチューブなどナノ材料などを、TEM、SEM、EDSによるナノ領域の構造解析・形態観察を受託します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

微生物の構造・形態観察

ナノレベルの構造解析や形態観察を受託しております。

電子顕微鏡による解析を、試料作製から観察・撮影までスピーディ・ハイクオリティで受託します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

工業計測器　開発・製造サービス

見えないところで、お役に立ちたい

当社では、工業計測器・各種変換器・情報応用機器・電子制御システムの 開発・製造・販売などの事業を展開しております。 システム技術、計測技術、及び計算技術(CAE解析)の部門を兼ね備え、 FAシステムの設計製作から工業や土木計測及び開発まで、...

メーカー・取り扱い企業： 計測エンジニアリング株式会社

接合強度試験サービス｜JTL

半導体部品・電子部品等の微小部接合強度の評価を実施致します。

本サービスでは、接合強度試験機（ボンドテスター）を用いて各種部品の組立て・実装工程の接合信頼性評価を行います。特に電子部品の接合強度試験（シェア試験・プル試験）を得意としており、高密度実装部品の評価にも適しています。 電子部品以外にも、様々な製品や材料についてそのままの状態で接合強度評価を行うことも可能です。各種...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【技術紹介】構造物変状計測（構造物の沈下・傾斜）

電子レベル／スタッフによる方法やHyPosによる方法など！土木・建築分…

した「HyPos（ハイポス） による方法」や「ノンプリズム型トータルステーション（TS）による方法」 などがございます。 【構造物変状計測概要】 ■連通管式沈下計・傾斜計による方法 ■電子レベル／スタッフによる方法 ■HyPos（ハイポス）による方法 ■レーザー距離計による軌道変位計測 ■ノンプリズム型トータルステーション（TS）による方法 ■レーザー距離計による地下鉄の内空...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東横エルメス

【受託測定サービス】プローブの先端磨耗度合い確認実験

接触回数によってプローブ先端ではどのような変化が起こっているのか？

こっているのか…？」実験を通じて、数値化や可視化（画像取得）をサポートします。 【実験例】 ・100万回の耐久試験 ・10万回毎に測定物との接触抵抗値の測定 ・5万回毎にプローブの先端を電子顕微鏡で確認 ・数種類の材質のプローブで耐久試験を実施 ・測定物への接触痕の観察 ・300A連続通電時の測定物とプローブとの接点温度の測定 など 装置・測定器の組合せにより、さまざまな...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンケイエンジニアリング 本社

Arイオンミリング加工

機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ダイヤモンドのクラリティ観察

マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能 ■半導体電子部品...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス