半導体検査機器【ICソケット・プローブカード】紹介カタログ

電気検査に使用するコンタクトプローブ、
半導体ウエハ検査用プローブカード・ICソケットを取り扱う
株式会社精研の半導体検査機器のご紹介です。

標準品から特殊仕様品にも対応した「コンタクトプローブ」をはじめ、
用途に合わせたハウジング材料での構成が可能な「ICソケット」、
微細加工技術による狭ピッチをはじめ、様々な検査条件に対応した「プローブカード」をラインアップしています。

検査条件の例
・狭ピッチに対応（MIN P=80μ）
・大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査)
・非磁性検査（磁性を持たない材質で製作するプローブ）

長年培ってきた技術を活かし、より効率的な検査環境を提供すること、
より細かいご要望に応えられるよう、開発を続けております。
製品概要を資料にてご紹介をしております。

【掲載内容】
■はじめに
■製品・技術のご紹介（コンタクトプローブ）
　・新製品技術のご紹介
■技術紹介（ICソケット、プローブカード）
■その他各種製品・サービス（精密加工他）

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

世の中には多種多様の電子部品があふれております。
規格化されたものユーザー様ごとの独自形状など千差万別です。
そして電子部品の形状が違えば、検査においてプローブを当てる電極の位置やサイズなども違ってきます。

さらにユーザー様での測定方法もマニュアルで行う、ハンドラーで自動化されているなど条件が変わってきます。

そういった条件を全て踏まえた上でプローブの形状やブロックの材質などを精査してユーザー様の検査環境にマッチしたピンブロックを作り上げていきます。
極論から申し上げれば精研はプローブを使ってコンタクトさせるものなら何でもやっている会社です。

電子機器の構成において、コネクタは欠かせないものです。 （詳細を見る）

当社 は、その品質保証に不可欠な検査機器を開発/設計してきたメーカーです。
1984年の創業・創立以来、プローブピン、及びその応用製品である
各種検査冶具を専門メーカーとして製造・販売を開始。

その後、プローブカードやICソケットをはじめとする半導体部品検査冶具、
液晶パネル検査冶具等、様々な市場でユーザ様のご要望に応えて参りました。

業界のリーディングカンパニーとして長年“精錬”し、“研鑽”してきた
精密加工・組立技術。時代の変化に追従し、『TOTAL TEST SOLUTION』の精研として、
これからもユーザ様のよきパートナーとして様々な製品、サービスで検査業務における課題の克服に取り組んで参ります。

　また、近年は弊社製品を作る上で積み上げてきた技術やノウハウを
EMS事業と言う形でもユーザ様へご提供しております。

独自のスキルはもちろんのこと、協力会社や関係会社とユーザ様との
マッチングによりモノづくりにおける様々なサポートもさせて頂いております。

　精研は、常にチャレンジし、新たな価値を生み出し、日本のモノづくりの未来を拓きます。 （詳細を見る）

半導体検査用プローブは測定環境に合わせて選定が可能です。

・弊社独自の合金材料を用い、PBフリーへのコンタクト性を高めたプローブ
・熱の影響による荷重低下を避ける特殊バネを採用した耐熱プローブ
・磁気センサー部品の検査にも使用可能なハイレベルな非磁性材料プローブ
・信号伝送特性を最大限向上した短尺高周波プローブ

ユーザ様の様々なご要望にお応えします。

【特長】
■長年の実績に裏付けられた優れた品質
■豊富なラインナップ
■測定対象デバイスに合わせプローブ先端材質・表面処理・先端形状等、各種選定可能
■標準仕様以外にも全長・先端径・バネ圧の任意設定が可能な、特殊仕様品にも対応

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧ください （詳細を見る）

当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・
ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。

☆コンタクトプローブ☆
標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。

☆プローブカード・ICソケット☆
樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、
検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。

【対応例】
◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作）
◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作)
◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作）
◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など

【製品例】
＜コンタクトプローブ＞
・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」
・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」
＜ICソケット＞
・非磁性対応ソケット
・高耐熱対応ソケット
＜プローブカード＞
・min80μピッチ対応プローブカード
・大電流負荷試験プローブカード

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 （詳細を見る）

当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。

▼コンタクトプローブ
標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。

▼プローブカード・ICソケット
樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、
検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。

【対応例】
◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作）
◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作)
◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作）
◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など

【製品例】
▼コンタクトプローブ
・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」
・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」
▼ICソケット
・非磁性対応ソケット、高耐熱対応ソケット
▼プローブカード
・min80μピッチ対応プローブカード
・大電流負荷試験プローブカード

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 （詳細を見る）