積層プローブ　解説資料

積層プローブは、プローブが１つのパーツである為、構造的に導電ロスがなく、電流値をダイレクトに測定する事ができ、安定した接触抵抗値が実現できます。
また、最小ピッチ0.05ｍｍに対応可能なため、狭ピッチを利用したケルビン測定も可能で安定した測定が出来ます。

積層プローブの優れた特性は、狭ピッチにプローブを配置するだけでなく大電流を印加するパワー半導体のプローブとしても性能を発揮します。

【特徴】
■接触抵抗値が安定しているため精密な測定に威力を発揮
■大電流、高電圧に対応できるのでパワー半導体への印加、測定に貢献
■狭ピッチに対応できる　※最大0.05ピッチまで可能
■コンタクトする荷重を調整できる

【事例】
◎狭ピッチかつ多点でコンタクトする
◎BGAに確実にコンタクトができケルビン測定で安定した測定ができる
◎半田メッキのリードフレームに安定してコンタクトできる
◎狭スペースに対応出来る（LED検査装置向け）

※ＰＤＦからは、事例のご紹介をご覧いただけます。
　詳しくはお気軽にお問合せください。 （詳細を見る）

インクスの積層型プローブの特長についてご紹介します。

半積層型プローブは、一枚の金属板でコンタクトするので、構造的に
安定した接触抵抗で測定できます。

また、熱によるバネ性の劣化に強く、大電流、高電圧を印加する
パワー半導体の測定に適しています。

狭ピッチに配列された接点や、半導体のリード部、コネクターの接点などに、
最大0.05ピッチまでコンタクトする事ができます。

さらに、プローブ本体の形状と、補助用のV字型板バネの厚みを変化させる事で、
高荷重から低荷重まで無段階に調整する事が可能です。

【特長】
■接触抵抗値が安定（精密な測定に威力を発揮）
■大電流、高電圧に対応（パワー半導体への印加、測定に貢献）
■狭ピッチに対応（最大0.05ピッチまで可能）
■コンタクトする荷重を調整可能（測定物の個性に合わせたコンタクト）

※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『積層プローブ小冊子』では、積層プローブの優れた特長を一般的なスプリングプローブと比較しながらご紹介。
「接触抵抗値が安定しない」「狭ピッチ対応のプローブを探している」「大電流・高温下で測定をしたい」「耐久性の優れたプローブはないか」等の問題はございませんでしょうか？
インクスの『積層プローブ』では、これらの問題が解決可能です！

【掲載内容】
■積層プローブの構造
■積層プローブの特長
■積層プローブQ&A　　など

※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。 （詳細を見る）