株式会社エフケー光学研究所
最終更新日：2010-06-23 15:52:28.0
G10検査装置 カタログ
基本情報G10検査装置 カタログ
G10検査装置 カタログ
高精度なXYステージ上に吸着された液晶基盤のパターン形状を計測する装置です。
液晶基盤検査装置 G10検査装置
高精度なXYステージ上に吸着された液晶基盤上に付着した微細異物を検出する装置です。
【特徴】独自照明を考案し、不感帯を無くしノイズを極力除去しました。
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取扱会社 G10検査装置 カタログ
透過型位相シフトレーザー顕微干渉計測装置（自社開発製品） レーザー光による非破壊的細胞診断技術開発（公的プロジェクトにかかる技術開発） 液晶基板検査装置 観察/監視工業用ファイバースコープ（特殊環境下用） 観察/計測用光学応用機器 医用光学応用機器 光通信用測定機器 画像処理用レンズ 特定仕様対物レンズ 上記製品にかかわる設計/開発/製造業務 及び付帯する周辺機器等の設計/開発/製造業務 平成２９年度埼玉県新技術・製品化開発費補助金 マ八ツェンダ型干渉計を利用した細胞検査装置の製品化開発
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