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最終更新日:2017-11-03 18:00:36.0

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  • カタログ発行日:2012/8/27

走査電子顕微鏡(SEM)による受託サービスカタログ

基本情報走査電子顕微鏡(SEM)による受託サービスカタログ

SEMによる高倍率での表面形態観察、微小領域の元素分析を実施します。

走査電子顕微鏡(SEM)を用いて、試料の表面の高倍率形態観察を実施致します。
SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。
またSEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。
JTLでは、SEMによる観察・分析の前後に必要な工程である、評価試験や断面研磨、寸法測定等のサービスも合わせて受託を行っております。

走査電子顕微鏡観察の受託サービス|JTL

走査電子顕微鏡観察の受託サービス|JTL 製品画像

走査電子顕微鏡観察サービスでは、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。
SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡(SEM)より高倍率での観察が可能で、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。また、SEM/FE-SEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。
JTLでは、SEM/FE-SEMによる観察・分析の前後に必要な工程である、評価試験や断面研磨、寸法測定等のサービスも合わせて受託致します。 (詳細を見る

受託観察・分析サービス|JTL

受託観察・分析サービス|JTL 製品画像

断面研磨、表面・断面観察、非破壊検査、元素分析、化学分析をサービスの中心として、解析目的に合った各種の観察・分析方法をご提案いたします。

■解析目的に合った観察・分析方法をご提案
試料の材質・状態、解析の目的など各種の条件によって、観察・分析の方法にも選択肢が数多く存在します。その選択肢の中からより適切な方法をご提案いたします。

■短納期・低価格のご対応
観察・分析のアウトソーシングサービスに求められるのは品質はもちろんのこと、スピードと価格も重要であると考えます。業界の標準的な納期・価格に対して、JTLでは更なる短納期化・低価格化を実現しました。 (詳細を見る

表面元素分析装置による受託サービス|JTL

表面元素分析装置による受託サービス|JTL 製品画像

表面元素分析装置による分析サービスは、表面元素分析の中でもEDX(エネルギー分散型X線分析法)とWDX(波長分散型X線分析法)による分析を主としています。
分析目的、対象元素、試料状態、試料に与える影響等から分析装置・方法を選択して、ご依頼内容に対して最適なデータを提供致します。
異物の成分分析、未知試料の組成分析、合金層における各元素の分布状態の確認、付着物のカラーマッピング、鋼材の材料判別、有害物質の定量分析など、試料調整(試料の切断・研磨・蒸着等)を含めた各種の元素分析のご対応が可能です。 (詳細を見る

取扱会社 走査電子顕微鏡(SEM)による受託サービスカタログ

JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

●計測領域 製品の精密寸法測定に関わるあらゆるニーズに対し、受託専門機関ならではの幅広い知識・設備力で対応します。 ●試験領域 治具作製から試験前準備、規格・特殊試験にわたりR&Dに関わる信頼性試験をワンストップで対応します。 ●分析領域 解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。

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