高電圧絶縁信頼性評価装置『HVUαシリーズ』

数十nsecの高速検出回路を全chに搭載！低ノイズ計測可能なテスター

『HVUαシリーズ』は、J-RAS株式会社製の高電圧絶縁信頼性評価装置です。
数十nsecの高速検出回路を全CHに搭載し、より進化した信頼性試験を実現します。

100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出。
CH個別電源搭載＆CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能です。

機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し。
トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現します。

【特長】
■100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出
■CH個別電源搭載＆CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
■短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従
■専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
■5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。