粒度分布・ゼータ電位測定器　総合カタログ

『AccuSizer A9000/FX-nano Dual』は、
0.15μmからの測定ができる、個数カウント式粒度分布測定器です。

新開発FX-Nanoセンサーを用いることにより、0.15μmからの測定が可能。
測定可能粒子数濃度の増加により、バックグラウンド粒子の影響を減少させ、測定下限をより低いサイズにすることを可能にしました。

微細粒子の分散やエマルション等々コロイド分散系の安定性に関する定量的情報を提供することができます。

【特長】
■新開発FX-Nanoセンサーで、0.15μmからの測定が可能
■測定可能粒子数濃度の増加により、バックグラウンド粒子の影響を減少させ、測定下限をより低いサイズにできる
■従来のLEセンサーと併用し、0.15～150μmのワイドレンジで測定可能
■複雑な混合サンプルも高精度で測定可能
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『AccuSizerシリーズ』は、光学的検知方式（Single Particle Optical Sensing：SPOS法）より、レーザーセンサーを通過する全ての粒子のサイズとその個数を計測し、粒度分布を測定する理想的な粒子個数及び粒度分布測定器です。

センサーを通過する個々の粒子から発生するパルス数から粒子個数を、パルス高さから粒子径を測定するため高分解能な測定結果を得ることができます。
光散乱方式と光遮蔽方式の２つの異なった原理の検出方式を併用できるユニークな光学的機構を採用したため、サブミクロンからの広範囲な測定を可能にしました。

希釈溶媒は電気抵抗式で使用されるような電解液である必要はなく、水から有機溶媒まで幅広い溶媒に対応できます。

【特長】
■粒子定量（counts/mL）が可能
■僅かな粒度分布の変化に対応
■希釈液を自由に選択可能
■自動希釈装置の採用

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『CHDF-4000』は、粒子をサイズごとに分級することにより、粒度分布を測定する画期的な装置です。

一般的に光散乱を用いた原理の場合、粒子径が大きいほど光散乱強度が大きくなり、多分散系のサンプルでは非常に解析が複雑になり、分布の広いサンプルの正確な粒度分布測定は期待できなくなります。
そこで、粒子を大きさごとに分級することにより、多分散系のサンプルをより正確にかつ高分解能に測定することが可能となります。

【特長】
■卓越した高分解能
■広い粒度分布を持つサンプルにも好適
■粒度分布の形状を仮定せず

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『ZA-500／Zeta-Finder』は、ESA 法によりサンプルを希釈することなく、ゼータ電位を測定する測定器です。
アプリケーションによりノンレゾナント式のZA-500とレゾナント式のZateFinderを選択できます。

固定条件でゼータ電位を測定するシングルポイントモード、ゼータ電位の時間変化を観察するタイムシリーズモードなど、4種の測定方法があります。

【特長】
■短時間測定の実現
■攪拌測定の実現
■水系・溶剤系に対応
■自動電位差滴定による等電点測定

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「APS-100」は、は超音波の減衰率を測定することにより、濃厚系サンプルの粒度分布を計測します。
サンプルを希釈することなく、撹拌またはポンプ循環しながら、広い粒子径範囲（10nm～100μm）の測定ができます。

「Zeta-APS」は、APS-100 にZeta Acoustic（ESA）の機能を付加した粒度分布/ ゼータ電位測定両用機です。
一度のサンプルセットで粒度分布、ゼータ電位の両方を自動測定できます。

【特長】
■サンプルの希釈が不要
■ワイドダイナミックレンジの実現
■粒度分布の形状を仮定せずに測定
■水系・溶剤系に対応
■攪拌、循環系での測定対応

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『MFI 5100／5200』は、Micro Flow Imaging（MFI）技術を用いて、液中に分散している粒子の大きさと粒子個数や透過度、円形度、アスペクト比などの粒子形態パラメーターも測定します。

検出効率と定量機能に優れ、透過度の高いSub-Visible領域の蛋白質凝集体等の粒子も検出し、且つ1mLあたりの粒子個数分布を容易に計測することが可能です。
サンプルの導入部はピペットチップを用いることが可能で、微量分析にも対応しています。
また、オプションのオートサンプラーを用いることにより全自動測定も可能です。

【特長】
■粒子定量（counts/mL）が可能
■絶対個数粒子径分布を表示可能
■透明性の高いサンプルにも適応
■粒子画像のリアルタイム表示
■フィルター機能による検出粒子の識別

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『Nicomp Nano 3000シリーズ』は、動的光散乱法（DLS）による粒度分布測定と電気泳動光散乱法（ELS）によるゼータ電位測定を、一台で迅速かつ簡単に行えます。
粒度分布測定においては、高出力レーザーと高感度検出器の組合せにより、シングルナノ粒子からの測定を実現させます。

ゼータ電位測定においては静止層へ光学的調整が一切不要な構造を採用しているため、どなたでも簡単にゼータ電位を測定することができます。
また、PALS 測定機能は高塩濃度条件化でのゼータ電位測定範囲を一層広げられます。

粒度分布、ゼータ電位測定共に共通の角型使い捨てセルを使用できますので、汚れの影響を受けず、またサンプル調整をし直すことなく両方の測定が可能です。

【特長】
■優れた再現性
■高速演算プロセッサの搭載
■静止層の焦点合わせの不要（ゼータ電位）
■使い捨てセルの採用

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