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11件 - メーカー・取り扱い企業
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工場・設備・機械を浸水被害から守る脱着式止水板【浸水ストッパー】
PR少ない人数で設置完了!2ロックで驚異の止水力!平常時は壁面に収納で邪魔…
台風やゲリラ豪雨・線状降水帯などにより工場が浸水してしまうと材料・完成品、製造ラインが浸水することで業務が停止し、通常の業務に戻るためには莫大な金額・時間・労力が必要となります。 水害の発生源となる台風やゲリラ豪雨は事前に発生を知ることができるため、対策さえしていれば被害を最小限にすることが可能です。 国際空港・格納庫・薬品工場・製造工場・物流倉庫等から選ばれています。 今回は2...
メーカー・取り扱い企業: 旭日建設株式会社
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顔認証端末「Noqtoa」【3/12~3/15 展示会出展!】
PR安心安全の日本製!マスク、メガネ着用状態でも認証OK!
【展示会出展!】 3/12(火)~3/15(金) 東京ビッグサイトにて行われるSECURITY SHOWに出展いたします! 「東3ホール SS3018」にて皆様のお越しをお待ちしております! 宮川製作所製の顔認証端末「Noqtoa(ノクトア)」は、開発~製造を全て自社内、日本国内で行う、安心安全の端末となっております! 完全非接触の顔認証端末となっているため、前に立つだけで認証可能...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社宮川製作所
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良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…
当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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キャリア分布を二次元的に可視化
■電気容量変化によるキャリア分布の可視化 探針と半導体との接触箇所はMOS構造となり、半導体表面の酸化膜の静電容量COxと半導体の静電容量CDが接続された系とみなすことができます。この系に対して高周波電圧VACを印加すると、合成容量Cが変動します。 この変動は探針直下の半導体中のキャリアの振動によるものに...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…
エ変換赤外分光法 Raman ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD X線回折法 SAXS X線小角散乱法 XRR X線反射率法 ○SPM関連 AFM 原子間力顕微鏡法 SCM 走査型静電容量顕微鏡法 SSRM 走査型広がり抵抗顕微鏡法 ○その他の測定法 白色干渉計測法 TG-DTA-MS,DSC 熱分析 EMS エミッション顕微鏡法 『加工法・処理法』 ○FIB法...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定
発光像とIR像の重ね合わせにより、リーク箇所を顕微的視野で特定できます。クラックや静電破壊など大規模な外観異常がある場合は、IR顕微鏡でも異常を確認可能です。また、エミッタ電極の遮光により、発光が検出できない場合には、コレクタ電極を除去し、コレクタ側から近赤外光を検出します。 20...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料解体から測定まで一貫して対応します
本資料では、スマートフォン搭載のイメージセンサ拡散層に関して評価した事例をご紹介します。 半導体のp/n型を判定可能なSCM(走査型静電容量顕微鏡)を用い、拡散層がどのような分布となっているかを評価しました。今回、断面と平面のSCM結果を組み合わせることで、相補的かつ広範囲の情報が得られました。 SCM は、イメージセンサ拡散層の...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価
AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…
AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層(~5nm程度)の元素分析や...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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AFMでは極めて微小な表面形態(凹凸)を捉えて測⾧することが可能です
AFM走査型プローブ顕微鏡は、「探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う」装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性や絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 この分析装置を使い「めっき加工したコネクタ接点部品の表面処理」の調査...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察
クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可…
AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 その物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 また、クライオミクロトームを用いることで、凍結下で樹脂など軟らかい高...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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問題解決のお手伝い!各種機器分析による現象解析
【調査分析例】 ■油中混入物の調査 ■漏油などの油種判定 ■絶縁紙の平均重合度測定(JEMA,IEC)・引張強度試験 ■帯電度測定(ミニ静電テスター、循環式帯電度連続測定) ■変圧器等解体調査 など ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: ユカインダストリーズ株式会社 東京本社
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【分析事例】SiCPlanerPowerMOSFETの拡散層評価
SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます
SiC Planer Power MOSFETの断面を作製し、拡散層のp/n 極性分布をSCM(走査型静電容量顕微鏡法)で評価し、キャリア濃度分布をSMM(走査型マイクロ波顕微鏡法)で定性的に評価しました。 いずれのデータからも、n+型のSource層の周囲に、p型のBody層が二層構造で形成されてい...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます(拡散層構造の高感度評価)
SNDM (走査型非線形誘電率顕微鏡)では半導体のp/n極性を識別し、拡散層の形状を可視化すること ができます。本手法は、従来から用いられているSCM(走査型静電容量顕微鏡)の機能を包括しており、 SCMでは評価が難しいSiCを代表とする次世代のパワーデバイスにおいても、低濃度から高濃度まで十分に評価を行うことができます。高感度を特徴とし、あらゆる化合物半導...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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