膜厚測定　総合カタログ

フィッシャーの製品ラインは、極めて様々なアプリケーションと様々な業界を対象とした、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。最適の精度で正しい結果を得るために、それぞれにふさわしい測定方法を使用します。電磁式または渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さ法（インデンテーション）、あるいは蛍光X線式など、いずれの方式でもフィッシャーは適正な技術を持ちベストなソリューションをご提供いたします。 （詳細を見る）

膜厚測定の原理では、電磁式・渦電流式・渦電流位相式・ホール効果磁気式・電気抵抗式・蛍光Ｘ線式・電量分析式（電解式）など測定物に合わせた様々な膜厚測定の原理をご紹介します。

【測定の対象】
■磁性金属（鉄、鋼など）素地上の非磁性皮膜（メッキ、ペイント、樹脂膜など）
■非磁性金属（アルミ、銅、オーステナイト系ステンレスなど）素地上の絶縁皮膜（塗膜、樹脂膜、アルマイトなど）
■Fe上のZn、Cu、Al、Niメッキの膜厚
■非鉄金属、鉄、絶縁材上のペンキ、プラスチック、セラミックコート
■亜鉛メッキ鋼板上のZnを含む有機系コーティング
■金属、非導電性基板上の金属皮膜
■Al上のNiメッキ　　　など

※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。
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電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際に、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料です。

【影響を与える要素】
■素地材の磁気的特性
■素地材の電気的特性
■素地材の厚さ
■測定エリア面積
■曲率
■表面粗さ
■その他、

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