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    【ご優待特典キャンペーン】太陽光発電パネル ※紹介資料進呈中

    PR高効率・高出力・高信頼性の製品!初回ご購入お客様限定のキャンペーンのご…

    当社では、『Hi-MO X6』の初回ご購入お客様限定の ご優待特典キャンペーンを実施しております。 ロンジはバックコンタクト技術HPBC採用によって、 高効率・高出力・高信頼性のある太陽光発電パネルをご提供しております。 このキャンペーン期間に、是非ご検討ください。 【キャンペーン詳細はPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。】...【対象製品】 ■Hi-MO X6シリーズ ...

    メーカー・取り扱い企業: LONGi Solar Technology(ロンジソーラーテクノロジー)株式会社

  • 【内部流路】拡散接合【セラミックス・石英ガラス・純モリブデン】 製品画像

    【内部流路】拡散接合【セラミックス・石英ガラス・純モリブデン】

    PR拡散接合により、内部に流路を有する複雑形状が実現可能!石英ガラス、純モ…

    拡散接合は材料同士を直接接合させる技術です。 接着剤、ロウ材を使用しないため、不純物による汚染問題が起きません。 また、塑性変形の発生を抑えることもできます。 拡散接合を用いることで、通常の切削加工では実現できない中空構造や、内部流路、真直度の良い深穴を形成可能です。 ヘリウムリークテスターを保有しておりますので、リークテストの実施も可能です。 【拡散接合実績材質】 ・アル...

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    • Si-SiC素材 拡散接合による溝形状、深穴形状形成のご提案2 1.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社トップ精工

  • ナノフォーカス・マイクロフォーカスX線CTスキャンサービス 製品画像

    ナノフォーカス・マイクロフォーカスX線CTスキャンサービス

    形状のぼやけが極めて少ない高解像度画像を提供いたします

    デュアル線源を備えており、簡単に切り替え可能なナノ(180kV)/マイクロ(300kV)フォーカスX線源を備え、各種撮影手法(ヘリカル、IMR、リミテッドアングル、ディテクターシフト等)や独自の散乱補正(Scatter correct)、検出器との組み合わせによるアプローチが可能。 v l to...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社光佐株式会社

  • 【資料】CELLCYTE Xによるアプリケーション解析の例 製品画像

    【資料】CELLCYTE Xによるアプリケーション解析の例

    簡単なmix-and-readワークフローを掲載!アポトーシスや生細胞…

    当資料では、細胞培養実験からの洞察を最大化するための高い ソリューション『CELLCYTE X』によるアプリケーション解析の例を ご紹介しています。 「CELLCYTE Xのシンプルなワークフロー」ではSTEP1からSTEP5までを掲載。 写真や図を用いて分かりやすく解説しておりま...

    メーカー・取り扱い企業: セルインク株式会社

  • [XAFS]X線吸収微細構造 製品画像

    XAFS]X線吸収微細構造

    XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する…

    物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルには物質中に含まれる元素特有の急峻な立ち上がり(=吸収端)が見られます。 この吸収端近傍±50 eV程度に現れる微細構造をXANES(=X-ray Abso...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定)

    広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを選択し、観察や測定を実施。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) 製品画像

    [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS: Energy Dispersive X-ray Spectrosco...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [XRR]X線反射率法 製品画像

    XRR]X線反射率法

    XRR:X-ray Reflectivity

    XRRは、X線を試料表面に極浅い角度で入射させ、その反射強度を測定します。この測定で得られた反射X線強度プロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、試料の膜厚・密度を決定する手法です。 ・膜厚の評価が可能 (2~300nm 程度) ・密度の評価が可能 ・表面粗さの評価が可能(Rms = 5nm 以下) ・非破壊で分析が可能 ・約1...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [XRF]蛍光X線分析法 製品画像

    XRF]蛍光X線分析法

    照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光する…

    蛍光X線分析(XRF: X‐ray Fluorescence)は照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。 ・測定範囲の全...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • X線CT法 製品画像

    X線CT法

    X-ray Computed Tomography

    試料にX線を照射することで、試料内部構造の二次元透過像を取得します。また、試料を回転させた連続撮影データから、X線CT(Computed Tomography)像を構築します。 ・非破壊で、試料の内部...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ドイツ 小型高精度工業CTシステム diondo d evo03 製品画像

    ドイツ 小型高精度工業CTシステム diondo d evo03

    複雑な測定および検査タスクに対応するフレンドリーな CT システム

    【技術データ】 X線管:120[kV] 測定精度: < 9 μm + L/100 試験体積:Ø 140 x 170 H [mm] 解像度:56[μm] システム寸法:1260 x 870 x ...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • 『X線・超音波を用いた非破壊分析の基礎と事例』※希望者全員に進呈 製品画像

    X線・超音波を用いた非破壊分析の基礎と事例』※希望者全員に進呈

    非破壊分析の手法(超音波顕微鏡法・X線CT法)の基礎的な解説や、代表的…

    MSTは、非破壊検査の受託分析サービスを行っています。 実際の分析事例や、分析手法の基礎的な解説を掲載した冊子を ご希望の方全員に無料でプレゼント中です。 【掲載内容(一部)】 ■X線・超音波を用いた非破壊分析の手法紹介  ・超音波顕微鏡法  ・X線CT法  ・in situ X線CT測定 ■分析事例  ・炭素繊維強化プラスチック(CFRP)内部の繊維配向解析  ・...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SAXS]X線小角散乱法 製品画像

    [SAXS]X線小角散乱法

    ・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

    SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ<10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm~数十nm程度の大きさの構造を評価できます。 ・ナノ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像

    エネルギー分散X線分光法(EDS)

    特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    『エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察 製品画像

    【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察

    乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能!リキッドファンデーションの塗膜をマ…

    当財団が分析した、X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察の事例を ご紹介します。 プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよび クライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 201906-02 多周波/高温ESR装置 製品画像

    技術情報誌 201906-02 多周波/高温ESR装置

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 最も一般的なXバンド(9.5 GHz)のマイクロ波を用いたESR測定に比べ、高周波数のマイクロ波を用いたESR測定は、ESRスペクトルの分解能向上やスペクトル解析に有効である。本稿では、新規導入したXバンド及びQ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 【事例集】X線透視・CT検査装置 製品画像

    【事例集】X線透視・CT検査装置

    X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」「表面実装…

    当資料では、当社で行ったX線透視やCT検査装置のさまざまな解析事例をご紹介しております。X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」をはじめ、「表面実装LED」や「チップ抵抗の観察事例」などを掲載。 【...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】金属材料の蛍光X線分析事例 製品画像

    【分析事例】金属材料の蛍光X線分析事例

    金属組成評価として、始めにXRF分析での元素スクリーニングをお勧めしま…

    元素分析を行う際、まずはXRF分析を用いて非破壊で対象に含まれる元素を調べてから詳細な分析に移っていくことで、効率の良い評価計画を立てることができます。 本事例では、金属切断用の刃を対象としてXRF分析を行ったデータを紹介...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • X線CT リバースエンジニアリング CTスキャンサービス 製品画像

    X線CT リバースエンジニアリング CTスキャンサービス

    高精度X線CTスキャンによるリバースエンジニアリング

    高精度X線CTスキャンによるリバースエンジニアリング ・複雑に入り組んだモデルやモデルの内側形状をSTL点群として出力することが可能です。 ・必要に応じて、CAD面を生成することも可能です。 ・生成さ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クロスエフェクト

  • 【分析事例】X線吸収・発光分光によるバンド構造評価 製品画像

    【分析事例】X線吸収・発光分光によるバンド構造評価

    材料の価電子帯・伝導帯・ギャップ内準位の詳細な情報が得られます

    様々な特性を制御するにあたって価電子帯・伝導帯・ギャップ内準位といったバンド構造の把握は極めて重要な評価項目となっていますが、それらを直接的かつ詳細に評価する分析手法は限られています。放射光を用いたX線吸収分光(XAS)とX線発光分光(XES)の同時測定からはバンド構造の全容が把握できると共に、それらを構成する元素・軌道の帰属といった詳細な情報も得ることが可能です。 本資料では測定例としてGa...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン電池の高分解能X線CT観察 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン電池の高分解能X線CT観察

    非破壊で電池内部の層構造・異常箇所を確認できます

    リチウムイオンポリマー電池は、モバイルバッテリーや電子機器などの身近な製品に幅広く利用されています。 本資料では、ラミネート型のリチウムイオンポリマー電池をX線CTで分析した事例を紹介します。X線CTを用いることで、20mmx40mmの電池を破壊せずに内部構造を観察し、数μmの異物や空隙の有無・位置を確認することが可能です。 詳しくは資料をダウンロ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • X線CTによるスティッチング撮影-広視野観察と高分解能観察の両立 製品画像

    X線CTによるスティッチング撮影-広視野観察と高分解能観察の両立

    複数のCT像を縦に連結して撮影することができます

    一般的に、X線CTの視野サイズと解像度はトレードオフの関係にあり、解像度を上げるほど視野サイズは小さくなります。 そこで、X線CTには、複数のCT像を縦に連結することができる”スティッチング”という撮影法があ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】X線によるZn系バッファ層の複合評価 製品画像

    【分析事例】X線によるZn系バッファ層の複合評価

    組成・結合状態・構造・密度の評価が可能

    CIGS薄膜太陽電池の高効率化において、光吸収層から透明電極までのバンド構造や結晶性の制御のために様々なバッファ層材料が検討されております。 平坦化された基板上に成膜したZn系バッファ層についてX線による各種評価を行った事例を示します。 成膜条件による水準間、成膜後の各種プロセスの水準間での比較が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】2次元検出器を用いたX線回折測定 製品画像

    【分析事例】2次元検出器を用いたX線回折測定

    XRD:X線回折法

    2次元検出器を用いて測定を行うと、回折角(2θ)に加えてあおり方向(χ)の情報も同時に得られます。観測される2次元回折像は材料の結晶性や配向性などの特徴を可視化することが出来るため、配向性が特性に影響する材料の評価に有効です。...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ドイツ超高分解能小型ナノフォーカスCT diondo dsubµ 製品画像

    ドイツ超高分解能小型ナノフォーカスCT diondo dsubµ

    材料研究用の最高解像度のサブマイクロ CT システム コンパクトで最…

    【製品パラメータ】 X線管: 20-90kV、最大8ワット 検出器: 400 万ピクセル sCMOS 検出器解像度:6.50μm 空間分解能:0.30μm | 0.56μm | 1.40μm 光学倍率: 20x ...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • [SXES]軟X線発光分光法 製品画像

    [SXES]軟X線発光分光法

    SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法…

    ・試料中の特定元素(特にB,C,N,O等の軽元素)に着目した化学結合状態の評価が可能 ・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映 ・X線吸収スペクトル(XAS)との同時測定によってバンド構造の評価も可能 ・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい ・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能 ・検出下...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [XPS]X線光電子分光法 製品画像

    XPS]X線光電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

    XPSは、X線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis とも呼ばれています。 ・固体表面(約2~8nm)の元素の定性・定量が可能 ・化学結合...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 照明・光学解析受託サービス 製品画像

    照明・光学解析受託サービス

    照明器具などのデータから光学解析用モデルを作成。「照明Simulato…

    ピーク値、最小値、平均値 受光面に到達した全光線についての座標、傾き、エネルギー(CSVまたはテキスト形式) 数値データから等照度曲線 IESデータ テスト光線時の各面ごとの交点(位置: X, Y, Z 傾き-方向余弦- X, Y, Z)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベストメディア

  • 断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR 製品画像

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析ソフト ExFact V…

    ExFact VRはX線CTなどから得た断層画像を3次元構築し、2次元/3次元的に可視化するソフトウェアです。 ○業務や研究で三次元画像デバイスを使うユーザーの定型的な利用形態に着目。再生互換性が高く、質の高い多彩...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • 発熱解析による電子部品の故障箇所特定 製品画像

    発熱解析による電子部品の故障箇所特定

    故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…

    カメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ■サンプルを非破壊の状態で解析したり、OBIRCHや...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ドイツコンパクトマイクロナノ工業CTシステム diondo d1 製品画像

    ドイツコンパクトマイクロナノ工業CTシステム diondo d1

    最小および中サイズの分析と測定に最適 高性能透過型X線源の採用により…

    diondo d1 は、小型および中型部品の分析および測定用に特別に設計された高解像度マイクロ・ナノ CT システムです。 従来のシステムと比較して、d1 は高出力透過 X 線源を使用することで、同じ測定時間で最大 4 倍の分解能を達成でき、同じ分解能で測定時間を 1/4 に短縮できます。 非常に高い送信出力により、新エネルギー電池などの新エネルギー車両用途における困...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • [XRD]X線回折法 製品画像

    XRD]X線回折法

    XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

    XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。X線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます(散乱X線)。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。 格子面間隔をd、 X線の入射角をθとした場合、第1面と第2面の行路差(-)は 2d sinθ となります。行路差が入射X線の波長...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR 製品画像

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析ソフト ExFact V…

    『ExFact VR 2.0』は、X線CTなどから得られた断層画像を ボリュームレンダリングにより二次元/ 三次元的に可視化する 三次元断層画像可視化ソフトウェアです。 断面画像と立体画像、付加情報の対応関係が分かり易くレイ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • 金属の内部構造の確認に 産業用X線CTスキャナ 製品画像

    金属の内部構造の確認に 産業用X線CTスキャナ

    高分解能、高速画像処理が特長!

    ない!」など、そんな時には日本カタンがお役に立ちます。 当社は各種の試験設備・分析機器を大型の横型引張荷重試験機や疲労強度試験機などの試験設備をはじめとし、金属元素の分析機器、国内最大規模の産業用X線CTスキャン装置、金属摩耗試験機など、多種多様な試験設備を取り揃えております。 様々な分野のお客様にご利用頂くために、受託試験・分析業務を承っております。 詳細はお気軽にお問い合わせ下さい...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カタン株式会社

  • 振動試験の受託サービス(大型3軸同時加振試験/単軸加振試験) 製品画像

    振動試験の受託サービス(大型3軸同時加振試験/単軸加振試験)

    様々な波形を再現した振動試験・解析・評価を承ります。試験治具の設計・製…

    ●大型3軸同時加振試験装置 - 加振力:水平XY 169kN|垂直Z 163kN - 最大加速度:  無負荷時/水平X 4.6G|水平Y 6.0G|垂直Z 2.9G  2.5t搭載時/水平X 3.0G|水平Y 3.3G|垂直Z 2.0G...

    メーカー・取り扱い企業: エア・ウォーター防災株式会社

  • 蛍光X線装置による品質管理分析 製品画像

    蛍光X線装置による品質管理分析

    豊富な情報、経験、評価スキル!品質管理分析のご要望に対してトータルにサ…

    TTCが行う品質管理分析「蛍光X線分析」をご紹介いたします。 対象となるサンプルにX線を照射し、サンプルから発生した2次X線(蛍光X線)を測定し、 サンプル中の構成元素の定性分析や定量分析を実施。 TTCでは、分析の...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター

  • 走査電子顕微鏡-X線分析 製品画像

    走査電子顕微鏡-X線分析

    試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。

    走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope;SEM)は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型X線分析装置(EDS)も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析(ホウ素(B)~ウラ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社DJK

  • 技術情報誌 202201-01 X線CTを用いた微小液滴 製品画像

    技術情報誌 202201-01 X線CTを用いた微小液滴

    X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察で…

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察できる装置であり、CT(コンピュータートモグラフィ)測定することで三次元形態の観察も可能である。特に電子顕微鏡では困難な、液体と材料...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • ドイツ サブマイクロフォーカス工業CT diondo d5 製品画像

    ドイツ サブマイクロフォーカス工業CT diondo d5

    熱膨張率が低い花崗岩ステージ!2種類の検出器が搭載可能な高出力 X 線…

    diondo d5 は、性能、サイズ、機器の互換性を必要とするお客様向けに特別に設計されています。 高出力 X 線源と高解像度検出器を最大 9 軸の精密機械システムの組み合わせで、柔軟性とパフォーマンスの革新的な飛躍が可能になります。 ▪ さまざまな組み合わせが可能 特定の試験ニーズを満たすために最...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • X線CTスキャナ(受託) 産業用として国内最高レベル級の透過能力 製品画像

    X線CTスキャナ(受託) 産業用として国内最高レベル級の透過能力

    製品内部、実はこうなっているってご存知でしたか?製品の定期健康診断承り…

    体内部のX線吸収係数の程度により変調された透過データを多数収集し、コンピュータによって断面像を構成し画像表示するものです。 当社は厚さ80mmの鉄も透過!国内最高レベル級の透過能力を持つ産業用X線CTスキャナを配置! X線CT装置は、高分解能、高速画像処理が特徴であり、さまざまな物質で構成され、千差万別な形状をした製品の密度や構造の断面像が得られます。 【透過能力】 ◎鉄80...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カタン株式会社

  • EBSD/XRD による転位密度の評価 製品画像

    EBSD/XRD による転位密度の評価

    歪量の評価には EBSD や XRD (X-Ray Diffracti…

    転位には、結晶方位の変化を伴う GN転位 と結晶方位の変化を伴わない SS転位 が存在します。 EBSD ではGN転位 のみ、一方、 XRD では GN転位 と SS転位の両方を検出することができます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • 『産業用CTスキャン受託サービス』 製品画像

    『産業用CTスキャン受託サービス』

    内部解析、不良検査など幅広く対応。1点から対応可能。デモ施設も新オープ…

    当社では、電子部品や自動車部品、3Dプリント品、バッテリーなどの X線CT測定・解析を行う『産業用CTスキャン受託サービス』を提供しています。 樹脂や複合材、金属、セラミック、新素材など材質を問わず、 最少1点からご要望に合った測定をご提案。 試作品の...

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    メーカー・取り扱い企業: 日本ベーカーヒューズ株式会社&ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社  (旧)GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社 & GEエナジー・ジャパン株式会社

  • ドイツ 大型高出力 工業CTシステム diondo d4 製品画像

    ドイツ 大型高出力 工業CTシステム diondo d4

    高密度の中大型部品向けのコンパクトなコンピュータ断層撮影検査システム

    要なスペースが小さいため、既存の生産環境や研究室環境への統合が容易になり、プラグ アンド プレイの原理により、システムは設置後すぐに使用できるようになります。 ▪ 最大 600kV の高性能 X 線管  吸収性の高いサンプルでも十分な浸透力を発揮 ▪ コンパクトな設計  周辺機器も一体化してコンパクトなシステムを実現 ▪ 安定的な 3K 検出器  短い測定時間でより詳細な検出機能...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察)

    試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用で...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化 製品画像

    【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化

    FFTM法による格子像解析

    Fast Fourier Transform Mapping法は、高分解能TEM像をフーリエ変換し、FFTパターンのスポット位置から結晶の微小な格子歪みを解析、可視化する方法です。FFTM解析により、(1)画像のx, y方向の格子歪みの解析、(2)結晶面方向の格子歪みの解析、(3)結晶面間隔分布、結晶面方位分布の解析、(4)データ分布のヒストグラム表示、(5)空間分解能5nmで0.5%の歪の検出、...

    • InGaP_GaAs多層膜の高分解能TEM像.png
    • FFTサイズの設定.png
    • FFTパターン.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】MSDMについて 製品画像

    【分析事例】MSDMについて

    TOF-SIMS:飛行時間型二次イオン質量分析法

    TOF-SIMSの深さ方向分析では平面上の位置情報(x,y)を無視すると、各深さ(z)で質量スペクトルが存在するため、深さ・質量・スペクトル強度の3次元データが得られます。この3次元データを1枚の画像として可視化したものが、MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)表示です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ドイツ 万能型サブマイクロフォーカス工業CT diondo d2 製品画像

    ドイツ 万能型サブマイクロフォーカス工業CT diondo d2

    小型および中型部品の分析および測定用に特別に設計された万能型サブマイク…

    準を打ち立てています。 ▪ 高解像度 3D 解析 低密度材料から完全なアセンブリまでの 3D 解析 ▪ オプションのデュアルチューブ構成 最大 300kV のマイクロおよびナノ焦点 X 線管の組み合わせにより、優れた透過性と高精度の解像度を実現 ▪ 多軸花崗岩機械システム 光線焦点と検出器の間の距離を自由に調整して、最適な解像度のイメージングを実現できます。 ▪ さ...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

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