プレシテック・ジャパン株式会社
最終更新日:2022-03-30 15:42:36.0
非接触式センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』
基本情報非接触式センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』
ドープウェハー測定に好適!非接触式で高精度・高分解能の安定性を実現!
『CHRocodile 2DWシリーズ』は、非接触でSi、SiCの厚み測定が
簡単に行えます。
サファイア等半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、
太陽電池等の厚み測定やドープウェハー測定に適しています。
干渉膜厚最大16層まで対応可能。対象物の傾きにも測定可能な
角度特性を実現しました。
【特長】
■非接触式
■高精度・高分解能の安定性を実現
■70,000Hzの高速サンプリング→R&Dからインラインに対応
■スポット径が小さく、分解能が高い測定が可能
■長い測定レンジで加工中、加工前後がこれ1台で可能
【用途・測定項目・メリットなどキーワード】
非接触、光センサ、光学センサ、分光干渉法、厚み、薄膜、厚膜、ギャップ、形状、計測、測定、検査、高速、高精度、インライン、モニタリング、In-Situ、加工中、加工前後、研磨、半導体、ウエハ、ウエハ貼あわせ、Siウエハ、Si, GaAs, InP, SiC, LiNbO3(LN), LiTaO3(LT), GaN, SiP、Al2O3(サファイア)、ドープウエハ、不純物ウエハ、透明、透明体、光沢、鏡面、簡単
厚み測定 - 光学センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』
『CHRocodile 2DWシリーズ』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。ドープウエハ測定にも対応でき、インラインでも適用可能で、多くのお客様へ実績があります。サファイア、Si、SiC等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。干渉膜厚最大16層まで対応しています。
【特長】
■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応
豊富なプローブラインナップで、厚みは薄膜(数um)~厚膜(780um)までカバー。ドープウエハ対応。
■高分解能(サブミクロン 最小1nm)
■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、
装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意
■半導体業界で豊富な実績
※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 (詳細を見る)
プレシテック社 非接触センサメーカーのご紹介
プレシテックはドイツの非接触センサメーカーです。高速・高精度な厚み測定、形状測定を得意としており、
ウエハ厚み、エッジ形状、高さ測定、平坦度の測定・検査などに使用されています。
幅広い測定範囲 、許容角度、様々な材質に対応でき、全面測定に向いているラインセンサ、エリアスキャナもあります。
半導体製造装置への搭載実績も多数あり、LCD製造装置、フィルムのインライン検査でも使用されています。
また、スタンドアロンなどの卓上機の組み込み用センサとしても利用されています。
【アプリケーション】
ウエハ加工(研磨など)前後、加工中の厚み測定、フィルム、コーティング厚み測定、
ガラスウエハ肉厚検査、ウエハエッジ形状、TTV、平坦度、ワイヤボンディング形状、
マイクロバンプ形状、溶接部形状、PCB形状、CMMへ搭載しての非接触距離センサ、
バッテリー用フォイル厚み、ガラス厚み、エアギャップなど
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
取扱会社 非接触式センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』
■レーザ加工関連 - 加工ヘッド - 溶接ヘッド - プロセスモニター ■光学センサ <距離・形状、厚み測定> ・色収差共焦点 CHRocodileシリーズ - シングルポイント 2S/2SE:高精度 2HS:ハイパワー - デュアルポイント 2DPS - 廉価版シングルポイント C:プローブと一体 Mini:プローブと別体 - ラインセンサ CLS:低クロストークノイズ CLS2.0:長いライン長・広測定範囲 CLS2 PRO:長いライン長・角度許容度高 ・分光干渉CHRocodileシリーズ - シングルポイント 2IT:高精度 2DW:ドープウエハ対応 2RW:粗ウエハ対応 2SX:加工モニタリング用広測定範囲 ・分光干渉センサ用エリアスキャナ Flying Spot Scanner:Φ40~310mm *CHRocodileシリーズと組合わせ <厚み測定> レーザーフォトサーマルセンサ Enovasenseセンサ:不透明体の非接触測定
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