技術資料【膜厚計の基礎知識　膜厚測定の原理】

膜厚測定の原理では、電磁式・渦電流式・渦電流位相式・ホール効果磁気式・電気抵抗式・蛍光Ｘ線式・電量分析式（電解式）など測定物に合わせた様々な膜厚測定の原理をご紹介します。

【測定の対象】
■磁性金属（鉄、鋼など）素地上の非磁性皮膜（メッキ、ペイント、樹脂膜など）
■非磁性金属（アルミ、銅、オーステナイト系ステンレスなど）素地上の絶縁皮膜（塗膜、樹脂膜、アルマイトなど）
■Fe上のZn、Cu、Al、Niメッキの膜厚
■非鉄金属、鉄、絶縁材上のペンキ、プラスチック、セラミックコート
■亜鉛メッキ鋼板上のZnを含む有機系コーティング
■金属、非導電性基板上の金属皮膜
■Al上のNiメッキ　　　など

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高機能・高性能なハンディー型膜厚計『DMPシリーズ』は、電磁式と渦電流式、または両方式を搭載した非破壊式で高精度な膜厚計です！

種類豊富な高精度測定プローブと組み合わせ、様々な形状のサンプルに対応します。
　
【特長】
■電磁式（磁性金属上の非磁性皮膜を測定）、渦電流式（非磁性金属上の絶縁皮膜を測定）、またはその両方式
■下地材料とプローブタイプを自動認識
■簡単なワンハンドオペレーション
■USB Type-CまたはBluetoothによるPC接続（Bluetoothは上位機種のみ）
■種類豊富な高精度プローブ（Fプローブアダプターを装着することで従来のFMPシリーズのプローブも使用可能）
■デジタルプローブ搭載

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