AFM/SPM関連製品カタログ

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用の校正グレーティングです。
校正の種類や評価に応じて、適切なグレーティングをご選択頂けます。
装置の校正作業の他、学生実験などのテスト測定にもご使用頂けます。

・Z軸校正
・X軸またはY軸の1軸校正
・スキャナーの水平または垂直校正
・ノンリニアリティの検出
・ヒステリシスの検出
・クリープの検出
・角変形の検出
・クロスカップリングエフェクトの検出
・AFM/SPMプローブのティップの形状と鋭さの評価
・ティップの劣化・汚染防止 （詳細を見る）

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のテストサンプルです。
学生実験や、AFM/SPMの動作確認や設定調整などにご使用頂けます。

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原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。
広範囲の用途にお使い頂けます。
反射コート付き(Au、Al)で高感度測定が可能で、カンチレバー形状、共振周波数および力定数が異なる多くの型番からサンプルに適したものをお選び頂けます。
導電性コーティング(Au、Pt、TiN、W2C)・磁気コーティングの他、裏面コーティングのないベアプローブも提供可能です。

・ゴールデンプローブ
： Au反射コートで曲率半径(6nm, typical)の優れたプローブ

・ETALONプローブ
： 共振周波数・力定数の公差が抑えられた安価なプローブ。チップ両端に異なる種類のカンチレバーあり。

・TOP VISUALプローブ
： カンチレバーの先端の位置が真上から観察できる、飛び出し型のプローブ。サンプル表面上の正確な位置決めが可能。 （詳細を見る）

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。
ティップにダイヤモンドコーティング処理や、ティップ自体が単結晶ダイヤモンドの、高安定・耐摩耗性・高耐久性を持つ長寿命プローブです。

●ダイヤモンドコートプローブ
・DCPシリーズ
： 窒素ドープされたダイヤモンドコーティングにより、導電性を持つプローブ。

・HA_DCPシリーズ
： チップ両端にカンチレバーがあり、ダイヤモンドコーティングされた2種類の異なるティップをもつプローブ。

●単結晶ダイヤモンドプローブ
・DEPシリーズ
： 単結晶ダイヤモンドにホウ素ドープのダイヤモンドコート処理された導電性を持つプローブ。

・DRPシリーズ、DPRSシリーズ
： 高い機械的負荷やスクラッチテストといったアプリケーション用に作製されたプローブ。

・FDシリーズ
： サンプル表面の静電気に鈍感なため、アプローチしやすく、トポグラフィイメージングに適したプローブ。 （詳細を見る）

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。
ティップ先端に長いエクストラティップを持つプローブです。通常のティップでは入り込めなかった深い溝や、測定の困難な垂直な側壁を有するサンプルの測定に有効です。

・Whiskerプローブ
： ティップ先端に、10°または20°の傾斜角度で延伸したエクストラティップを持つプローブ。サンプルに垂直になるように角度を選択可能です。

・PHAプローブ
： ドリルのような細長い形状のエクストラティップを持つプローブ。 （詳細を見る）

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。
ティップ先端に極細のDLCティップを伸長させたプローブと、ティップを2 nm程度まで先鋭化させたプローブの2種類を用意しています。

・スーパーシャープDLCプローブ
： ティップ先端に曲率半径< 3 nm程度のDLCティップを備えたプローブ。DLCのため、高耐久性・長寿命を誇ります。

・スーパーシャープSSプローブ
： ティップ先端を曲率半径2nm程度まで鋭くしたプローブ。 （詳細を見る）

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブです。
チップレスカンチレバーにサイズ較正された球状粒子を固定したコンタクトモード用プローブで、2つの表面間のコロイド相互作用の研究や相互作用特性の定量化に使用されます。

●用途
・直接表面力測定
・単一粒子 - 粒子レベルでのコロイド相互作用
・細胞力学の直接測定
・接着力測定
・粒子と表面間のコロイド相互作用の研究 （詳細を見る）