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PR環境配慮型製品の開発にお役立ていただけるプラスチック材料各種をはじめと…
我が国は資源小国であり他国に資源を依存しています。また、人類80億人時代にたった1度の使用で物を廃棄することは資源効率が不十分であると思います。 そうした考えのもと、当社ではリサイクル材料を各種開発・販売しております。これらのリサイクル材料等を活用した製品を設計・開発していただくことで、循環型社会の実現やSDGsの達成に貢献することが可能です。 【リサイクル材料のご紹介】 ・エコマー...
メーカー・取り扱い企業: 緑川化成工業株式会社 本社
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溶融スラグの塩基度管理例について紹介します。
焼却灰の有効利用法として、リサイクル可能な灰溶融スラグを製造し、さまざまな分野で利用されています。蛍光X線分析装置「OURSTEX160」はスラグの塩基度(CaO/SiO2)分析によりスラグの品質管理が簡易に行えます。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...
メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社
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高純度シリカゲル使用HPLCカラム『Mightysilシリーズ』
関東化学のカラムと言えば『Mightysil』高純度シリカゲル基材、フ…
にて実施している充填剤バッチ毎の溶出挙動に関する試験項目のほか、その用途に対応した分析対象物による項目追加などを実施しております。 【特徴】 ■高純度シリカゲル機材 純度99.99%(SiO2)以上 ■フルエンドキャップ 充填剤表面の極性基(シラノール基)を極限まで不活性化 ■高耐久性 分級精度を高め、圧力損失を抑える ■再現性保証 充填剤バッチおよびカラム間再現性保...
メーカー・取り扱い企業: 関東化学株式会社 バイオケミカル部
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多層膜など多くのパラメーターが一度に解析!小型・高速分光エリプソメータ
48分割CCD採用のマルチチャンネル対応を使用 ○解析力 →分光解析ソフトウエアー“SCOUT”を標準装備 ○再現性 →光再現性測定を実現 ○信頼性 →校正時、NIST基準数種の膜厚のSiO2/SIサンプル →2種のガラス基板の光学定数測定 【仕様】 ○測定方式:回転位相子法(RQ法) ○光源:150W Ha ランプ ○ビーム経:約φ1~5mm ○入射角:約70・60・...
メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社
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マイクロフォトニック構造研究用の高感度で複合機能を持つ高分解能角度分解…
SPARCの能力 SPARCはディープ・サブ波長の分解能でナノ・マイクロ構造のフォトニック研究に適した真に独特な分析手法です。 金属質(プラズモニック、Ag、Au、etc)、誘電体(SiO2、Si3N4、TiO2、etc)や半導体(Si、GaAs、CdTe、etc)のマイクロ・ナノフォトニック構造およびその関連材料の研究に有用です。...
メーカー・取り扱い企業: エルミネット株式会社
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生命科学・食品化学・環境科学等の分野における特定分子のセンシングに応用…
物質 →タンパク質への低分子物質結合の計測 →DNAへの抗生物質の結合反応 [材料系アプリケーション] ○評価試験 →Al薄膜の酸耐蝕評価 →カーボンナノチューブへの分散材の結合 →SiO2ビーズ吸着評価 →台所用洗剤の洗浄力評価 →コンタクトレンズの保存液評価 →ポリマーの吸湿性評価 →各種コーティング剤への吸着評価 →ハイドロキシアパタイトへのタンパク質の結合 ●...
メーカー・取り扱い企業: サンライズ工業株式会社
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強力な定性的/定量的分析手法!様々な分光結晶の供給
当社で取り扱う、「X線分光結晶」をご紹介いたします。 照射後にサンプルから放出されるX線のスペクトル分析は、 強力な定性的/定量的分析手法です。 湾曲プレートは、特注のホルダーを伴い、提供いたします。 また、ヨハン型/ヨハンソン双方に対応します。 【特長】 ■さまざまな結晶の供給 ・LiF、石英またはSiO 2、InSb、Si、Ge、PET、ADP、ベリル、TlAP、 ...
メーカー・取り扱い企業: Luxium Solutions Japan 合同会社
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【技術資料】DEENA2を用いたふっ化水素酸・硝酸での自動前処理
DEENA2を用いたシリカの分解における、ふっ化水素酸・硝酸を用いた自…
当資料では、「DEENA2」を用いた、シリカ(SiO2)の分解(溶融)における、 ふっ化水素酸・硝酸を用いた自動前処理の検討についてご紹介しています。 シリカ(SiO2及びその化合物)は、酸分解において煩雑な試薬添加操作があり 非常に手間で...
メーカー・取り扱い企業: ビーエルテック株式会社
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サンプル水平置きタイプで、多彩なサンプルに対応が可能!
解析力 →分光解析ソフトウエアー“SCOUT”を標準装備 ○再現性 →オプティカルエンコーダとホールモータの組み合わせにより高再測定を実現 ○信頼性 →校正時、NIST基準の数種の膜厚のSiO2/SIサンプル →2種のガラス基板の光学定数測定 【仕様】 ○測定方式:回転位相子法 ○光源:150W Ha ランプ ○ビーム経:約φ1~5mm ○入射角:約70・60・50 度手...
メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社
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