シエンタ オミクロン株式会社
最終更新日：2018-05-29 13:40:35.0
DA30-L （光電子アナライザー）
基本情報DA30-L （光電子アナライザー）
ARPES分析アナライザーの紹介
ARPES分析アナライザーのご紹介です。
【特長】※英文
●30° degrees full cone acceptance without sample rotation
●Spin-resolved MDC without sample rotation
●Patented (WO2013/133739)
●Improved ky accuracy (resolution better than 0.1º)
●Time saving (electronic deflection is faster than rotation)
●Matrix element effects are avoided by keeping sample fixed
●Manipulator requirements are reduced
●Ensures same spot for all k//
※詳細はお問い合わせいただくか、PDF資料をダウンロードしてください。
DA30-L （光電子アナライザー）
ARPES分析アナライザーのご紹介です。
【特長】※英文
●30° degrees full cone acceptance without sample rotation
●Spin-resolved MDC without sample rotation
●Patented (WO2013/133739)
●Improved ky accuracy (resolution better than 0.1º)
●Time saving (electronic deflection is faster than rotation)
●Matrix element effects are avoided by keeping sample fixed
●Manipulator requirements are reduced
●Ensures same spot for all k//
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