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最終更新日:2018-04-23 13:03:23.0

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  • カタログ発行日:2012/8/28

X線透過観察の受託サービスカタログ

基本情報X線透過観察の受託サービスカタログ

X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。

X線透過観察サービスでは、X線での非破壊観察により試料の内部構造を観察・検査・計測を行うことができます。電子部品や実装部品などの不具合解析によく用いられる手法です。
JTLでは、電子デバイスの他に各種素材、部品・製品形状の試料について、内部構造観察から不具合の多数個検査まで幅広いニーズにご対応します。

X線透過観察サービス|JTL

X線透過観察サービス|JTL 製品画像

【最小焦点寸法:0.25μmでの高分解能観察】
焦点寸法が最小で0.25μm(理論値)であるため、数ミクロン~数10ミクロンオーダーでの高分解能観察を行うことが可能です。

【X線管電圧:30kV~160kVの幅広い透過力】
X線管電圧が30kVから160kVまでと装置によってX線の透過力が異なり、試料のサイズ・評価目的に応じた幅広い観察に対応しております。

【多方向からの観察】
検出器(I.I.管)は最大70°まで傾動、サンプルを中心に360°回転するため、高倍率を損なうことなく多方向からの観察が可能です。

【多数個サンプルの自動検査が可能】
大型テーブルと自動撮影プログラムを使用することで、多数個サンプルの自動撮影、不具合品の選別などの検査が可能です。

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受託観察・分析サービス|JTL

受託観察・分析サービス|JTL 製品画像

断面研磨、表面・断面観察、非破壊検査、元素分析、化学分析をサービスの中心として、解析目的に合った各種の観察・分析方法をご提案いたします。

■解析目的に合った観察・分析方法をご提案
試料の材質・状態、解析の目的など各種の条件によって、観察・分析の方法にも選択肢が数多く存在します。その選択肢の中からより適切な方法をご提案いたします。

■短納期・低価格のご対応
観察・分析のアウトソーシングサービスに求められるのは品質はもちろんのこと、スピードと価格も重要であると考えます。業界の標準的な納期・価格に対して、JTLでは更なる短納期化・低価格化を実現しました。 (詳細を見る

分析サービス|JTL

分析サービス|JTL 製品画像

精密研磨やイオンミリング、FIBなどによる高度な試料調整から、SEMやEPMAなどを用いた観察分析まで一貫して対応しています。
また、SATやX線CTによる非破壊の内部構造観察も対応可能です。化学分析では、FT-IRやICP、GC、HPLCなどによる対象成分の各種分析を行います。 (詳細を見る

取扱会社 X線透過観察の受託サービスカタログ

JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

●計測領域 製品の精密寸法測定に関わるあらゆるニーズに対し、受託専門機関ならではの幅広い知識・設備力で対応します。 ●試験領域 治具作製から試験前準備、規格・特殊試験にわたりR&Dに関わる信頼性試験をワンストップで対応します。 ●分析領域 解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。

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