株式会社アルネアラボラトリ
最終更新日:2018-03-30 17:38:07.0
Siウェハ厚み測定器「SIT-200」
基本情報Siウェハ厚み測定器「SIT-200」
シリコン基板の厚みを高感度でリアルタイム測定
Siウェハ厚み測定器は、精密に発振波長を制御された波長可変光源、集光センサー、受光器(PD)から構成されております。
集光センサーからの光を測定サンプルの表面および裏面で反射させ、再び集光センサーを通ってPDで干渉波を発生させてサンプルの厚みを測定致します。
Siウェハ以外にも様々な対象物で応用可能です。
ご質問、ご相談等お気軽にお問合わせください。
Siウェハ厚み測定器「SIT-200」
Siウェハ厚み測定器は、精密に発振波長を制御された波長可変光源、集光センサー、受光器(PD)から構成されております。
集光センサーからの光を測定サンプルの表面および裏面で反射させ、再び集光センサーを通ってPDで干渉波を発生させてサンプルの厚みを測定致します。
Siウェハ以外にもご相談承ります。
詳しくはカタログをダウンロードまたはお問合せ下さい。
【特長】
・干渉計測のために高純度の波長可変光源を高速掃引
・波長掃引方式のため、高感度測定が可能 (詳細を見る)
取扱会社 Siウェハ厚み測定器「SIT-200」
株式会社アルネアラボラトリは、カーボンナノチューブ技術を基盤とした超短パルスレーザや光サンプリング技術を基盤とした光サンプリングオシロスコープなど、世界に先駆けた技術を開発し独自の製品を生み出しています。当社の主な製品と致しましては、光測定器、レーザー、光増幅器、BERT、光フィルタなどの光通信分野を中心とした事業のほか、センサー事業やレーザーを用いた工業用非接触3次元形状測定器など、新たな分野にも独自の技術を用いた製品の開発を進めております。光技術以外にも高周波回路技術やアナログ/デジタル回路技術、ソフトウェア技術などを専門としたエンジニアを揃え多種多様なお客様のご要望にお答えすることが出来る体制を整えており、皆さまにご満足頂ける様な新たな製品やシステムを提供しています。 多くの製品を日本で開発・製造しており、高品質で安心な性能保証と素早い対応でご要望にお応え致します。
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